[實用新型]一種具有倒裝芯片結構的紫外AlInGaN發光二極管有效
| 申請號: | 202023173727.X | 申請日: | 2020-12-25 |
| 公開(公告)號: | CN213988913U | 公開(公告)日: | 2021-08-17 |
| 發明(設計)人: | 不公告發明人 | 申請(專利權)人: | 至芯半導體(杭州)有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/06 | 分類號: | H01L33/06;H01L33/14;H01L33/12;H01L33/32 |
| 代理公司: | 北京華創智道知識產權代理事務所(普通合伙) 11888 | 代理人: | 彭隨麗 |
| 地址: | 310000 浙江省杭州*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 具有 倒裝 芯片 結構 紫外 alingan 發光二極管 | ||
1.一種具有倒裝芯片結構的紫外AlInGaN發光二極管,其特征在于,包括如下結構:
藍寶石圖形襯底;
所述藍寶石圖形襯底上為非摻雜的AlInGaN層;
所述非摻雜的AlInGaN層上為第一N型AlInGaN層:所述第一N型AlInGaN層上還有第二N型AlInGaN層;
所述第二N型AlInGaN層上為AlInGaN多量子阱層;
所述AlInGaN多量子阱層上為AlInGaN電子阻擋層;
所述電子阻擋層上為P型AlInGaN接觸層;
所述第二N型AlInGaN層~ P型AlInGaN接觸層形成的層疊結構的一側具有中心N電極區域,另一側為邊緣N電極區域;
所述中心N電極區域設置有第一SiO2鈍化層,所述邊緣N電極區域設置有第二SiO2鈍化層;
所述第一SiO2鈍化層以及第一SiO2鈍化層均具有倒梯形凹槽;
在中心N電極區域倒梯形的底部以及邊緣N電極區域倒梯形的底部,設置有Ti/Au 層,所述Ti/Au 層為N電極金屬層;
在所述N電極金屬層上設置有Al金屬作為中心N電極區域倒梯形紫外光反射層和邊緣N電極區域倒梯形紫外光反射層,厚度均為300nm;
所述P型AlInGaN接觸層上設置有Ni/Au合金作為P型電極層,厚度分別為1nm/10nm,所述P型電極層上設置有Al金屬反射層;
所述N電極金屬層通過中心N電極區域倒梯形紫外光反射層與合金點連接,進而與基座連接,所述P型電極層通過合金點與基座電連接,形成倒裝芯片結構。
2.根據權利要求1所述的一種具有倒裝芯片結構的紫外AlInGaN發光二極管,其特征在于:所述非摻雜的AlInGaN層厚度為3μm;所述第一N型AlInGaN層的厚度為2μm。
3.根據權利要求1所述的一種具有倒裝芯片結構的紫外AlInGaN發光二極管,其特征在于:所述AlInGaN多量子阱層的結構為Al0.25In0.01Ga0.74N/Al0.5In0.01Ga0.49N,其中Al0.25In0.01Ga0.74N為量子阱層,阱寬為2nm,Al0.5In0.01Ga0.49N為量子壘層,壘寬為12nm,周期厚度為14nm,其周期數為6。
4.根據權利要求1所述的一種具有倒裝芯片結構的紫外AlInGaN發光二極管,其特征在于:所述中心N電極區域為3長條形,長條形的寬度為50μm,長度為300μm,高度為500nm,所述邊緣N電極區域的寬度為20μm,高度為500nm。
5.根據權利要求1所述的一種具有倒裝芯片結構的紫外AlInGaN發光二極管,其特征在于:所述中心N電極區域倒梯形的頂部長邊為46μm,側壁區域鈍化層寬2μm,底部短邊為40μm,側壁區域鈍化層寬5μm;所述邊緣N電極區域倒梯形的頂部長邊為16μm,側壁區域鈍化層寬2μm,底部短邊為10μm,側壁區域鈍化層寬5μm。
6.根據權利要求1所述的一種具有倒裝芯片結構的紫外AlInGaN發光二極管,其特征在于:所述AlInGaN電子阻擋層厚度為40nm,所述P型AlInGaN接觸層厚度為150nm,所述Ti/Au層厚度分別為100nm/100nm,所述P型電極層上的Al金屬反射層厚度為500nm。
7.根據權利要求1所述的一種具有倒裝芯片結構的紫外AlInGaN發光二極管,其特征在于:所述倒裝芯片大小為500μm×500μm。
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