[發明專利]用于高溫應用的防偽標簽有效
| 申請號: | 202080017246.3 | 申請日: | 2020-02-07 |
| 公開(公告)號: | CN113544199B | 公開(公告)日: | 2023-07-04 |
| 發明(設計)人: | G·斯尤姆;M·帕魯塞爾;K·斯特魯威;A·科斯塔;C·蓋南滕;H·哈靈 | 申請(專利權)人: | 羅姆化學有限責任公司;羅姆美國有限責任公司 |
| 主分類號: | C08J5/18 | 分類號: | C08J5/18 |
| 代理公司: | 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038 | 代理人: | 楊立芳 |
| 地址: | 德國達*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 高溫 應用 防偽 標簽 | ||
1.用于防偽標簽的聚(甲基)丙烯酰亞胺膜,其中所述聚(甲基)丙烯酰亞胺膜包含:
30.0wt%-92.5wt%的聚(甲基)丙烯酰亞胺;
2.5wt%-40.0wt%的一種或多種抗沖改性劑;
0.0wt%-30.0wt%的聚(甲基)丙烯酸烷基酯;
5.0wt%-40.0wt%的一種或多種無機填料;
0.0wt%-5.0wt%的一種或多種UV吸收劑;和
0.0wt%-5.0wt%的一種或多種UV穩定劑,基于所述聚(甲基)丙烯酰亞胺膜的重量;
其中所述聚(甲基)丙烯酰亞胺包含至少50wt%的式(I)的重復單元,基于所述聚(甲基)丙烯酰亞胺的重量,
其中R1和R2獨立地選自氫和甲基,和
R3是氫或者C1-C4-烷基;和
其中所述聚(甲基)丙烯酰亞胺、聚(甲基)丙烯酸烷基酯和抗沖改性劑的累計含量是60.0wt%-95.0wt%,基于所述聚(甲基)丙烯酰亞胺膜的重量;和
所述聚(甲基)丙烯酰亞胺膜中的一種或多種抗沖改性劑的以wt%計的含量nim是下面的關系所述的:
0.5*nf
nf是所述聚(甲基)丙烯酰亞胺膜中的一種或多種無機填料的以wt%計的含量。
2.根據權利要求1的聚(甲基)丙烯酰亞胺膜,其中所述聚(甲基)丙烯酰亞胺包含至少60wt%的式(I)的重復單元,基于所述聚(甲基)丙烯酰亞胺的重量。
3.根據權利要求1的聚(甲基)丙烯酰亞胺膜,其中所述聚(甲基)丙烯酰亞胺包含至少70wt%的式(I)的重復單元,基于所述聚(甲基)丙烯酰亞胺的重量。
4.根據權利要求1的聚(甲基)丙烯酰亞胺膜,其中所述聚(甲基)丙烯酰亞胺、聚(甲基)丙烯酸烷基酯和抗沖改性劑的累計含量是70.0wt%-95.0wt%,基于所述聚(甲基)丙烯酰亞胺膜的重量。
5.根據權利要求1的聚(甲基)丙烯酰亞胺膜,其中所述聚(甲基)丙烯酰亞胺、聚(甲基)丙烯酸烷基酯和抗沖改性劑的累計含量是80.0wt%-95.0wt%,基于所述聚(甲基)丙烯酰亞胺膜的重量。
6.根據權利要求1的聚(甲基)丙烯酰亞胺膜,其中R3是甲基。
7.根據權利要求1的聚(甲基)丙烯酰亞胺膜,其中所述聚(甲基)丙烯酰亞胺膜的厚度是15.0μm-120.0μm,和
根據DIN?ENISO?527-3/2/100(2003)用厚度為50.0μm的箔所測量的標稱斷裂伸長率是3.0%-30%,和
根據DIN?ENISO?527-3/2/100(2003)用厚度為50.0μm的箔所測量的拉伸應力是20.0MPa-70.0MPa。
8.根據權利要求1或7的聚(甲基)丙烯酰亞胺膜,其中所述聚(甲基)丙烯酰亞胺膜根據ASTM?D?1938(2014)用厚度為50.0μm的箔所測量的抗撕裂蔓延性是0.01N/mm-1.50N/mm。
9.根據權利要求1或7的聚(甲基)丙烯酰亞胺膜,其中所述聚(甲基)丙烯酰亞胺膜中的一種或多種抗沖改性劑的以wt%計的含量nim是下面的關系所述的:
0.6*nf
nf是所述聚(甲基)丙烯酰亞胺膜中的一種或多種無機填料的以wt%計的含量。
10.根據權利要求1或7的聚(甲基)丙烯酰亞胺膜,特征在于所述一種或多種無機填料選自二氧化鈦、二氧化硅、氧化鋅、硫化鋅、硫酸鋇、炭黑、三氫氧化鋁或者碳酸鈣。
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