[實用新型]轉接針座有效

申請號：	202022585227.0	申請日：	2020-11-10
公開（公告）號：	CN213517436U	公開（公告）日：	2021-06-22
發明（設計）人：	李林峰;陳龍;郭征軍;李銘輝	申請（專利權）人：	嘉興市云達智能科技有限公司
主分類號：	G01R31/28	分類號：	G01R31/28;G01R1/067
代理公司：	北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463	代理人：	郭金鑫
地址：	314000 浙江省嘉***	國省代碼：	浙江;33
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摘要：
搜索關鍵詞：	轉接
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【說明書】：

本實用新型提供一種轉接針座，涉及PCB測試技術領域，包括針座本體和轉接針；轉接針包括沿長度方向依次連接的頭端、中部段和尾端，頭端、中部段和尾端均由導電材料制成；轉接針以長度方向沿針座本體的厚度方向延伸的方式穿過針座本體，且轉接針的頭端和轉接針的尾端均伸出于針座本體的外部。本實用新型能夠應用于PCB測試技術中的裝置，從而在保證測試穩定的情況下，提高PCB導通率、降低PCB報廢率、提高PCB使用壽命。

技術領域

本實用新型涉及PCB測試技術領域，尤其是涉及一種轉接針座。

背景技術

現有技術中，在對PCB進行測試時，針模上探針尾端與PCB銅箔間為硬性接觸，測試PCB產品時，探針上探針頭端以及探針尾端和探針頭端中間的部位將彎曲變形產生彈力，該彈力作用于PCB表面銅箔上，而PCB表面銅箔較薄易于磨損，探針尾端容易磨損或扎傷PCB表面銅箔，多次使用后PCB表面銅箔還會產生穿孔，從而，現有技術中針模上探針尾端與PCB表面間硬性接觸的測試方式至少存在有將導致PCB導通率差、報廢率高、使用壽命短的問題。

目前，部分工程技術人員試圖采用縮短對探針進行壓縮的壓縮量，以減小測試時探針的彎曲量，進而減少探針彎曲產生的彈力的方式減少對PCB的損傷，但是這種方式因探針壓縮量小，容易導致探針接觸不到產品而測試不穩定，進而影響測試良率。

綜上，目前，急需研發出一種能夠應用于PCB測試技術中的裝置，從而在保證測試穩定的情況下，提高PCB導通率、降低PCB報廢率、提高PCB使用壽命。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種轉接針座，該轉接針座能夠應用于PCB測試技術中的裝置，從而在保證測試穩定的情況下，提高PCB導通率、降低PCB報廢率、提高PCB使用壽命。

為實現上述目的，本實用新型實施例采用如下技術方案：

第一方面，本實用新型實施例提供了一種轉接針座，包括針座本體和轉接針；

所述轉接針包括沿長度方向依次連接的頭端、中部段和尾端，所述頭端、所述中部段和所述尾端均由導電材料制成；

所述轉接針以長度方向沿所述針座本體的厚度方向延伸的方式穿過所述針座本體，且所述轉接針的頭端和所述轉接針的尾端均伸出于所述針座本體的外部。

結合第一方面，本實用新型實施例提供了第一方面的第一種可能的實施方式，其中，所述轉接針中：所述頭端、所述中部段和所述尾端均由非彈性導體制成，和/或，所述頭端的表面、所述中部段的表面以及所述尾端的表面均鍍有硬金。

結合第一方面，本實用新型實施例提供了第一方面的第二種可能的實施方式，其中，所述轉接針中：

所述尾端由彈性導體制成；

以及，所述頭端和所述中部段均由非彈性導體制成，和/或，所述頭端的表面和所述中部段的表面均鍍有硬金。