[實(shí)用新型]一種半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)光輪同步打印設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202023151915.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN215219046U | 公開(公告)日: | 2021-12-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李良義 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 長(zhǎng)電科技(宿遷)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28;B41J3/407;B41J2/435;B41J3/44 |
| 代理公司: | 北京中濟(jì)緯天專利代理有限公司 11429 | 代理人: | 趙海波 |
| 地址: | 223800 江蘇省宿遷*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體 測(cè)試 光輪 同步 打印 設(shè)備 | ||
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)光輪同步打印設(shè)備,它包括自前至后依次布置的振動(dòng)盤(2)、輸送皮帶(6)和芯片測(cè)試機(jī)(7),所述振動(dòng)盤(2)前方設(shè)置有懸掛系統(tǒng)(8),所述懸掛系統(tǒng)(8)上設(shè)置有打印激光器(1)和高速振鏡(3),所述高速振鏡(3)位于打印激光器(1)后方,所述高速振鏡(3)位于輸送皮帶(6)上方。本發(fā)明一種半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)光輪同步打印設(shè)備,它能夠減少測(cè)試機(jī)工位,減少芯片在測(cè)試機(jī)測(cè)試的工時(shí),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品在輸送過程中同時(shí)不停駐的打印,從而大大的提升測(cè)試效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)光輪同步打印設(shè)備,屬于自動(dòng)化生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
隨著社會(huì)的不斷發(fā)展,半導(dǎo)體的需求量越來越大,各種自動(dòng)化高效率設(shè)備不斷研發(fā)并投入以滿足產(chǎn)能需求。但是在半導(dǎo)體芯片封測(cè)行業(yè),半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)卻是一個(gè)影響提效的瓶頸。通過對(duì)現(xiàn)行芯片測(cè)試機(jī)的研究發(fā)現(xiàn),測(cè)試機(jī)在打印客戶要求的相關(guān)信息的時(shí)候往往需要通過轉(zhuǎn)盤將芯片轉(zhuǎn)至指定工位,停駐打印完成后方可繼續(xù)測(cè)試,嚴(yán)重的影響了測(cè)試機(jī)的測(cè)試效率,對(duì)整個(gè)行業(yè)造成一定的困擾。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)提供一種半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)光輪同步打印設(shè)備,它能夠減少測(cè)試機(jī)工位,減少芯片在測(cè)試機(jī)測(cè)試的工時(shí),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品在輸送過程中同時(shí)不停駐的打印,從而大大的提升測(cè)試效率。
本發(fā)明解決上述問題所采用的技術(shù)方案為:一種半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)光輪同步打印設(shè)備,它包括自前至后依次布置的振動(dòng)盤、輸送皮帶和芯片測(cè)試機(jī),所述振動(dòng)盤前方設(shè)置有懸掛系統(tǒng),所述懸掛系統(tǒng)上設(shè)置有打印激光器和高速振鏡,所述高速振鏡位于打印激光器后方,所述高速振鏡位于輸送皮帶上方。
可選的,所述打印激光器與高速振鏡之間通過光路鋁管相連接。
可選的,所述打印激光器和高速振鏡通過腰型槽固定設(shè)置于懸掛系統(tǒng)上。
可選的,所述輸送皮帶一側(cè)設(shè)置有光感開關(guān)和計(jì)米輪。
可選的,所述光感開關(guān)和計(jì)米輪通過固定螺釘附著于輸送皮帶側(cè)邊。
可選的,所述打印設(shè)備還包括軟件系統(tǒng),所述光感開關(guān)和計(jì)米輪通過傳感器線連接至軟件系統(tǒng)的輸入端,軟件系統(tǒng)的輸出端連接至打印激光器。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:
1、本發(fā)明在芯片輸送至芯片測(cè)試機(jī)時(shí)可實(shí)現(xiàn)同步打印,提升測(cè)試效率;
2、本發(fā)明可減小測(cè)試機(jī)工位,降低成本且實(shí)現(xiàn)提效;
3、本發(fā)明可直接用老舊設(shè)備改造升級(jí)且不影響測(cè)試設(shè)備主體,成本相對(duì)較低。
附圖說明
圖1為本發(fā)明一種半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)光輪同步打印設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
其中:
打印激光器1
振動(dòng)盤2
高速振鏡3
光感開關(guān)4
計(jì)米輪5
輸送皮帶6
芯片測(cè)試機(jī)7
懸掛系統(tǒng)8
待測(cè)芯片9。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述。
如圖1所示,本發(fā)明涉及的一種半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)光輪同步打印設(shè)備,它包括自前至后依次布置的振動(dòng)盤2、輸送皮帶6和芯片測(cè)試機(jī)7,所述振動(dòng)盤2前方設(shè)置有懸掛系統(tǒng)8,所述懸掛系統(tǒng)8上設(shè)置有打印激光器1和高速振鏡3,所述高速振鏡3位于打印激光器1后方,所述高速振鏡3位于輸送皮帶6上方;
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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