[實用新型]測試裝置

有效

• 申請號: 202023166576.5
• 申請日: 2020-12-24
• 公開（公告）號: CN213658230U
• 公開（公告）日: 2021-07-09
• 發明（設計）人: 賀曉光;蘆子哲;柳春美;洪佳婷
• 申請（專利權）人: TCL科技集團股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;H05K7/20
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 方良

本實用新型涉及性能測試技術領域，提供一種測試裝置包括：殼體，具有測試空腔；安置部，設置于測試空腔中，且安置部具有用于安置待測試可發光器件的安置位；性能檢測器，設置于測試空腔中，以用于檢測待測試可發光器件的性能；第一溫度傳感器，設置于測試空腔中，以用于檢測待測試可發光器件處的溫度；以及降溫器，設置于測試空腔中或者與測試空腔連通，以用于在第一溫度傳感器所檢測的溫度高于預設值時對測試空腔進行降溫。本實用新型提供的測試裝置，可在溫度高于預設值時對測試空腔進行降溫，避免待測試可發光器件產生的熱量積聚于測試空腔中，從而提高對待測試可發光器件性能測試的準確性。

技術領域

本實用新型涉及性能測試技術領域，尤其涉及一種測試裝置。

背景技術

量子點發光二極管(QLED)、有機發光二極管(OLED)等可發光器件的性能可以從發光性能和電學性能兩個方面來評價。發光性能主要包括發射光譜、發光亮度、發光效率、發光色度以及壽命等，而電學性能包括電流與電壓的關系等，這些都是衡量材料和器件性能的主要參數。

對可發光器件的壽命進行測試時，需將待測試樣品置于測試盒封閉的腔體中，通過光敏探測器等性能檢測器對待測試樣品的性能進行檢測。但是，在測試過程中，待測試樣品發光并產生熱量，而熱量積聚在測試盒封閉的腔體中得不到釋放，導致測試盒封閉腔體的溫度升高。一方面，測試盒腔體溫度升高會加速待測試樣品的溫度升高，進而加速待測試樣品的老化而降低其壽命，影響壽命測試的準確性；另一方面，測試盒腔體溫度升高會導致光敏探測器等性能檢測器的溫度升高，進而影響光敏探測器等性能檢測器的響應時間和檢測精度，從而影響對待測試樣品性能測試的準確性。因此，測試盒封閉腔體的溫度升高，會影響對待測試樣品性能測試的準確性。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種測試裝置，以解決現有技術中因待測試可發光器件在性能測試過程中產生熱量導致腔體溫度升高而影響測試準確性的問題。

為實現上述目的，本實用新型采用的技術方案是：提供一種測試裝置，所述測試裝置包括：殼體，所述殼體具有測試空腔；安置部，所述安置部設置于所述測試空腔中，且所述安置部具有用于安置待測試可發光器件的安置位；性能檢測器，所述性能檢測器設置于所述測試空腔中，以用于檢測待測試可發光器件的性能；第一溫度傳感器，所述第一溫度傳感器設置于所述測試空腔中，以用于檢測待測試可發光器件處的溫度；以及降溫器，所述降溫器設置于所述測試空腔中或者與所述測試空腔連通，以用于在所述第一溫度傳感器所檢測的溫度高于預設值時對所述測試空腔進行降溫。

在一個實施例中，所述殼體具有進風口和出風口，所述進風口和所述出風口均與所述測試空腔相連通，所述降溫器包括散熱風機，所述散熱風機的出風端與所述進風口連通，和/或所述散熱風機的進風端與所述出風口連通。

在一個實施例中，所述降溫器還包括第一通風管，且所述散熱風機的出風端通過所述第一通風管與所述進風口連通，和/或所述降溫器還包括第二通風管，且所述散熱風機的進風端通過所述第二通風管與所述出風口連通。

在一個實施例中，所述第一通風管為黑色通風管，和/或所述第二通風管為黑色通風管。

在一個實施例中，所述進風口的口徑小于所述出風口的口徑；

在一個實施例中，所述進風口的進風方向朝向所述測試空腔的中部，且所述出風口的出風方向背離所述測試空腔的中部。

在一個實施例中，所述降溫器包括設置于所述測試空腔中的制冷器。

在一個實施例中，所述測試裝置還包括散熱片，所述散熱片連接于所述殼體，且所述性能檢測器設置于所述散熱片上。

在一個實施例中，所述測試裝置還包括：第二溫度傳感器，所述第二溫度傳感器設置于所述測試空腔中，以用于檢測所述性能檢測器處的溫度；以及制冷片，所述制冷片靠近于所述性能檢測器設置，以用于在所述第二溫度傳感器所檢測的溫度高于預設值時對所述性能檢測器進行降溫。