[實用新型]一種光學測微儀

有效

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• 申請日: 2020-11-26
• 公開（公告）號: CN214308597U
• 公開（公告）日: 2021-09-28
• 發(fā)明（設計）人: 周敬凱
• 申請（專利權）人: 周敬凱
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 深圳市道臻知識產權代理有限公司 44360
• 代理人: 陳嘉琪

本實用新型涉及光學測量領域，具體涉及一種光學測微儀；所述光學測微儀包括設置有測量槽的殼體、用于發(fā)射激光的激光筆以及塑料膜，所述激光筆和塑料膜均設置在殼體內，所述測量槽設置在激光筆和塑料膜之間，其中，被測物放置在測量槽內并經激光衍射以在塑料膜上形成干涉條紋；本實用新型設計了一種光學測微儀，其通過雙縫干涉的光學原理實現了質地較軟的微米級物體的尺寸測量，該裝置不僅結構簡單、操作簡單、適用范圍廣，而且測量精度也可以得到保證；另外，由于成本低廉、便攜式設計且無需電源，因此非常適合在中學物理演示教學過程中廣泛使用。

技術領域

本實用新型涉及光學測量領域，具體涉及一種光學測微儀。

背景技術

對于微米級尺寸物的長度通常是通過螺旋測微器測量，螺旋測微器又稱千分尺、螺旋測微儀或分厘卡，其是比游標卡尺更精密的測量長度的工具，用它測長度可以準確到0.01mm，其測量范圍為厘米級；它的一部分加工成螺距為0.5mm的螺紋，當螺紋在固定套管的螺套中轉動時，將前進或后退，活動套管和螺桿連成一體，其周邊等分成50個分格，螺桿轉動的整圈數由固定套管上間隔0.5mm的刻線去測量，不足一圈的部分由活動套管周邊的刻線去測量，最終測量結果需要估讀一位小數；盡管其可以實現微米級測量，但是對于質地較軟的物體，如微米級尺寸的頭發(fā)絲、薄紙、細鐵絲等，如果采用螺旋測微器測量，那么，其在測量過程中產生的機械應力將會給測量結果帶來很大的誤差，最終使得測量結果可信度不高。

因此，設計一種用于質地較軟的微米級物體尺寸測量且精度誤差小的光學測微儀對本領域來說是至關重要的。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題在于，針對現有技術的上述缺陷，提供一種光學測微儀，克服了現有技術中存在的由于機械應力給測量結果所帶來較大誤差的缺陷。

本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是：提供一種光學測微儀，其優(yōu)選方案在于：所述光學測微儀包括設置有測量槽的殼體、用于發(fā)射激光的激光筆以及塑料膜，所述激光筆和塑料膜均設置在殼體內，所述測量槽設置在激光筆和塑料膜之間，其中，被測物放置在測量槽內并經激光衍射以在塑料膜上形成干涉條紋。

其中，較佳方案為：所述塑料膜上設置有用于讀取干涉條紋間距的刻度線。

其中，較佳方案為：所述殼體包括用于容納激光筆的第一套筒以及用于容納塑料膜的第二套筒，所述測量槽設置在第一套筒和第二套筒之間。

其中，較佳方案為：所述第一套筒內還設置有用于固定激光筆的第一固定卡位。

其中，較佳方案為：所述第二套筒內還設置有用于固定塑料膜的第二固定卡位。

其中，較佳方案為：所述測量槽兩端均設置有一用于防塵以及定位被測物的玻璃片。

其中，較佳方案為：所述玻璃片為透明玻璃。

其中，較佳方案為：所述光學測微儀還包括一用于觀測塑料膜上的干涉條紋的觀察筒。

其中，較佳方案為：所述光學測微儀還包括設置在觀察筒端部的凸透鏡。

其中，較佳方案為：所述塑料膜為硬質塑料膜。

本實用新型的有益效果在于，與現有技術相比，本實用新型設計了一種光學測微儀，其通過雙縫干涉的光學原理實現了質地較軟的微米級物體的尺寸測量，該裝置不僅結構簡單、操作簡單、適用范圍廣，而且測量精度也可以得到保證；另外，由于成本低廉、便攜式設計且無需電源，因此非常適合在中學物理演示教學過程中廣泛使用。

附圖說明

下面將結合附圖及實施例對本實用新型作進一步說明，附圖中：

圖1是本實用新型中的一種光學測微儀的結構示意圖；

圖2是本實用新型中的塑料膜的結構示意圖。

具體實施方式