[實用新型]PE薄膜表面晶點檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202023227005.8 | 申請日: | 2020-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN214584937U | 公開(公告)日: | 2021-11-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 侯新亮;張彤;蘇琴;容蓬勃 | 申請(專利權(quán))人: | 永生運佳(宣城)薄膜科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/84 | 分類號: | G01N21/84;G01N21/01 |
| 代理公司: | 合肥東信智谷知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 34143 | 代理人: | 朱軍 |
| 地址: | 242000 安徽省宣城市宣城經(jīng)*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | pe 薄膜 表面 檢測 裝置 | ||
PE薄膜表面晶點檢測裝置,包括水平放置的晶點照射構(gòu)件,所述晶點照射構(gòu)件通過支撐架固定支撐,所述晶點照射構(gòu)件一側(cè)設(shè)置有放卷輥組件,另一側(cè)設(shè)置有收卷輥組件,所述晶點照射構(gòu)件兩端部分別對稱設(shè)置有壓引構(gòu)件,兩個所述壓引構(gòu)件可保持PE薄膜與所述晶點照射構(gòu)件表面相貼合運動。本實用新型采用放卷輥組件與收卷輥組件相配合的方式,可對成卷PE薄膜進(jìn)行連續(xù)釋放觀測,并及時收集成卷,同時,在晶點照射構(gòu)件兩端部分別對稱設(shè)置壓引構(gòu)件,從而保持PE薄膜與晶點照射構(gòu)件表面相貼合運動,實現(xiàn)PE薄膜表面晶點連續(xù)觀測,抽檢過程較為便捷,也不會破壞PE薄膜的完整性,不會造成浪費。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型屬于薄膜檢測技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種PE薄膜表面晶點檢測裝置。
背景技術(shù)
晶點實際上是“過度聚合物”,即:“晶點”部位聚合物的分子量要高于周圍同種聚合物的分子量。由于分子量高,因此,晶點部位聚合物具有較高的熔點;在熔化時,熔體具有較高的粘度;晶點部位聚合物在吹膜或流延時,不能與周圍的同種聚合物相互均勻分散、混合,并在熔體吹成或流延成薄膜后,先于周圍的同種聚合物凝固;因此,形成“箭頭狀”或“球狀”過度聚合物的凝固體,習(xí)慣上被稱為“晶點”。
眾所周知,晶點是PE薄膜廠家普遍存在的問題,晶點會影響到PE薄膜的外觀;因此,在生產(chǎn)過程中需要對PE薄膜進(jìn)行抽檢,以監(jiān)控其表面晶點數(shù)量,從而反饋給生產(chǎn)及時調(diào)整生產(chǎn)工藝,減少晶點,提高產(chǎn)品質(zhì)量。
現(xiàn)有技術(shù)中,中小企業(yè)對PE薄膜表面晶點的監(jiān)控一般采用人工觀測,即將抽檢出的成卷PE薄膜攤開后進(jìn)行裁切成片,然后,將片狀PE薄膜貼放在成排的LED燈箱上方進(jìn)行照射,以觀測晶點數(shù)量。但是,這種方式不能對抽檢到的成卷PE薄膜進(jìn)行連續(xù)觀測,抽檢過程較為繁瑣,同時也破壞了PE薄膜的完整性,如果抽檢合格,此PE薄膜便不能繼續(xù)使用,造成浪費。
實用新型內(nèi)容
本實用新型針對現(xiàn)有技術(shù)存在的不足,提供了一種PE薄膜表面晶點檢測裝置,具體技術(shù)方案如下:
PE薄膜表面晶點檢測裝置,包括水平放置的晶點照射構(gòu)件,所述晶點照射構(gòu)件通過支撐架固定支撐,所述晶點照射構(gòu)件一側(cè)設(shè)置有放卷輥組件,另一側(cè)設(shè)置有收卷輥組件,所述晶點照射構(gòu)件兩端部分別對稱設(shè)置有壓引構(gòu)件,兩個所述壓引構(gòu)件可保持PE薄膜與所述晶點照射構(gòu)件表面相貼合運動。
進(jìn)一步地,所述晶點照射構(gòu)件包括一安裝座,所述安裝座為長方體結(jié)構(gòu),所述安裝座頂面向內(nèi)開設(shè)有長方形的燈槽,所述燈槽內(nèi)縱向等間距設(shè)置有至少六個以上的LED燈管,所述燈槽頂緣四周圍合設(shè)置有凸臺,所述凸臺頂口通過透明玻璃封閉,所述凸臺兩端側(cè)的所述安裝座頂面上分別對稱開設(shè)有縱向設(shè)置的輥槽,所述輥槽內(nèi)設(shè)置有所述壓引構(gòu)件。
進(jìn)一步地,所述安裝座頂面一長邊豎直設(shè)置有遮光板,所述遮光板長度與所述安裝座頂面長度相同,且所述遮光板高于所述凸臺。
進(jìn)一步地,所述壓引構(gòu)件包括豎直設(shè)置在所述輥槽兩端的擋板,兩個所述擋板之間縱向架設(shè)有上下平行間隔的兩個導(dǎo)引輥,兩個所述導(dǎo)引輥之間的間距與所述PE薄膜的厚度相同,位于下方的所述導(dǎo)引輥設(shè)置于所述輥槽內(nèi),且位于下方的所述導(dǎo)引輥的頂端與所述透明玻璃的頂面相齊平。
進(jìn)一步地,所述放卷輥組件包括U形結(jié)構(gòu)的第一支架,所述第一支架的兩側(cè)頂面上對稱安裝有第一軸承,兩個所述第一軸承之間架設(shè)有第一轉(zhuǎn)軸,所述第一轉(zhuǎn)軸上軸向套接有第一輥筒,所述第一輥筒與所述導(dǎo)引輥在空間上相平行,所述第一轉(zhuǎn)軸與所述第一軸承可拆卸地連接。
進(jìn)一步地,所述收卷輥組件包括U形結(jié)構(gòu)的第二支架,所述第二支架的兩側(cè)頂面上對稱安裝有第二軸承,兩個所述第二軸承之間架設(shè)有第二轉(zhuǎn)軸,所述第二轉(zhuǎn)軸上軸向套接有第二輥筒,所述第二輥筒與所述導(dǎo)引輥在空間上相平行,所述第二轉(zhuǎn)軸與所述第二軸承可拆卸地連接,所述第二轉(zhuǎn)軸一端連接有搖把。
進(jìn)一步地,所述第一轉(zhuǎn)軸和第二轉(zhuǎn)軸均通過各自端部的法蘭盤分別與所述第一軸承和第二軸承連接。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





