[實(shí)用新型]一種傳感器用厚膜電路的測試電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202023162585.7 | 申請日: | 2020-12-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN214375124U | 公開(公告)日: | 2021-10-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王華征;武晉文;宋繼紅;游信斌 | 申請(專利權(quán))人: | 太原航空儀表有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28;G01R1/30 |
| 代理公司: | 中國航空專利中心 11008 | 代理人: | 孟慶浩 |
| 地址: | 030006 山*** | 國省代碼: | 山西;14 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 傳感 器用 電路 測試 | ||
本實(shí)用新型屬于厚膜電路測試技術(shù),涉及一種傳感器用厚膜電路的測試電路;包含振動(dòng)筒傳感器、厚膜電路、反相器、AD轉(zhuǎn)換器、微處理器、晶振、總線驅(qū)動(dòng)器;振動(dòng)筒傳感器輸出振動(dòng)頻率和穩(wěn)壓信號(hào);輸出端與厚膜電路連接;給振動(dòng)筒傳感器接電源,傳感器起振后將振動(dòng)頻率和穩(wěn)壓發(fā)送給待測試厚膜電路,待測試厚膜電路將頻率信號(hào)發(fā)送給微處理器,將穩(wěn)壓信號(hào)經(jīng)AD轉(zhuǎn)換器發(fā)送給微處理器,微處理計(jì)算從振動(dòng)筒壓力傳感器通電起至頻率達(dá)到穩(wěn)定后的時(shí)間作為厚膜電路啟動(dòng)時(shí)間通過232信號(hào)發(fā)送給顯示屏,微處理器將穩(wěn)壓信號(hào)、振動(dòng)頻率、通過232信號(hào)發(fā)送給顯示屏。本實(shí)用新型用單片機(jī)代替原示波器和計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)方便、快捷地對(duì)厚膜電路進(jìn)行測試。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于厚膜電路測試技術(shù),涉及一種傳感器用厚膜電路的測試電路。
背景技術(shù)
當(dāng)前,大氣數(shù)據(jù)傳感器用厚膜電路測試需要結(jié)合示波器、計(jì)算機(jī)進(jìn)行測試、測試過程復(fù)雜,用時(shí)長,測試效率低。
目前厚膜電路(傳感器信號(hào)調(diào)理電路)采取的測試手段為用示波器、振動(dòng)筒壓力傳感器和配套電路測試啟動(dòng)時(shí)間t1、頻率F和溫壓Vt,用計(jì)算機(jī)軟件對(duì)EEPROM進(jìn)行讀、寫功能測試,從而判定厚膜電路是否工作正常。測試過程復(fù)雜,測試效率低,不便于進(jìn)行大量、批產(chǎn)測試。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是:設(shè)計(jì)一種傳感器用厚膜電路的測試電路,以實(shí)現(xiàn)對(duì)振動(dòng)筒傳感器用厚膜電路進(jìn)行高效率且方便的測試。
為解決此技術(shù)問題,本實(shí)用新型的技術(shù)方案是:
一種傳感器用厚膜電路的測試電路,所述電路包含:
振動(dòng)筒傳感器、厚膜電路、反相器、AD轉(zhuǎn)換器、微處理器、晶振、總線驅(qū)動(dòng)器、顯示屏;
所述振動(dòng)筒傳感器一端與電源連接,一端接地,輸出振動(dòng)頻率F和穩(wěn)壓Vt信號(hào);輸出端與厚膜電路連接;
所述厚膜電路分別與反相器、AD轉(zhuǎn)換器和微處理器連接;
所述晶振、總線驅(qū)動(dòng)器與微處理器連接;
所述微處理器與顯示屏連接,微處理器對(duì)厚膜電路進(jìn)行讀寫操作。
所述電源為+5V。
所述AD轉(zhuǎn)換器為AD7891轉(zhuǎn)換器。
所述微處理器為MC56F8367VPYE。
所述反相器為施密特反相器Max488
所述總線驅(qū)動(dòng)器為232總線驅(qū)動(dòng)器。
所述顯示屏為LED顯示屏。
給振動(dòng)筒傳感器接+5V電源,傳感器起振后將振動(dòng)頻率F和穩(wěn)壓Vt發(fā)送給待測試厚膜電路,待測試厚膜電路將頻率信號(hào)經(jīng)過反相器后發(fā)送給微處理器,將穩(wěn)壓信號(hào)經(jīng)AD轉(zhuǎn)換器發(fā)送給微處理器,微處理計(jì)算從振動(dòng)筒壓力傳感器通電起至頻率達(dá)到穩(wěn)定后的時(shí)間作為厚膜電路啟動(dòng)時(shí)間t1通過232信號(hào)發(fā)送給顯示屏,同時(shí),微處理器將采集到的穩(wěn)壓信號(hào)Vt、振動(dòng)筒穩(wěn)定后的振動(dòng)頻率F、通過232信號(hào)發(fā)送給顯示屏。
本實(shí)用新型的有益效果是:
本實(shí)用新型的電路將厚膜電路測試進(jìn)行簡化,利用MC56F8367VPYE微處理器進(jìn)行頻率信號(hào)采集、解算處理,對(duì)溫壓信號(hào)進(jìn)行AD轉(zhuǎn)換,對(duì)厚膜電路EEPROM進(jìn)行讀、寫操作,并將測試結(jié)果(啟動(dòng)時(shí)間t1、頻率F、溫壓Vt、EEPROM讀、寫功能)通過數(shù)碼屏進(jìn)行顯示,從而實(shí)現(xiàn)方便、快捷地對(duì)厚膜電路進(jìn)行測試。用單片機(jī)代替原示波器和計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)方便、快捷地對(duì)厚膜電路進(jìn)行測試。
附圖說明
為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施的技術(shù)方案,下面將對(duì)本實(shí)用新型的實(shí)例中需要使用的附圖作簡單的解釋。顯而易見,下面所描述的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R31-00 電性能的測試裝置;電故障的探測裝置;以所進(jìn)行的測試在其他位置未提供為特征的電測試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測試;測試對(duì)象多點(diǎn)通過測試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測試
G01R31-08 .探測電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測試





