[發明專利]傳感檢測系統以及用于該傳感檢測系統的數據結構

在審

• 申請號: 202080012964.1
• 申請日: 2020-01-30
• 公開（公告）號: CN113412423A
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發明（設計）人: 森穗高;神田和輝;馬渡和明
• 申請（專利權）人: 株式會社電裝
• 主分類號: G01N21/65
• 分類號: G01N21/65;A01G7/00;G06Q50/02;G06Q50/10;G16Y10/05;G16Y10/10;G16Y10/15;G16Y10/25;G16Y40/20
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 徐殿軍

具備：服務器(10)，具有存儲部(12)以及使用存儲于存儲部(12)的數據進行規定處理的控制部(11)；以及構成為能夠與服務器(10)通信的通信終端(20)。而且，在存儲部(12)中，針對多個分析對象物分別存儲有加工數據，該加工數據在進行分光分析法時使用，與用于在檢測基板(50)上形成凹凸構造(50a)的加工條件相關。另外，在存儲部(12)中，針對多個分析對象物分別存儲有分析數據，該分析數據用于根據通過進行分光分析法而獲得的分析對象物的分光光譜分析分析對象物。控制部(11)若接收請求加工數據的信號，則選擇與分析對象物對應的加工數據并向通信終端(20)發送，若接收分光光譜，則使用分析數據分析分光光譜。

相關申請的相互參照

本申請基于2019年2月8日提出申請的日本專利申請號2019－21776號，此處通過參照而引入其記載內容。

技術領域

本公開涉及傳感檢測系統以及用于該傳感檢測系統的數據結構。

背景技術

以往以來，例如在專利文獻1中，提出了通過表面增強拉曼分光(SurfaceEnhanced Raman Spectroscopy：以下，簡稱作SERS)法確定分析對象物的物質等的方法。具體而言，在該方法中，首先，在檢測基板的表面上形成凹凸構造，使分析對象物附著于形成有該凹凸構造的部分。然后，通過在該狀態下對分析對象物照射激光束，取得與分析對象物相應的SERS光譜。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2015－190836號公報

發明內容

然而，現狀是消耗者、生產者有想要容易地調查農作物等分析對象物所含的物質等這一期望。

本公開的目的在于提供能夠容易地調查分析對象物的傳感檢測系統以及用于其的數據結構。

根據本公開的一個觀點，數據結構存儲于能夠與使用者所使用的通信終端通信的服務器，具備：加工數據，在使分析對象物附著于形成有凹凸構造的檢測基板的凹凸構造而進行分光分析法時使用，與用于在檢測基板上形成凹凸構造的加工條件相關；以及分析數據，用于根據通過進行分光分析法而獲得的分析對象物的分光光譜分析分析對象物，加工數據以及分析數據針對多個分析對象物而分別設定。

據此，使用者通過與服務器進行通信，能夠容易地取得加工數據而形成檢測基板，通過發送分光光譜，能夠容易地使分析對象物得以分析。因此，能夠容易地調查分析對象物。

另外，根據本公開的另一觀點，傳感檢測系統在服務器與通信終端之間進行通信，具備：服務器，具有存儲規定的數據的存儲部以及使用存儲于存儲部的數據進行規定的處理的控制部；以及由使用者利用并構成為能夠與服務器通信的通信終端。而且，在存儲部中，針對多個分析對象物分別存儲有加工數據，并且針對多個分析對象物分別存儲有分析數據，該加工數據在使分析對象物附著于形成有凹凸構造的檢測基板的凹凸構造而進行分光分析法時使用，與用于在檢測基板上形成凹凸構造的加工條件相關，所述分析數據用于根據通過進行分光分析法而獲得的分析對象物的分光光譜分析分析對象物，若從通信終端接收請求分析在分析對象物時所使用的與檢測基板相關的加工數據的信號，則控制部選擇與分析對象物對應的加工數據并向通信終端發送，使用者使用加工數據形成形成有凹凸構造的檢測基板，并且使分析對象物附著于凹凸構造，從通信終端發送通過分光分析法而獲得的分光光譜，控制部若由此接收到該分光光譜，則使用分析數據分析分光光譜。

據此，控制部在接收到請求加工數據的信號的情況下，發送加工數據，在接收到分光光譜的情況下，分析分光光譜。因此，使用者能夠從服務器容易地取得用于形成具有適合分析對象物的凹凸構造的檢測基板的加工數據。另外，使用者通過將分光光譜向服務器發送，能夠容易地使分析對象物得以分析。因而，使用者能夠容易地調查分析對象物。