[發明專利]用于確定至少一個對象的位置的檢測器

在審

• 申請號: 202080019008.6
• 申請日: 2020-01-08
• 公開（公告）號: CN113557549A
• 公開（公告）日: 2021-10-26
• 發明（設計）人: M·埃伯斯帕奇;C·倫納茨;R·森德;P·辛德勒;P·希倫;I·布魯德
• 申請（專利權）人: 特里納米克斯股份有限公司
• 主分類號: G06T7/521
• 分類號: G06T7/521;G06T7/571;G06T7/579
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所 11247
• 代理人: 于靜;楊曉光

1.一種用于確定至少一個對象(112)的位置的檢測器(110)，其中，所述位置是關于所述對象(112)和/或所述對象(112)的至少一部分在空間中的位置和/或取向的至少一項信息，所述檢測器(110)包括：

-至少一個傳感器元件(116)，其具有光學傳感器(120)的矩陣(118)，每個所述光學傳感器(120)具有光敏區域(122)，其中，所述傳感器元件(116)被配置為確定所述對象(112)的至少一個反射圖像(126)；

-至少一個評估設備(128)，其中，所述評估設備(128)被配置為選擇所述反射圖像(126)的至少一個反射特征，其中，所述評估設備(128)被配置為通過優化至少一個模糊函數f_a來確定所述反射圖像(126)的所選反射特征的至少一個距離估計(130)，其中，所述距離估計(130)由縱坐標z和誤差區間±ε給出，

其中，所述評估設備(128)適于確定至少一個參考圖像(134)中的與所述距離估計(130)對應的至少一個位移區域(132)，其中，所述位移區域(130)是所述參考圖像(134)中的其中與所選反射特征對應的所述參考特征被預期在所述參考圖像(134)中所處的區域，其中，所述評估設備(130)適于將所選反射特征與所述位移區域(132)內的至少一個參考特征匹配。

2.根據前述權利要求所述的檢測器(110)，其中，通過使用諸如離焦深度算法的至少一種基于卷積的算法來確定所述距離估計(130)。

3.根據前述權利要求中任一項所述的檢測器(110)，其中，通過改變所述至少一個模糊函數的參數來優化所述模糊函數。

4.根據前述權利要求所述的檢測器(110)，其中，所述反射圖像(126)是模糊圖像i_b，其中，所述評估設備(128)被配置為根據所述模糊圖像i_b和所述模糊函數f_a來重建所述縱坐標z。

5.根據前述權利要求所述的檢測器(110)，其中，通過改變所述模糊函數的參數σ來最小化所述模糊圖像i_b與所述模糊函數f_a和至少一個其它圖像i’_b的卷積之間的差，從而確定所述縱坐標z，

min||(i′_b*f_a(σ(z))-i_b)||。

6.根據前述權利要求中任一項所述的檢測器(110)，其中，所述至少一個模糊函數f_a是由來自包括以下項的組的至少一個函數構成的函數或復合函數：高斯函數，正弦函數，拋物柱面函數，平方函數，洛倫茲函數，徑向函數，多項式，Hermite多項式，Zernike多項式，Legendre多項式。

7.根據前述權利要求中任一項所述的檢測器(110)，其中，所述評估設備(128)適于確定所匹配的參考特征與所選反射特征的位移，其中，所述評估設備(128)適于使用縱坐標與所述位移之間的預定關系來確定所述所匹配的特征的縱向信息。

8.根據前述權利要求中任一項所述的檢測器(110)，其中，所述參考圖像(134)和所述反射圖像(126)是在具有固定距離的不同空間位置處確定的所述對象(112)的圖像，其中，所述評估設備(128)適于確定所述參考圖像(134)中的對極線，其中，所述位移區域(132)沿著所述對極線延伸，其中，所述評估設備(128)適于確定沿著所述對極線與所述縱坐標z對應的所述參考特征，以及確定所述位移區域沿著所述對極線與所述誤差區間±ε對應的范圍。