[實(shí)用新型]一種平行同軸光源有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202022809213.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN213580705U | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-06-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李斌 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京圖辰科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京細(xì)軟智谷知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11471 | 代理人: | 李夢(mèng)晨 |
| 地址: | 100089 北京市海淀*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 平行 同軸 光源 | ||
本申請(qǐng)公開(kāi)了一種平行同軸光源,包括發(fā)光顆粒、半透半反鏡和菲涅爾透鏡,發(fā)光顆粒與菲涅爾透鏡之間設(shè)有兩個(gè)光柵鏡片,兩個(gè)光柵鏡片相互平行且可相對(duì)于菲涅爾透鏡移動(dòng),移動(dòng)位置包括與菲涅爾透鏡視場(chǎng)重疊的第一位置和位于菲涅爾透鏡視場(chǎng)之外的第二位置,光柵鏡片上設(shè)有多個(gè)平行的條形孔,兩光柵鏡片上的條形孔相互垂直。如此設(shè)置,發(fā)光顆粒發(fā)出的光線經(jīng)過(guò)條形孔后沿條形孔長(zhǎng)邊所在截面的發(fā)散程度減小,即光線的發(fā)散角減小,光線的準(zhǔn)直度得到提高,使成像更清晰,在對(duì)印痕類缺陷進(jìn)行檢測(cè)成像時(shí),可以先后兩次使用不同的光柵鏡片進(jìn)行檢測(cè)成像,滿足了對(duì)印痕類缺陷的檢測(cè)需求,同時(shí),也可對(duì)與條形孔延伸方向平行或近似平行的波紋缺陷進(jìn)行檢測(cè)成像。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及照明技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種平行同軸光源。
背景技術(shù)
卡片、平面五金、平面反光類物體(如有機(jī)玻璃、陶瓷等)在生產(chǎn)制程中,其表面會(huì)產(chǎn)生劃痕、壓痕、凹凸點(diǎn)、褶皺、印痕、波紋等缺陷,工藝制程的成熟度不同,造成缺陷的嚴(yán)重程度不一。為提高產(chǎn)品質(zhì)量,一般采用檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行缺陷檢測(cè),以達(dá)到質(zhì)量把關(guān)的目的。同軸光源可以提供比傳統(tǒng)光源更均勻、準(zhǔn)直度更高的照明,同時(shí)可以避免物體發(fā)光,將其應(yīng)用在檢測(cè)設(shè)備上,可以提高檢測(cè)設(shè)備的檢測(cè)準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。但由于印痕和波紋類缺陷對(duì)光線準(zhǔn)直度的需求較高,現(xiàn)有技術(shù)中的同軸光源的出射光在某一特定角度或方向上發(fā)散角較大,準(zhǔn)直度較低,對(duì)于印痕和波紋類缺陷無(wú)法成像,無(wú)法滿足陶瓷、有機(jī)玻璃、透明薄膜材料等的檢測(cè)需求。
因此,如何解決現(xiàn)有技術(shù)中的同軸光源的出射光發(fā)散角較大,準(zhǔn)直度較低,無(wú)法滿足對(duì)印痕和波紋類缺陷的檢測(cè)需求的問(wèn)題,成為本領(lǐng)域技術(shù)人員所要解決的重要技術(shù)問(wèn)題。
實(shí)用新型內(nèi)容
為至少在一定程度上克服相關(guān)技術(shù)中存在的問(wèn)題,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N平行同軸光源,其能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中的同軸光源的出射光發(fā)散角較大,準(zhǔn)直度較低,無(wú)法滿足對(duì)印痕和波紋類缺陷的檢測(cè)需求的問(wèn)題。
本實(shí)用新型是這樣實(shí)現(xiàn)的:一種平行同軸光源,包括發(fā)光顆粒、半透半反鏡和設(shè)置在所述發(fā)光顆粒與所述半透半反鏡之間的菲涅爾透鏡,所述半透半反鏡與所述菲涅爾透鏡之間具有夾角,所述發(fā)光顆粒與所述菲涅爾透鏡之間設(shè)置有兩個(gè)與所述菲涅爾透鏡平行設(shè)置的光柵鏡片,兩個(gè)所述光柵鏡片相互平行且可沿與入射光線垂直的方向相對(duì)于所述菲涅爾透鏡移動(dòng),所述光柵鏡片的移動(dòng)位置包括與所述菲涅爾透鏡視場(chǎng)重疊設(shè)置的第一位置和位于所述菲涅爾透鏡視場(chǎng)之外的第二位置,所述光柵鏡片上設(shè)置有多個(gè)相互平行設(shè)置的條形孔,兩個(gè)所述光柵鏡片上的所述條形孔的延伸方向相互垂直。
優(yōu)選地,還包括反射鏡,所述反射鏡與所述光柵鏡片之間的夾角為45度,所述反射鏡與所述發(fā)光顆粒發(fā)出的光線之間的夾角為45度。
優(yōu)選地,包括固定框架和兩個(gè)分別用于對(duì)所述光柵鏡片進(jìn)行支撐的支撐架,所述支撐架與所述固定框架之間滑動(dòng)連接,所述支撐架與所述固定框架之間設(shè)置有用于驅(qū)使所述支撐架相對(duì)于所述固定框架進(jìn)行移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)。
優(yōu)選地,所述光柵鏡片可轉(zhuǎn)動(dòng)的設(shè)置在所述支撐架上,所述光柵鏡片與所述支撐架之間設(shè)置有用于對(duì)所述光柵鏡片和所述支撐架之間的相對(duì)位置進(jìn)行固定的固定結(jié)構(gòu)。
優(yōu)選地,所述固定框架與所述支撐架之間設(shè)置有用于為所述支撐架的移動(dòng)導(dǎo)向的導(dǎo)向組件。
優(yōu)選地,所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括無(wú)桿氣缸,所述無(wú)桿氣缸的軸向與所述支撐架的滑動(dòng)方向平行。
優(yōu)選地,所述發(fā)光顆粒與所述反射鏡外部設(shè)置有第一外殼,所述第一外殼面向所述光柵鏡片的一側(cè)設(shè)置有第一保護(hù)窗,所述第一外殼設(shè)置有所述發(fā)光顆粒的一端設(shè)置有散熱組件。
優(yōu)選地,所述散熱組件包括設(shè)置在所述第一外殼上的散熱片和散熱風(fēng)扇。
優(yōu)選地,所述菲涅爾透鏡與所述半透半反鏡的外部設(shè)置有第二外殼,所述第二外殼上設(shè)置有與所述半透半反鏡的出射光線垂直的第二保護(hù)窗和第三保護(hù)窗。
優(yōu)選地,所述第一外殼和所述第二外殼的外表面設(shè)置有提手。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





