[實用新型]光敏芯片測試基板裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202023353046.1
• 申請日: 2020-12-30
• 公開（公告）號: CN214335143U
• 公開（公告）日: 2021-10-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 孫奪;劉大福
• 申請（專利權(quán)）人: 無錫中科德芯光電感知技術(shù)研究院有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海弼興律師事務(wù)所 31283
• 代理人: 楊東明;羅洋

1.一種光敏芯片測試基板裝置，其特征在于，所述光敏芯片測試基板裝置包括：

基板本體；

保護(hù)殼和可透光的窗口片，所述保護(hù)殼的一端可拆卸地固定于所述基板本體的端面上，并在所述基板本體上圍合成一個用于容置光敏芯片的保護(hù)腔，所述保護(hù)殼上遠(yuǎn)離所述基板本體的一端具有一窗口，所述窗口片的四周固定于所述窗口；及

一一對應(yīng)設(shè)置的鍵壓電極和延伸電極，所述鍵壓電極固定于所述基板本體的端面，所述延伸電極的一端與所述鍵壓電極電性連接，且所述延伸電極的另一端用于和所述光敏芯片電性連接，所述延伸電極與所述保護(hù)殼絕緣設(shè)置。

2.如權(quán)利要求1所述的光敏芯片測試基板裝置，其特征在于，所述保護(hù)殼具有向外側(cè)水平折彎形成的固定基座，所述固定基座與所述基板本體可拆卸連接。

3.如權(quán)利要求2所述的光敏芯片測試基板裝置，其特征在于，所述固定基座的數(shù)量為兩個，所述固定基座對稱設(shè)置于所述保護(hù)殼的兩端。

4.如權(quán)利要求3所述的光敏芯片測試基板裝置，其特征在于，所述保護(hù)殼的其余兩端具有向外水平折彎形成的金屬折彎基座，所述延伸電極位于所述金屬折彎基座的下方，所述延伸電極與所述金屬折彎基座間具有間隙。

5.如權(quán)利要求4所述的光敏芯片測試基板裝置，其特征在于，所述光敏芯片測試基板裝置包括若干個所述鍵壓電極和所述延伸電極，所述基板本體具有四個邊部，其中任意一個或多個所述邊部線性排布有多個所述鍵壓電極。

6.如權(quán)利要求5所述的光敏芯片測試基板裝置，其特征在于，所述延伸電極沿所述基板本體的延伸方向?qū)ΨQ設(shè)置，所述金屬折彎基座下方設(shè)置有所述延伸電極，所述固定基座的下方未設(shè)置有所述延伸電極。

7.如權(quán)利要求6所述的光敏芯片測試基板裝置，其特征在于，部分或全部所述延伸電極在靠近所述鍵壓電極的一端具有彎折并在彎折處進(jìn)行圓角處理。

8.如權(quán)利要求2所述的光敏芯片測試基板裝置，其特征在于，所述光敏芯片測試基板裝置包括螺釘和限位插片，所述螺釘與所述基板本體螺紋連接，并貫穿所述固定基座，所述限位插片與所述螺釘卡接，并在所述基板本體的端面的法向上將所述固定基座和所述基板本體固定。

9.如權(quán)利要求8所述的光敏芯片測試基板裝置，其特征在于，所述螺釘?shù)臄?shù)量為四個，所述螺釘對稱設(shè)置于兩個所述固定基座，位于同一所述固定基座的螺釘對稱分布，所述螺釘與所述限位插片一一對應(yīng)卡接。

10.如權(quán)利要求8所述的光敏芯片測試基板裝置，其特征在于，所述螺釘包括螺紋柱，所述基板本體開設(shè)螺紋孔，所述螺紋柱的一端旋入所述螺紋孔內(nèi)，所述螺紋柱與所述基板本體螺紋連接。

11.如權(quán)利要求10所述的光敏芯片測試基板裝置，其特征在于，所述螺釘還包括支撐基座，所述支撐基座的一端與所述螺紋柱的另一端固定連接，所述支撐基座位于所述基板本體和所述固定基座之間，所述支撐基座的兩個端面分別貼合所述基板本體和所述固定基座。

12.如權(quán)利要求11所述的光敏芯片測試基板裝置，其特征在于，所述螺釘還包括固定支柱和限位支柱，所述固定支柱的一端與所述支撐基座的另一端固定連接，且所述固定支柱的另一端與所述限位支柱的一端固定連接，所述固定基座開設(shè)通孔，所述通孔與所述螺紋孔對應(yīng)，所述固定支柱位于所述通孔內(nèi)，所述限位支柱與所述限位插片卡接，所述固定支柱的上表面不高于所述固定基座的上表面。

13.如權(quán)利要求12所述的光敏芯片測試基板裝置，其特征在于，所述螺釘還包括沉頭，所述沉頭的一端與所述限位支柱的另一端固定連接，所述沉頭的另一端開設(shè)十字凹槽。