[實(shí)用新型]基于三維Radon變換的太赫茲層析成像系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202022921657.5
• 申請(qǐng)日: 2020-12-08
• 公開（公告）號(hào): CN213875421U
• 公開（公告）日: 2021-08-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李昌勇;牛麗婷;劉智城;何穎君;李天樂;朱偉玲
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣東石油化工學(xué)院
• 主分類號(hào): G01N21/3581
• 分類號(hào): G01N21/3581
• 代理公司: 深圳市華盈知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44543
• 代理人: 王松柏

1.一種基于三維Radon變換的太赫茲層析成像系統(tǒng)，包括沿太赫茲波束光路傳輸方向設(shè)置的太赫茲發(fā)射源、樣品臺(tái)、波束轉(zhuǎn)換單元、太赫茲探測(cè)陣列、支撐架、升降架，其特征在于：

所述樣品臺(tái)通過垂直軸旋轉(zhuǎn)步進(jìn)電機(jī)設(shè)置在支撐架上；

所述波束轉(zhuǎn)換單元包括第一衍射光學(xué)元件和第二衍射光學(xué)元件；

所述升降架上設(shè)有升降步進(jìn)電機(jī)，所述升降步進(jìn)電機(jī)的輸出軸上連接有水平軸旋轉(zhuǎn)步進(jìn)電機(jī)，所述水平軸旋轉(zhuǎn)步進(jìn)電機(jī)的輸出軸連接有U形架，所述太赫茲發(fā)射源固定在U形架的左側(cè)，所述波束轉(zhuǎn)換單元、太赫茲探測(cè)陣列從左到右依次固定在U形架的右側(cè)，所述U形架帶動(dòng)太赫茲發(fā)射源、波束轉(zhuǎn)換單元和太赫茲探測(cè)陣列同步轉(zhuǎn)動(dòng)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于三維Radon變換的太赫茲層析成像系統(tǒng)，其特征在于：所述波束轉(zhuǎn)換單元包括第一衍射光學(xué)元件和第二衍射光學(xué)元件，所述第一衍射光學(xué)元件為準(zhǔn)直式光學(xué)元件，所述第二衍射光學(xué)元件為會(huì)聚式光學(xué)元件，所述準(zhǔn)直式光學(xué)元件、會(huì)聚式光學(xué)元件為具有聚焦功能的衍射光學(xué)元件或柱面鏡。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于三維Radon變換的太赫茲層析成像系統(tǒng)，其特征在于：所述太赫茲層析成像系統(tǒng)還包括數(shù)據(jù)采集卡、步進(jìn)電機(jī)控制器和控制模塊，所述步進(jìn)電機(jī)控制器同時(shí)與升降步進(jìn)電機(jī)、水平軸旋轉(zhuǎn)步進(jìn)電機(jī)、垂直軸旋轉(zhuǎn)步進(jìn)電機(jī)電連接，所述數(shù)據(jù)采集卡與太赫茲探測(cè)陣列電連接，所述控制模塊同時(shí)與所述數(shù)據(jù)采集卡、步進(jìn)電機(jī)控制器電連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于三維Radon變換的太赫茲層析成像系統(tǒng)，其特征在于：所述太赫茲探測(cè)陣列水平放置，并且太赫茲探測(cè)陣列中心與太赫茲波束的中心軸線垂直相交。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于三維Radon變換的太赫茲層析成像系統(tǒng)，其特征在于：所述太赫茲探測(cè)陣列為光電式探測(cè)器件。