[實用新型]一種顆粒物粒徑譜儀比對校準系統

有效

• 申請號: 202023341620.1
• 申請日: 2020-12-30
• 公開（公告）號: CN214097060U
• 公開（公告）日: 2021-08-31
• 發明（設計）人: 劉新春;明步勇;鄭玉龍;陳紅娜;陸輝
• 申請（專利權）人: 中國氣象局烏魯木齊沙漠氣象研究所;北京漢諾明科技有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 北京市盛峰律師事務所 11337
• 代理人: 于國強

1.一種顆粒物粒徑譜儀比對校準系統，其特征在于，包括空壓機(1)、沉降室(6)、上位機(10)、至少一個顆粒物粒徑譜儀標準機(8)和至少一個顆粒物粒徑譜儀被標機(9)，所述空壓機(1)通過沉降氣管路(2)和注射氣管路(3)與所述沉降室(6)連接，所述注射氣管路(3)設有標塵瓶(4)，所述標塵瓶(4)通過電磁閥(5)與所述沉降室(6)連接，所述注射氣管路(3)通過電磁閥(5)與所述沉降室(6)連接，所述沉降室(6)設有若干個出氣口(7)，所述沉降室(6)通過所述若干個出氣口(7)分別與所述至少一個顆粒物粒徑譜儀標準機(8)和所述至少一個顆粒物粒徑譜儀被標機(9)連接，所述上位機(10)分別與所述電磁閥(5)、所述至少一個顆粒物粒徑譜儀標準機(8)和所述至少一個顆粒物粒徑譜儀被標機(9)連接。

2.根據權利要求1所述的顆粒物粒徑譜儀比對校準系統，其特征在于，所述注射氣管路(3)為所述沉降氣管路(2)上設置的一條支路，所述電磁閥(5)位于所述注射氣管路(3)上。

3.根據權利要求1或2所述的顆粒物粒徑譜儀比對校準系統，其特征在于，所述空壓機設有除濕模塊。

4.根據權利要求3所述的顆粒物粒徑譜儀比對校準系統，其特征在于，所述空壓機的壓力最少為2Bar。

5.根據權利要求1所述的顆粒物粒徑譜儀比對校準系統，其特征在于，所述沉降氣管路(2)的流量為9.5～11L。

6.根據權利要求5所述的顆粒物粒徑譜儀比對校準系統，其特征在于，所述沉降氣管路(2)的流量為10L。