[實(shí)用新型]一種用于PCB電路板測(cè)試用的射頻探針

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202023263376.1
• 申請(qǐng)日: 2020-12-29
• 公開（公告）號(hào): CN214409201U
• 公開（公告）日: 2021-10-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 戴佶
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海維熟科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R1/04;G01R1/067
• 代理公司: 上海知義律師事務(wù)所 31304
• 代理人: 楊楠

本實(shí)用新型所公開的用于PCB電路板測(cè)試用的射頻探針，包括探針頸(1)和設(shè)有內(nèi)部空腔的探針管(2)，所述探針頸(1)同軸且滑動(dòng)連接在所述探針管(2)的內(nèi)部空腔內(nèi)且其端部伸出到所述探針管(2)外，所述探針管(2)內(nèi)設(shè)有一與所述探針管(2)電連接的彈性部件；所述探針頸(1)與彈性部件之間設(shè)有一導(dǎo)電小球(3)。本實(shí)用新型所公開的用于PCB電路板測(cè)試用的射頻探針，設(shè)計(jì)巧妙，連接穩(wěn)定，可保證探針頸和探針管之間電性接觸永不間斷，可完全消除測(cè)試過程中假性開路的問題，保證測(cè)試的準(zhǔn)確性。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種用于PCB電路板測(cè)試用的射頻探針。

背景技術(shù)

射頻探針是電路板測(cè)試中常用的測(cè)試工具，用于實(shí)現(xiàn)電路板上測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試設(shè)備之間的電路連接。通常使用的射頻探針，針頸和針管之間常會(huì)因結(jié)構(gòu)原因出現(xiàn)電接觸斷開，從而導(dǎo)致假性開路的測(cè)試結(jié)果，影響測(cè)試的準(zhǔn)確性。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的是提供一種用于PCB電路板測(cè)試用的射頻探針。

本實(shí)用新型所提供的用于PCB電路板測(cè)試用的射頻探針，包括探針頸(1)和設(shè)有內(nèi)部空腔的探針管(2)，所述探針頸(1)同軸且滑動(dòng)連接在所述探針管(2)的內(nèi)部空腔內(nèi)且其端部伸出到所述探針管(2)外，所述探針管(2)內(nèi)設(shè)有一與所述探針管(2)電連接的彈性部件；所述探針頸(1)與彈性部件之間設(shè)有一導(dǎo)電小球(3)。

所述彈性部件為一高效彈簧(4)。所述探針頸(1)的尾部設(shè)有一圓柱形凸塊(5)，所述圓柱形凸塊(5)的直徑大于所述探針頸(1)的直徑且小于所述探針管(2)的內(nèi)徑；所述圓柱形凸塊(5)與所述探針頸(1)同軸且一設(shè)置。所述探針管(2)的前端為環(huán)裝尖齒結(jié)構(gòu)。本實(shí)用新型所提供的用于PCB電路板測(cè)試用的射頻探針，還包括一板狀連接件(6)；所述板狀連接件(6)的中心設(shè)有第一通孔，所述探針管(2)穿設(shè)于所述第一通孔內(nèi)且與所述連接件為一體結(jié)構(gòu)。所述板狀連接件(6)上還設(shè)有第二通孔(7)和第三通孔(8)。所述探針管(2)的外壁上設(shè)有至少一條形滑槽(9)。所述條形滑槽(9)的底部為弧形。本實(shí)用新型所提供的用于PCB電路板測(cè)試用的射頻探針，還包括一探針管連接環(huán)(10)；所述探針管連接環(huán)(10)的內(nèi)徑與所述探針管(2)的內(nèi)徑相同；所述探針管連接環(huán)(10)的外徑大于所述探針管(2)的外徑。所述探針管連接環(huán)(10)的外壁和內(nèi)壁均設(shè)有螺紋。

本實(shí)用新型所提供的用于PCB電路板測(cè)試用的射頻探針，設(shè)計(jì)巧妙，連接穩(wěn)定，可保證探針頸和探針管之間電性接觸永不間斷，可完全消除測(cè)試過程中假性開路的問題，保證測(cè)試的準(zhǔn)確性。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的用于PCB電路板測(cè)試用的射頻探針前端結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的用于PCB電路板測(cè)試用的射頻探針后端結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的用于PCB電路板測(cè)試用的射頻探針局部剖視圖；

圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的用于PCB電路板測(cè)試用的射頻探針內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為使本實(shí)用新型實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。