[發(fā)明專利]使用通過經(jīng)驗(yàn)修改的參考規(guī)范的高強(qiáng)度振動(dòng)測(cè)試及其方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202080019231.0
• 申請(qǐng)日: 2020-01-21
• 公開（公告）號(hào): CN113748325A
• 公開（公告）日: 2021-12-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: M·安德伍德
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: M·安德伍德
• 主分類號(hào): G01M7/02
• 分類號(hào): G01M7/02;G01M7/08;G01N29/04;G01N29/34;G01N29/36;G01N29/46
• 代理公司: 北京市鑄成律師事務(wù)所 11313
• 代理人: 王艷波;吳東亮

1.一種振動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其包括：

至少兩組獨(dú)立可控的振動(dòng)換能器和至少兩個(gè)控制傳感器換能器；

控制器，其聯(lián)接到所述至少兩組獨(dú)立可控的振動(dòng)換能器和至少兩個(gè)控制傳感器換能器，其中所述控制器配置為：

利用預(yù)定初始參考規(guī)范或先前修改的初始參考規(guī)范，在明顯低于全面測(cè)試水平下，使用MIMO控制來運(yùn)行振動(dòng)預(yù)測(cè)試，以及

在明顯低于全面測(cè)試水平的所述振動(dòng)預(yù)測(cè)試期間，基于實(shí)際系統(tǒng)性能來創(chuàng)建修改的參考規(guī)范。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的振動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述控制器配置為：利用所述先前修改的初始參考規(guī)范來運(yùn)行所述振動(dòng)預(yù)測(cè)試，其中通過手動(dòng)修改所述預(yù)定初始參考規(guī)范來獲得所述先前修改的初始參考規(guī)范，以便在明顯低于全面測(cè)試水平的所述振動(dòng)預(yù)測(cè)試期間，基于實(shí)際系統(tǒng)性能來創(chuàng)建所述修改的參考規(guī)范，并且其中所述控制器進(jìn)一步配置為使用所述修改的參考規(guī)范來運(yùn)行振動(dòng)測(cè)試，其相比于使用通過使用未修改的預(yù)定初始參考規(guī)范獲得的修改的參考規(guī)范來運(yùn)行振動(dòng)測(cè)試需要更少的所需的系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)動(dòng)力。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的振動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述控制器進(jìn)一步配置為：在給定相同的測(cè)試設(shè)施和測(cè)試條件的情況下，根據(jù)使用中的所述預(yù)定初始參考規(guī)范，使用所述修改的參考規(guī)范來運(yùn)行振動(dòng)測(cè)試，其相比于使用未修改的參考規(guī)范來運(yùn)行振動(dòng)測(cè)試需要更少的系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)動(dòng)力。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的振動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其中，根據(jù)所述預(yù)定初始參考，利用所述修改的參考規(guī)范使得能夠以更少的所需的系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)動(dòng)力更緊密地對(duì)應(yīng)于所述預(yù)定初始參考規(guī)范，并且在測(cè)試執(zhí)行期間損壞所述測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試物品的風(fēng)險(xiǎn)更小。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的振動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述控制器配置為通過如下來創(chuàng)建所述修改的參考規(guī)范：

利用所述預(yù)定初始參考規(guī)范或先前修改的初始參考規(guī)范，其中所述預(yù)定初始參考規(guī)范或先前修改的初始參考規(guī)范可以表示為參考頻譜密度矩陣[G_rr(f)]，

在利用所述預(yù)定初始參考規(guī)范或先前修改的初始參考規(guī)范、明顯低于全面測(cè)試水平下使用MIMO控制的所述振動(dòng)預(yù)測(cè)試下的操作期間，測(cè)量控制位置響應(yīng)，其中所述控制位置響應(yīng)由控制響應(yīng)頻譜密度矩陣[G_cc(f)]表示，以及

創(chuàng)建表示為修改的頻譜密度矩陣[G_{mod_rr}(f)]的所述修改的參考規(guī)范，其中所述修改的頻譜密度矩陣[G_{mod_rr}(f)]的對(duì)角元素與所述參考頻譜密度矩陣[G_rr(f)]中的相同，并且其中所述修改的頻譜密度矩陣[G_{mod_rr}(f)]的每個(gè)對(duì)角下方元素等于所述參考頻譜[G_rr(f)]的對(duì)角下方元素乘以因子[K_ijk]，所述因子[K_ijk]為代表由所述預(yù)定初始參考規(guī)范或所述先前修改的初始參考規(guī)范所暗示的每個(gè)控制位置對(duì)之間的乘積除以在低水平操作期間由所述實(shí)際測(cè)量的控制位置響應(yīng)所暗示的每個(gè)控制位置對(duì)之間的乘積的比率，并且其中所述修改的頻譜密度矩陣[G_{mod_rr}(f)]的所述對(duì)角上方行等于所述修改的頻譜密度矩陣[G_{mod_rr}(f)]的所述對(duì)角下方列的復(fù)共軛轉(zhuǎn)置。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的振動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述先前修改的初始參考規(guī)范通過手動(dòng)稍微地增加初始參考頻譜密度矩陣的所選非對(duì)角相干元素的值來獲得，以權(quán)衡在使用由于使用所述先前修改的初始參考規(guī)范而產(chǎn)生的所述修改的頻譜密度矩陣[G_{mod_rr}(f)]的后續(xù)測(cè)試中，與所述參考頻譜密度矩陣[G_rr(f)]和所述控制響應(yīng)頻譜密度矩陣[G_cc(f)]的所述對(duì)角元素的對(duì)應(yīng)有多緊密，以便與在給定相同測(cè)試設(shè)施和測(cè)試條件的情況下，與以使用未修改的預(yù)定初始參考規(guī)范獲得的修改的頻譜密度矩陣[G_{mod_rr}(f)]運(yùn)行的測(cè)試相比，在選定的頻率范圍內(nèi)進(jìn)一步減少所需的系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)動(dòng)力。