[實用新型]一種帶回路測試功能的光耦高壓測試裝置

有效

• 申請號: 202022941639.3
• 申請日: 2020-12-10
• 公開（公告）號: CN214375118U
• 公開（公告）日: 2021-10-08
• 發明（設計）人: 張廣添;黃寶瑩;吳質樸;何畏
• 申請（專利權）人: 深圳市奧倫德元器件有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 梁國平

1.一種帶回路測試功能的光耦高壓測試裝置，應用于光耦芯片，所述光耦芯片包括芯片輸入端和輸出端，所述輸入端包括第一輸入引腳和第二輸入引腳，所述輸出端包括第一輸出引腳和第二輸出引腳，其特征在于，包括：

底座；

測試單元，所述測試單元安裝在所述底座上，所述測試單元包括用于夾緊芯片的所述第一輸入引腳或所述第一輸出引腳的第一測試單元和用于夾緊芯片的所述第二輸入引腳或所述第二輸出引腳的第二測試單元，所述第一測試單元和所述第二測試單元相鄰設置；

所述第一測試單元包括第一測試片、第二測試片和第三測試片，所述第二測試片和所述第三測試片相鄰設置，所述第一測試片分別與所述第二測試片和所述第三測試片相對設置，所述第一測試片、所述第二測試片和所述第三測試片三者之間形成供芯片所述第一輸入引腳或所述第一輸出引腳放置的第一夾持區；

所述第二測試單元包括第四測試片、第五測試片和第六測試片，所述第五測試片和所述第六測試片相鄰設置，所述第四測試片與所述第五測試片和所述第六測試片相對設置，所述第四測試片、所述第五測試片和所述第六測試片三者之間形成供芯片所述第二輸入引腳或所述第二輸出引腳放置的第二夾持區；

所述第一測試片、所述第二測試片、所述第三測試片、所述第四測試片、所述第五測試片和所述第六測試片分別與所述底座連接；

接線裝置，用于接入高壓測試線，所述接線裝置設置在所述第二測試片的一端和所述第六測試片的一端。

2.根據權利要求1所述的帶回路測試功能的光耦高壓測試裝置，其特征在于，所述測試單元的個數至少一個。

3.根據權利要求1所述的帶回路測試功能的光耦高壓測試裝置，其特征在于，當所述第一夾持區放置芯片所述第一輸入引腳或所述第一輸出引腳時，所述第一測試片、所述第二測試片和所述第三測試片連通。

4.根據權利要求1所述的帶回路測試功能的光耦高壓測試裝置，其特征在于，當所述第二夾持區放置芯片所述第二輸入引腳或所述第二輸出引腳時，所述第四測試片、所述第五測試片和所述第六測試片連通。

5.根據權利要求1所述的帶回路測試功能的光耦高壓測試裝置，其特征在于，當所述第二夾持區放置芯片所述第二輸入引腳或所述第二輸出引腳時，所述第三測試片和所述第五測試片連通。

6.根據權利要求1所述的帶回路測試功能的光耦高壓測試裝置，其特征在于，所述接線裝置包括用于焊接高壓測試線的第一接線孔，所述第一接線孔設置在所述第二測試片的一端。

7.根據權利要求1所述的帶回路測試功能的光耦高壓測試裝置，其特征在于，所述接線裝置包括用于焊接高壓測試線的第二接線孔，所述第二接線孔設置在所述第六測試片的一端。

8.根據權利要求1所述的帶回路測試功能的光耦高壓測試裝置，其特征在于，所述底座的內側還設置有用于安裝所述測試單元的安裝孔，所述測試單元的所述第一測試片、所述第二測試片、所述第三測試片、所述第四測試片、所述第五測試片和所述第六測試片分別通過所述安裝孔與所述底座固定。

9.根據權利要求1所述的帶回路測試功能的光耦高壓測試裝置，其特征在于，所述底座包括第一端面、第二端面和隔離面，所述隔離面設置于所述第一端面和所述第二端面之間，所述第二測試片、所述第三測試片和所述第四測試片分別通過第一安裝孔安裝于所述第一端面上，所述第一測試片、所述第五測試片和所述第六測試片分別通過第二安裝孔安裝于所述第二端面上。

10.根據權利要求1所述的帶回路測試功能的光耦高壓測試裝置，其特征在于，還包括用于固定所述底座的第一固定孔和第二固定孔，所述第一固定孔和所述第二固定孔設置在所述底座上。