[發明專利]用于監控壓接裝置的壓緊元件的狀態的方法和設備

在審

• 申請號: 202080009496.2
• 申請日: 2020-01-10
• 公開（公告）號: CN113365806A
• 公開（公告）日: 2021-09-07
• 發明（設計）人: T·理查曼
• 申請（專利權）人: 哈廷電子有限公司及兩合公司
• 主分類號: B30B15/00
• 分類號: B30B15/00;H01R43/048;B30B15/26
• 代理公司: 北京思益華倫專利代理事務所(普通合伙) 11418
• 代理人: 佟巍

1.用于監控壓接設備(1)的壓接裝置(2)的壓緊元件(20)的狀態的方法，所述方法具有以下步驟：

步驟(S1)：

設置(E)壓接高度(H)；

步驟(S2)：

測量從所述壓緊元件(20)的靜止位置(P0)至工作位置(P1)的行程(X)，所述工作位置對應于設置的壓接高度(H)；

步驟(S3)：

比較所述行程(X)與先前采用所述方法執行的壓接高度(H)的設置(E)的行程(X)的測量的記錄的行程(X)；

步驟(S4)：

記錄數據，其中，記錄的數據至少包括所述行程(X)和/或所述行程(X)與所述記錄的行程(X)的比較的至少一個結果；

步驟(S5)：

檢查比較是否存在預定的標準；

步驟(S6)：

在滿足所述預定的標準時輸出信號。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，

在步驟(S3)中，比較所述行程(X)與采用所述方法執行的相同的壓接高度(H)的上一次設置(E)的行程(X)的測量的記錄的行程(X)。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中，

在步驟(S3)中，考慮到設置的壓接高度(H)和先前采用所述方法執行的壓接高度(H)的設置(E)的壓接高度(H)，比較所述行程(X)與所述記錄的行程(X)。

4.根據權利要求1至3所述的方法，其中，

在步驟(S4)中記錄的數據還包括設置的壓接高度(H)和/或設置的壓接高度(H)與先前采用所述方法執行的壓接高度(H)的設置(E)的壓接高度(H)的比較結果。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，具有以下步驟：

步驟(S1)：

設置(E)壓接高度(H)，即，設置E(n)壓接高度H(n)，其中，n是借助所述壓接裝置(2)的所述壓緊元件(20)執行的壓接高度(H)的設置(E)的數量；

步驟(S2)：

測量行程(X)，即所述壓接裝置(2)的所述壓緊元件(20)的從第一位置P0(n)至第二位置P1(n)的行程X(n)，其中，所述壓緊元件(20)在所述第一位置P0(n)中處于其靜止位置(P0)并且在所述第二位置P1(n)中處于工作位置(P1)，所述工作位置對應于設置的壓接高度H(n)；

步驟(S3)：

借助對測量的行程(X)求差、即ΔX(n)＝X(n)-X(n-1)，比較設置E(n)的行程X(n)與在壓接高度H(n)的設置E(n)之前執行的壓接高度H(n-1)的設置E(n-1)的行程X(n-1)，

步驟(S4)：

記錄數據，其中，記錄的數據至少包括行程X(n)和/或差ΔX(n)；

步驟(S5)：

比較所述差ΔX(n)與預定的偏差；

步驟(S6)：

在比較滿足預定標準時輸出信號。

6.根據權利要求5所述的方法，其中，

設置E(n-1)是在設置E(n)之前最后執行的設置(E)，并且

在步驟(S3)中，設置E(n-1)的行程X(n-1)從在設置E(n-1)期間記錄的數據中讀取。

7.根據權利要求5或6所述的方法，其中，

在步驟(S4)中記錄的數據和/或在步驟(S3)中讀取的數據除了行程X(n)和/或差ΔX(n)以外還能包括數量n和/或壓接高度H(n)。

8.根據權利要求7所述的方法，其中，

此外，在步驟(S3)中還借助求差，即ΔH(n)＝H(n)-H(n-1)，比較壓接高度H(n)與壓接高度H(n-1)，并且其中，

在步驟(S4)中記錄的數據和/或在步驟(S3)中讀取的數據還能包括差值ΔH(n)。