[實(shí)用新型]一種新型破膜檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202023310178.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN214953083U | 公開(公告)日: | 2021-11-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張振 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東莞市卓智精密機(jī)械有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 523880 廣東省東莞*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 新型 檢測(cè) 裝置 | ||
1.一種新型破膜檢測(cè)裝置,包括PCB 板(9)、PCB 輸送滾輪(10)、上撕膜機(jī)構(gòu)(1)和下撕膜機(jī)構(gòu)(5),其特征在于:所述上撕膜機(jī)構(gòu)(1)包括上撕膜輥(101)和上出膜皮帶(2),所述下撕膜機(jī)構(gòu)(5)包括下撕膜輥(501)和下出膜皮帶(6),所述PCB 板(9)位于PCB 輸送滾輪(10)之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1 所述的一種新型破膜檢測(cè)裝置,其特征在于,所述上撕膜機(jī)構(gòu)(1)和下撕膜機(jī)構(gòu)(5)關(guān)于PCB 輸送滾輪(10)呈對(duì)稱設(shè)置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1 所述的一種新型破膜檢測(cè)裝置,其特征在于,所述上撕膜輥(101)周側(cè)面設(shè)置有上輔助出膜皮帶(201),所述上輔助出膜皮帶(201)與上出膜皮帶(2)位置相適應(yīng),所述下撕膜輥(501)周側(cè)面設(shè)置有下輔助出膜皮帶(601),所述下輔助出膜皮帶(601)與下出膜皮帶(6)相適應(yīng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1 所述的一種新型破膜檢測(cè)裝置,其特征在于,所述PCB 板(9)上表面設(shè)置有上mylar 膜(4),所述PCB 板(9)下表面設(shè)置有下mylar 膜(8),所述上mylar 膜(4)的位置與上出膜皮帶(2)相適應(yīng),所述下mylar 膜(8)的位置與下出膜皮帶(6)相適應(yīng)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1 所述的一種新型破膜檢測(cè)裝置,其特征在于,所述上撕膜機(jī)構(gòu)(1)內(nèi)部安裝有上破膜檢測(cè)光纖(3),所述上破膜檢測(cè)光纖(3)的位置與上mylar 膜(4)相適應(yīng),所述下撕膜機(jī)構(gòu)(5)內(nèi)部安裝有下破膜檢測(cè)光纖(7),所述下破膜檢測(cè)光纖(7)的位置與下mylar 膜(8)相適應(yīng)。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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