[實用新型]一種太陽能硅片的檢測系統

有效

• 申請號: 202022955906.2
• 申請日: 2020-12-09
• 公開（公告）號: CN214041188U
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: 凌步軍;朱鵬程;袁明峰;趙有偉;馮高俊;滕宇;呂金鵬;冷志斌
• 申請（專利權）人: 江蘇亞威艾歐斯激光科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/93;G01N21/95;G01N21/84;G01N21/01
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 朱艷

本實用新型公開了一種太陽能硅片的檢測系統，包括上位機、定位裝置及檢測裝置，所述上位機與所述定位裝置通信連接，所述上位機與所述檢測裝置連通信接，所述檢測裝置位于所述定位裝置的中心，本實用新型通過所述定位裝置對待測太陽能硅片進行定位校準，同時，所述檢測裝置對待測太陽能硅片進行破損檢測，這樣既提高了定位精度，又具有破損檢測功能，提高了檢測效率。

技術領域

本實用新型涉及檢測領域，具體涉及太陽能硅片的檢測技術。

背景技術

太陽能電池是通過光電效應或者光化學效應直接把光能轉化成電能的裝置，以光電效應工作的硅基太陽能電池為主流。硅基太陽能電池的制備過程中，硅片的處理和檢測非常重要。由于晶體結構的自身特性，晶硅電池片十分容易發生破裂，晶體硅組件生產的工藝流程長，許多環節都可能造成電池片隱裂。隱裂直接影響光伏組件性能，也是電池片生產中需要重點檢測分選的缺陷之一。例如，外觀上會出現破損，如果破損嚴重，就會影響太陽能電池的外觀及成品率，從而影響太陽能電池的光電轉換效率和成本。因此，有必要對硅片進行檢測。

傳統的太陽能硅片檢測方式有人工檢測、專業的檢測設備檢測等，在人工檢測方式中，人員工作效率低，而且檢測精度相對較差。

實用新型內容

鑒于以上所述現有技術的缺點，本實用新型所要解決的技術問題在于提供一種同時具有定位和破損檢測功能的太陽能硅片的檢測系統。

為解決上述技術問題，本實用新型提供了如下技術方案：

一種太陽能硅片的檢測系統，包括上位機、定位裝置及檢測裝置，所述上位機與所述定位裝置通信連接，所述上位機與所述檢測裝置連通信接，所述檢測裝置位于所述定位裝置的中心。

在本實用新型的一實施例中，所述定位裝置包括控制器、多個定位相機，多個光源，所述多個定位相機與所述多個光源分別一一對應連接，所述控制器與所述多個定位相機連接。

在本實用新型的一實施例中，所述檢測裝置包括一檢測相機及背光源，所述背光源設置于所述檢測相機的正下方。

在本實用新型的一實施例中，所述定位相機包括相機模組及鏡頭，所述鏡頭與所述相機模組連接，所述相機模組內設有用于將光學圖像轉換成電信號的圖像傳感器。

在本實用新型的一實施例中，所述太陽能硅片的檢測系統包括支架，所述支架包括第一安裝板、第二安裝板及支架本體，所述第二安裝板與所述第一安裝板連接，所述第一安裝板與所述支架本體連接。

在本實用新型的一實施例中，所述第一安裝板包括第一豎板及第一橫板，所述第一豎板與所述第一橫板固定連接；所述第二安裝板包括第二豎板及第二橫板，所述第二豎板與所述第二橫板固定連接；所述第一豎板與所述第二豎板連接。

在本實用新型的一實施例中，所述第二橫板呈馬蹄形，且設有一圓形通孔。

本實用新型提供的一種太陽能硅片的檢測系統，包括上位機、定位裝置及檢測裝置，所述上位機與所述定位裝置通信連接，所述上位機與所述檢測裝置連通信接，所述檢測裝置位于所述定位裝置的中心，本實用新型通過所述定位裝置對待測太陽能硅片進行定位校準，同時，所述檢測裝置對待測太陽能硅片進行破損檢測，這樣既提高了定位精度，又具有破損檢測功能，提高了檢測效率。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例的技術方案，下面將對實施例描述所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本實用新型一實施例提供的一種太陽能硅片的檢測系統的結構示意圖；

圖2是本實用新型一實施例提供的一種定位裝置的結構示意圖；