[實(shí)用新型]一種用于薄膜電容器的耐壓測(cè)試夾具

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202023254909.X
• 申請(qǐng)日: 2020-12-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN215415506U
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-01-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳濤
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 東莞市緯迪實(shí)業(yè)有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/04
• 分類號(hào): G01R1/04;G01R31/12
• 代理公司: 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44288
• 代理人: 孫振國(guó)

本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于薄膜電容器的耐壓測(cè)試夾具，包括：絕緣底座、導(dǎo)電板和絕緣層；導(dǎo)電板為具有導(dǎo)電性能的層板，用于連接耐壓測(cè)試儀的負(fù)極引出線；導(dǎo)電板設(shè)于絕緣底座上，絕緣層設(shè)于導(dǎo)電板的上表面；絕緣層至少包括一承托部，其結(jié)構(gòu)適于支承電容薄膜的帶鍍層區(qū)域的邊緣，同時(shí)使電容薄膜的留邊區(qū)域一側(cè)直接置于導(dǎo)電板的上表面。本實(shí)用新型配合現(xiàn)有的耐壓測(cè)試儀來(lái)完成薄膜耐壓測(cè)試，不同于以往需要將薄膜制作成電容芯子半成品后才能進(jìn)行測(cè)試，本實(shí)用新型可以直接對(duì)條狀薄膜施加測(cè)試電壓、完成測(cè)試并記錄數(shù)據(jù)，測(cè)試成本低，減少了設(shè)計(jì)驗(yàn)證成本，也能夠更直接更快速地對(duì)供應(yīng)鏈實(shí)現(xiàn)管理，以更低成本選擇質(zhì)量更好的供應(yīng)商物料。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及電容測(cè)試領(lǐng)域，具體涉及一種用于薄膜電容器的耐壓測(cè)試夾具。

背景技術(shù)

隨著技術(shù)水平的發(fā)展，電子、家電、通訊等多個(gè)行業(yè)更新?lián)Q代周期越來(lái)越短，而薄膜電容器憑借其良好的電工性能和高可靠性，成為推動(dòng)上述行業(yè)更新?lián)Q代不可或缺的電子元件。

薄膜電容器的核心部件在于其內(nèi)部的電容芯子，電容芯子是由條狀薄膜通過(guò)層疊卷繞而成的，具體地說(shuō)，就是將平鋪的薄膜疊起來(lái)，然后再卷繞成圓形芯子。薄膜通常由光膜層以及蒸鍍?cè)诠饽由系慕饘馘儗咏M成。在光膜的表面，有金屬鍍層覆蓋的區(qū)域視為鍍層區(qū)，無(wú)金屬鍍層覆蓋的區(qū)域稱為留邊區(qū)。

對(duì)于薄膜電容器需要進(jìn)行耐壓測(cè)試，以得到薄膜的耐壓性能數(shù)據(jù)。以往，要了解薄膜的耐壓性能，必須將薄膜制作成電容器半成品，不夠方便。現(xiàn)期望可以提出一種直接對(duì)薄膜進(jìn)行耐壓測(cè)試的工裝治具，減小設(shè)計(jì)驗(yàn)證成本。

實(shí)用新型內(nèi)容

為克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型的目的在于提供一種用于薄膜電容器的耐壓測(cè)試夾具，其可以直接對(duì)條狀薄膜進(jìn)行耐壓測(cè)試。

本實(shí)用新型通過(guò)以下的技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)：

一種用于薄膜電容器的耐壓測(cè)試夾具，包括：絕緣底座、導(dǎo)電板和絕緣層；所述導(dǎo)電板為具有導(dǎo)電性能的層板，用于連接耐壓測(cè)試儀的負(fù)極引出線；所述導(dǎo)電板設(shè)于所述絕緣底座上，所述絕緣層設(shè)于所述導(dǎo)電板的上表面；所述絕緣層至少包括一承托部，其結(jié)構(gòu)適于支承電容薄膜的帶鍍層區(qū)域的邊緣，同時(shí)使所述電容薄膜的留邊區(qū)域一側(cè)直接置于所述導(dǎo)電板的上表面。

進(jìn)一步地，所述絕緣層的表面呈凹字型結(jié)構(gòu)，其兩凸出端用于支承所述電容薄膜的兩端部。

進(jìn)一步地，所述用于薄膜電容器的耐壓測(cè)試夾具還包括防護(hù)安全罩；所述防護(hù)安全罩蓋設(shè)于所述絕緣底座上，所述防護(hù)安全罩的側(cè)部還開(kāi)有敞口，用于使所述耐壓測(cè)試儀的正極引出線和負(fù)極引出線伸入。

進(jìn)一步地，所述用于薄膜電容器的耐壓測(cè)試夾具還包括具有導(dǎo)電性能的測(cè)試金屬墜；所述測(cè)試金屬墜連接于所述耐壓測(cè)試儀的正極引出線，所述測(cè)試金屬墜壓緊于所述電容薄膜的金屬鍍層上。

進(jìn)一步地，所述測(cè)試金屬墜為銅墜。

進(jìn)一步地，所述絕緣層為環(huán)氧板。

進(jìn)一步地，所述導(dǎo)電板為銅板。

進(jìn)一步地，所述絕緣底座為絕緣膠墊。

進(jìn)一步地，所述用于薄膜電容器的耐壓測(cè)試夾具還包括支架；所述支架包括底腳以及作業(yè)臺(tái)，所述絕緣底座設(shè)于所述支架的作業(yè)臺(tái)上。

進(jìn)一步地，所述支架還包括位于所述支架頂部的支撐面，所述支撐面用于放置耐壓測(cè)試儀。

相比于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型能達(dá)到的有益效果為：將長(zhǎng)條狀的電容薄膜平鋪，其中，電容薄膜上鍍有金屬層區(qū)域的邊緣置于絕緣層上，鍍有金屬層區(qū)域的其余部分則置于導(dǎo)電板上，無(wú)金屬鍍層的留邊區(qū)域置于導(dǎo)電板上。耐壓測(cè)試儀的負(fù)極引出線連接導(dǎo)電板，正極引出線連接電容薄膜的金屬鍍層上；開(kāi)啟耐壓測(cè)試儀后，測(cè)試電壓依次通過(guò)導(dǎo)電板、電容薄膜的光膜層、金屬鍍層，形成回路；通過(guò)調(diào)整耐壓測(cè)試儀的輸出電壓，直至擊穿電容薄膜，讀取相應(yīng)數(shù)值，即為薄膜測(cè)試耐壓值大小。