[實用新型]數字集成電路測試裝置和數字集成電路測試系統

有效

• 申請號: 202022917808.X
• 申請日: 2020-12-08
• 公開（公告）號: CN213780287U
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發明（設計）人: 陳良;郭憲超;石培杰;姚健
• 申請（專利權）人: 北京華峰測控技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606
• 代理人: 魏朋

本申請實施例提供一種數字集成電路測試裝置和數字集成電路測試系統。包括所述數字集成電路測試裝置包括儲存模塊、控制模塊和通道切換模塊。所述儲存模塊包括多個單通道儲存單元。所述控制模塊包括多個單通道控制電路。所述多個單通道儲存單元和所述多個單通道控制電路一一對應連接。每個所述單通道控制電路和與其連接的單通道儲存單元構成一個單通道資源組。所述通道切換模塊與所述多個單通道控制電路連接，因此每個通道的對應連接關系可以根據需求改變；每個通道的初始化數據和控制程序可以差異化設置，從而提高了所述數字集成電路測試裝置使用的靈活性。

技術領域

本申請涉及集成電路測試技術領域，特別是涉及一種數字集成電路測試裝置和數字集成電路測試系統。

背景技術

在集成電路測試技術領域，傳統數字集成電路測試系統通常是一套核心控制電路和一套儲存模塊，控制N(通常取值為8,16,32,64,128)通道。這種多通道共用數字集成電路測試系統在使用過程中會使得通道間關聯性緊密，在使用過程中會造成應用限制。

實用新型內容

基于此，有必要針對上述問題，提供一種數字集成電路測試裝置和數字集成電路測試系統。

一種數字集成電路測試裝置，包括：

儲存模塊，包括多個單通道儲存單元；

控制模塊，包括多個單通道控制電路，所述多個單通道儲存單元和所述多個單通道控制電路一一對應連接；以及

通道切換模塊，與所述多個單通道控制電路連接，用于連接被測試器件。

在一個實施例中，所述單通道儲存單元包括控制數據子單元，所述單通道控制電路包括相互連接的時鐘發生器和速率及地址發生器，所述控制數據子單元分別與所述時鐘發生器和所述速率及地址發生器連接，所述控制數據子單元用于控制所述速率及地址發生器產生速率和訪問地址，并與所述速率及地址發生器共同控制所述時鐘發生器產生時鐘信號。

在一個實施例中，所述單通道儲存單元包括向量數據子單元，所述單通道控制電路包括波形發生器，所述向量數據子單元與所述波形發生器連接，所述時鐘發生器與所述波形發生器連接，所述波形發生器與所述通道切換模塊連接，所述向量數據子單元和所述時鐘發生器產生的時鐘信號用于使所述波形發生器向所述通道切換模塊發送驅動波形信號。

在一個實施例中，所述單通道控制電路包括波形比較器，所述向量數據子單元與波形比較器連接，所述向量數據子單元用于使所述波形比較器產生預期波形信號，所述波形比較器還與所述通道切換模塊連接，用于接收響應波形信號，所述響應波形信號是所述被測試器件在所述驅動波形信號的激勵下得到的。

在一個實施例中，所述波形發生器與所述波形比較器連接，所述向量數據子單元用于通過所述波形發生器使所述波形比較器產生預期波形信號。

在一個實施例中，所述單通道儲存單元還包括結果儲存子單元，與所述波形比較器連接，用于儲存所述預期波形信號和所述響應波形信號的比較結果。

在一個實施例中，所述結果儲存子單元用于儲存所述預期波形信號和響應波形信號比較后的錯誤結果。

在一個實施例中，還包括電平驅動比較電路，所述電平驅動比較電路與所述通道切換模塊和所述被測試器件連接。

在一個實施例中，所述通道切換模塊包括多個第一多路選擇器和多個第二多路選擇器，所述多個第一多路選擇器和所述多個第二多路選擇器與所述電平驅動比較電路連接，所述多個第一多路選擇器和所述多個第二多路選擇器還與所述控制模塊連接；

每個所述第一多路選擇器用于選擇所述控制模塊產生的多個驅動波形信號之一經過所述電平驅動比較電路發送給所述被測試器件；每個所述第二多路選擇器用于選擇從所述電平驅動比較電路返回的多個響應波形信號之一發送給所述控制模塊，其中，所述響應波形信號是所述被測試器件在所述驅動波形信號的激勵下得到的。