[實用新型]一種電致熒光發光壽命探測系統有效

申請號：	202022697815.3	申請日：	2020-11-19
公開（公告）號：	CN213633177U	公開（公告）日：	2021-07-06
發明（設計）人：	王川;王輝文	申請（專利權）人：	武漢東隆科技有限公司
主分類號：	G01N21/64	分類號：	G01N21/64;G01N21/66;G01J3/44;G01J3/443;G01J3/02
代理公司：	武漢智慧恒知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 42232	代理人：	張揚
地址：	430000 湖北省武漢市洪山***	國省代碼：	湖北;42
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種熒光發光壽命探測系統
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【權利要求書】：

1.一種電致熒光發光壽命探測系統，其特征在于，包括：倒置光學顯微鏡，所述倒置光學顯微鏡的樣品臺正下方設置有物鏡，所述樣品臺上對應于物鏡的位置固定放置有熒光探測的樣品，所述樣品的兩端被施加電場；所述物鏡的正下方設置有全反鏡；所述倒置光學顯微鏡的一側設置有隔光的外殼，所述外殼內設置有聚焦鏡、可調節針孔、擴束鏡以及光學探測器，所述全反鏡、聚焦鏡、可調節針孔、擴束鏡以及光學探測器依次同軸設置。

2.根據權利要求1所述的電致熒光發光壽命探測系統，其特征在于：所述擴束鏡和光學探測器之間的光路中還設置有濾光片。

3.根據權利要求1所述的電致熒光發光壽命探測系統，其特征在于：所述擴束鏡和光學探測器之間的光路中還設置有偏振片。

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