[實(shí)用新型]一種粉末衍射法測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)用檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202022602092.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN214066987U | 公開(公告)日: | 2021-08-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳志龍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 佛山市順德區(qū)榮協(xié)粉末有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N23/20 | 分類號(hào): | G01N23/20;G01N23/20025 |
| 代理公司: | 北京艾皮專利代理有限公司 11777 | 代理人: | 楊克 |
| 地址: | 528000 廣東省佛山市順德區(qū)均安鎮(zhèn)*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 粉末 衍射 測(cè)定 晶體結(jié)構(gòu) 檢測(cè) 裝置 | ||
1.一種粉末衍射法測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)用檢測(cè)裝置,其特征在于,包括機(jī)體,所述機(jī)體前端面固定安裝有前置面板,所述前置面板前端面轉(zhuǎn)動(dòng)連接有轉(zhuǎn)動(dòng)門,所述轉(zhuǎn)動(dòng)門前端面固定安裝有顯示屏,所述轉(zhuǎn)動(dòng)門前端面位于顯示屏四周位置處均固定安裝有控制按鈕,所述機(jī)體兩側(cè)外表面均開設(shè)有散熱槽,所述機(jī)體兩側(cè)外表面位于散熱槽兩側(cè)均開設(shè)有滑槽,兩個(gè)所述滑槽之間滑動(dòng)連接有擋板,所述擋板一端中間兩側(cè)位置處均固定安裝有置納塊,所述機(jī)體兩側(cè)外表面一端位置處固定安裝有空心塊,所述空心塊內(nèi)部?jī)蓚?cè)均活動(dòng)連接有按壓軸。
2.如權(quán)利要求1所述的粉末衍射法測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)用檢測(cè)裝置,其特征在于:所述擋板與滑槽之間活動(dòng)連接有活動(dòng)柱,所述活動(dòng)柱環(huán)形外表面固定連接有連接彈簧。
3.如權(quán)利要求1所述的粉末衍射法測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)用檢測(cè)裝置,其特征在于:所述機(jī)體內(nèi)部中間位置處活動(dòng)連接有空心框,所述空心框下端面中間位置處固定安裝有連接塊,所述機(jī)體內(nèi)部一側(cè)位置處固定安裝有轉(zhuǎn)動(dòng)馬達(dá),所述轉(zhuǎn)動(dòng)馬達(dá)輸出端固定安裝有轉(zhuǎn)動(dòng)桿。
4.如權(quán)利要求3所述的粉末衍射法測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)用檢測(cè)裝置,其特征在于:所述連接塊內(nèi)部開設(shè)有供轉(zhuǎn)動(dòng)桿活動(dòng)的槽口,所述轉(zhuǎn)動(dòng)桿環(huán)形外表面開設(shè)有外螺紋,所述轉(zhuǎn)動(dòng)桿與連接塊之間螺紋式連接。
5.如權(quán)利要求1所述的粉末衍射法測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)用檢測(cè)裝置,其特征在于:所述擋板內(nèi)壁兩側(cè)均開設(shè)有供活動(dòng)柱活動(dòng)的槽口,且活動(dòng)柱與槽口之間活動(dòng)連接。
6.如權(quán)利要求1所述的粉末衍射法測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)用檢測(cè)裝置,其特征在于:所述空心塊內(nèi)壁兩側(cè)均開設(shè)有供置納塊插入的槽口,所述置納塊與空心塊之間嵌入式連接,所述按壓軸與置納塊相抵觸。
7.如權(quán)利要求1所述的粉末衍射法測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)用檢測(cè)裝置,其特征在于:所述擋板的位置與散熱槽的位置相對(duì)應(yīng),所述擋板與滑槽之間滑動(dòng)連接。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
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