[實用新型]電性測試裝置

有效

• 申請號: 202022827927.6
• 申請日: 2020-11-30
• 公開（公告）號: CN214555461U
• 公開（公告）日: 2021-11-02
• 發明（設計）人: 林廣滿;陳林山;范聚吉;王建勇
• 申請（專利權）人: 深圳市深科達半導體科技有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;G01R31/01
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 王新哲

本申請適用于電工設備技術領域，提供了一種電性測試裝置，包括第一驅動件、第二驅動件、轉盤、衛星盤、吸嘴座、下壓機構和檢測座，第一驅動件驅動轉盤旋轉；第二驅動件驅動衛星盤旋轉；吸嘴座設于衛星盤上，沿吸嘴座的周向設有多個吸嘴；下壓機構用于下壓吸嘴吸取待測件和下壓吸嘴上的待測件進行電性測試；檢測座用于對吸嘴上的待測件進行電性測試。本申請提供的電性測試裝置，通過分別驅動轉盤和衛星盤轉動，下壓機構可以分別對衛星盤上的吸嘴進行吸取待測件和下壓待測件到檢測座上進行電性測試，對檢測完的吸嘴下的待測件，衛星盤轉動，使未檢測的吸嘴下的待測件被下壓機構下壓進行電性測試，避免其他吸嘴在吸取待測件等待時間，提高測試效率。

技術領域

本申請涉及電工設備技術領域，更具體地說，是涉及一種電性測試裝置。

背景技術

目前，隨著半導體分立器件產業在國際市場占有舉足輕重的地位提升，并保持著持續、快速、穩定的發展，同時電子整機、消費類電子產品等市場的發展，使半導體分立器件的需求量的增長。因此，現代的生產工廠需要一種高速，高性能的測試分選設備以滿足其生產需要，市場上材料測試的方式有并測和串測兩種方式。機臺上一般是有4個測試站，站與站之間都是挨著分布在主轉盤的一側，材料從主轉盤進入測試站，一個轉盤與下壓機構連接，另一個轉盤與吸嘴座連接，其旋轉電機分別與兩個轉盤連接，并帶動兩個轉盤同步轉動，其串測的檢測方式是材料通過主轉盤的旋轉和上下運動逐一通過4個測試站的檢測完成測試；并測的檢測方式是主轉盤旋轉運送4顆材料陸續到四個測試站上方(4個吸嘴對應4個測試站)，此時吸嘴同時下壓到測試座接觸測試片進行檢測，檢測完成之后吸嘴同時取料完成電性測試。無論是串測還是并測，兩個轉盤都是在一個旋轉電機的驅動下同步轉動，使下壓機構與吸嘴座只能對應設置，導致用戶使用時適用性差、效率低的問題。

實用新型內容

本申請實施例的目的在于提供一種電性測試裝置，旨在解決現有技術中測試設備的兩個轉盤由同一個旋轉電機驅動導致其用戶使用時適用性差、效率低的技術問題。

為實現上述目的，本申請采用的技術方案是：提供一種電性測試裝置，包括：

第一驅動件；

第二驅動件，所述第二驅動件與所述第一驅動件同軸設置；

轉盤，所述轉盤與所述第一驅動件連接，所述第一驅動件驅動所述轉盤旋轉；

衛星盤，所述衛星盤與所述第二驅動件連接，所述第二驅動件驅動所述衛星盤旋轉；

吸嘴座，所述吸嘴座設置于所述衛星盤上，沿所述吸嘴座的周向設置有多個吸嘴；

下壓機構，所述下壓機構設置于所述轉盤上，用于下壓所述吸嘴吸取待測件和下壓所述吸嘴上的待測件進行電性測試；

檢測座，所述檢測座設置于所述衛星盤的下方，用于對所述吸嘴上的待測件進行電性測試。

進一步地，所述第二驅動件包括第二驅動電機和第二輸出軸，所述第二驅動電機和所述第二輸出軸設置有中空結構，所述第二輸出軸與所述衛星盤連接；

所述第一驅動件包括第一驅動電機和第一輸出軸，所述第一驅動電機與所述第一輸出軸連接，所述第一輸出軸依次穿過所述第二驅動電機的中空結構、所述第二輸出軸的中空結構和所述衛星盤與所述轉盤連接。

進一步地，所述吸嘴座設置有兩個，且兩個所述吸嘴座沿所述衛星盤周向設置，且每個所述吸嘴座上設置吸嘴數量與所述檢測座的數量相等。

進一步地，所述吸嘴座呈扇形，多個所述吸嘴沿所述吸嘴座的邊緣設置。

進一步地，所述下壓機構包括驅動部和頂桿組件，所述驅動部與所述頂桿組件連接，所述驅動件驅動所述頂桿組件向所述衛星盤的方向往返運動。

進一步地，所述下壓機構還包括支座，所述驅動部與所述支座固定連接，且所述驅動部的輸出軸穿過所述支座與所述頂桿組件傳動連接。