[發明專利]光接收裝置和距離測量裝置

在審

• 申請號: 202080009771.0
• 申請日: 2020-01-17
• 公開（公告）號: CN113302448A
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: 馬原久美子
• 申請（專利權）人: 索尼半導體解決方案公司
• 主分類號: G01C3/06
• 分類號: G01C3/06;H01L31/10;G01S7/486;G01S17/08;H04N5/369;H04N5/374;H04N5/378
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 吳孟秋

該光接收裝置包括：光接收單元(100)，包括以矩陣陣列布置的多個光接收元件(10)；以及多條讀取線，發送從多個光接收元件讀取的信號。在光接收裝置中，多條讀取線中的每條讀取線被連接到多個光接收元件中的至少兩個光接收元件。

技術領域

本發明涉及光接收裝置和距離測量裝置。

背景技術

作為用于使用光來測量到測量對象的距離的距離測量方法之一，已知稱為直接飛行時間(ToF)方法的距離測量方法。在根據直接ToF方法的距離測量處理中，作為從光源發射的光被測量對象反射而生成的反射光被光接收元件接收，并且基于光的發射與作為反射光的接收之間的時間來測量到目標的距離。此外，在直接ToF方法中已知一種配置，其中使用以二維點陣來排列光接收元件的像素陣列來執行距離測量。

作為根據直接ToF方法的距離測量方法之一，存在利用從光源發射的光在水平方向(或垂直方向)上線性掃描目標并使用上述像素陣列來檢測其反射光的方法。

引用列表

專利文獻

專利文獻1:JP 2018-044923 A

發明內容

技術問題

當根據直接ToF方法通過線性掃描來自光源的光并使用像素陣列接收反射光來執行距離測量時，存在從光源發射的光的掃描軌跡不是線性的情況，并且作為光從目標反射而生成的反射光具有畸變或偏差。因此，考慮到這些畸變和偏差，有必要加寬像素陣列中可以同時讀取的光接收范圍，以便執行具有更高精度的距離測量，這導致布線的數量的增加。

問題的解決方案

本公開的目的是提供能夠以更少的布線的數量進行高精度的距離測量的光接收裝置和距離測量裝置。

為了解決上述問題，根據本公開的一個方面的光接收裝置具有：光接收單元，該光接收單元包括以矩陣狀的陣列布置的多個光接收元件；以及多條讀取線，該讀取線發送從多個光接收元件讀取的信號中的每個信號，其中多條讀取線中的每條讀取線被連接到多個光接收元件中的兩個或更多個光接收元件。

附圖說明

圖1是示意性地示出了使用適用于實施例的直接ToF方法的距離測量的視圖。

圖2是示出基于接收光的時間的示例的直方圖的圖，該圖適用于實施例。

圖3是示出包括根據實施例的距離測量裝置的電子裝置的示例的配置的框圖。

圖4是示出適用于實施例的距離測量裝置的示例的更詳細的配置的框圖。

圖5是示出適用于實施例的像素電路的基本配置示例的圖。

圖6是示出適用于根據實施例的距離測量裝置的裝置配置的示例的示意圖。

圖7是示出根據實施例的像素陣列單元的更具體的配置示例的視圖。

圖8A是示出根據實施例的像素陣列單元的詳細配置的示例的視圖。

圖8B是示出根據實施例的像素陣列單元的詳細配置的示例的視圖。

圖9是示出根據實施例的用于從每個像素電路讀取信號Vpls的配置的示例的視圖

圖10是示出根據現有技術的像素陣列單元的掃描方法的示例的視圖。

圖11是示出根據實施例的像素陣列單元的掃描方法的示例的視圖。

圖12A是示出當通過現有技術的掃描方法來執行每個像素電路的讀取時的直方圖的示例的圖。

圖12B是示出當通過根據實施例的掃描方法來執行每個像素電路的讀取時的直方圖的示例的圖。