[實用新型]一種側向進樣XRF分析用樣品杯

有效

• 申請號: 202023181854.4
• 申請日: 2020-12-25
• 公開（公告）號: CN214585017U
• 公開（公告）日: 2021-11-02
• 發明（設計）人: 高志帆;張紅平;陳澤武;田碧藍;宋硙;孫宣兵;王晶晶
• 申請（專利權）人: 西安佳譜電子科技有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 北京久維律師事務所 11582
• 代理人: 邢江峰

本實用新型提供一種側向進樣XRF分析用樣品杯，包括樣品杯體、分析薄膜、膜套環、橡膠圈、壓桿，所述壓桿在軸向上設置密封凹槽和排氣孔，橡膠圈設置在密封凹槽，壓桿放置在樣品杯體內，膜套環將分析薄膜固定在樣品杯體。本實用新型制作出的樣品可以被有效壓實，且樣品表面平整、分布均勻，在側向進樣的XRF分析儀器上進樣、測量時也可以保證樣品表面與探測平面的緊密貼合，進而得到與樣品中真實元素含量高度一致的測量結果，減小因樣品松散、表面不平整、分布不均勻對X射線激發、熒光產生、測量過程所造成的影響，具有結構簡單，測量數據準確，效果好的特點。

技術領域

本實用新型屬于試驗用設備技術領域，尤其涉及X射線熒光(XRF)分析儀器使用的一種側向進樣XRF分析用樣品杯。

背景技術

與實驗室元素分析技術相比，X射線熒光分析技術具有成本低、速度快、非破壞式檢測、多元素同時測量、操作方便的優勢，現有技術中，基于X射線熒光分析技術的儀器通常體積小、重量輕、便于攜帶和實現自動化的特點，在固體、液體等類型樣品的成分檢測中，X射線熒光分析技術得到了越來越多的應用。

常規的X射線熒光分析儀普遍采用上照式激發，即待測樣品垂直向下放入分析儀器，分析儀器的X射線源向上出射，照射在待測樣品的下表面，用于接收待測樣品中熒光信號的探測器也放置在待測樣品之下，這種類型分析儀器所采用的樣品杯都是同樣的結構形式，即一端開口，放入樣品，然后用分析薄膜封口，再倒扣過來放入分析儀器中，薄膜朝下，樣品依靠自身重力聚集在分析薄膜上。雖然XRF分析儀器的形式多種多樣，但是所有的XRF分析儀器，都需要把待測樣品經過一定的前處理，然后放入儀器專用的樣品杯中，再放入儀器進行數十秒到幾百秒數據收集，最后對收集得到的數據進行計算，得出待測樣品中的元素種類和含量。XRF儀器所基于的物理原理決定了樣品表面的平整度、壓實程度都會對測量結果產生比較大的影響。

目前的樣品杯，如果盛放粉末樣品，封膜并倒扣過來之后，僅靠粉末自身的重力，無法達到壓實、平整的效果，通常樣品顆粒分布松散，且表面常有溝壑，分布不均勻，這些因素都會影響探測器所采集到的信號，進而不能如實反映樣品中元素的準確含量；此外，在上照式XRF分析儀器結構中，粉末樣品或者液體樣品依靠分析薄膜支撐，雖然樣品杯自身重力作用可以使樣品杯端面緊密貼合在探測平面，但是在測量過程中如果分析薄膜破裂，樣品會灑落在探測器的窗口上，該窗口的厚度是微米級別，非常脆弱，且損壞后無法維修，只能更換探測器，成本非常昂貴。采用側向進樣、測量的形式，可以有效避免分析薄膜破裂后直接污染或者損壞探測器，但是可能會導致樣品表面與探測平面沒有緊密貼合的問題，同樣嚴重影響測量結果的準確度。

實用新型內容

針對上述背景技術的闡述，本實用新型提供一種側向進樣XRF分析用樣品杯。

為了達到上述目的，本實用新型提供如下技術方案：

一種側向進樣XRF分析用樣品杯，包括樣品杯體、分析薄膜、膜套環、橡膠圈、壓桿，所述壓桿在軸向上設置密封凹槽和排氣孔，橡膠圈設置在密封凹槽，壓桿放置在樣品杯體內，膜套環將分析薄膜固定在樣品杯體。

上述技術方案中，還包括不銹鋼片，所述不銹鋼片設置在樣品杯體上。

上述技術方案中，還包括杯座，所述杯座包括底座，在底座上設置支撐柱，支撐柱端部設置磁鐵支架，在磁鐵支架內環形設置磁鐵。

上述技術方案中，所述磁鐵支架與不銹鋼片之間設置間隙。

上述技術方案中，所述間隙的尺寸0.2-1.5mm。

上述技術方案中，所述樣品杯體設置摩擦結構。

上述技術方案中，所述摩擦結構選擇直紋結構和/或網紋結構。