[實用新型]一種一體化場均勻性校準信號發生裝置

有效

• 申請號: 202022570246.6
• 申請日: 2020-11-09
• 公開（公告）號: CN213903613U
• 公開（公告）日: 2021-08-06
• 發明（設計）人: 李紹鵬
• 申請（專利權）人: 甘特云科技（武漢）有限公司
• 主分類號: G01R1/28
• 分類號: G01R1/28;G01R35/00
• 代理公司: 武漢尚智聯合知識產權代理有限公司 42280
• 代理人: 熊軍

本實用新型公開了一種一體化場均勻性校準信號發生裝置，包含電源模塊、主控模塊、順次連接的射頻信號發生模塊、功率放大模塊和定向耦合器，主控模塊用于控制射頻信號發生模塊輸出射頻信號，功率放大模塊接收不同頻段的射頻信號放大后輸出至定向耦合器；功率放大模塊包括多個不同頻段的放大電路；每個放大電路均包含有電壓增益級和功率放大級，電壓增益級用于放大信號幅度后輸出到功率放大級；每個放大電路信號輸入端和輸出端分別連接有射頻通道切換單元，兩個射頻通道切換單元接收主控模塊指令來控制其中一個放大電路通道與定向耦合器連接。本實用新型能夠用于各種場地均勻性校準測試，方便運輸攜帶。

技術領域

本實用新型屬于電磁場測試技術領域，特別涉及一種一體化場均勻性校準信號發生裝置。

背景技術

隨著無線電技術的廣泛應用與不斷發展，各種無線電設備的不斷涌出，使得設備之間的干擾越來越嚴重。同時，電子技術與計算機技術的不斷提高，系統的集成度越來越高，電子設備的頻帶日益加寬，靈敏度提高，設備間的電纜網絡變得越來越復雜，因此，為了使設備能夠正常工作，必須對設備的抗干擾性能進行評估，這就需要對設備進行電磁場的輻射抗干擾性實驗。半電波暗室是進行輻射抗干擾性試驗的主要場地，而場均勻性作為衡量實驗場地性能的重要指標，是保證實驗有效進行下去的關鍵，也是保證EUT在試驗中測試結果的可靠性和重復性的關鍵。故對半電波暗室中場均勻性進行測試評估是非常重要的。

為了評估電子設備抗射頻電磁場干擾的能力，需要在干凈的電磁環境中產生均勻的射頻電場對電子設備進行干擾測試。為了使此測試的結果有效且可重復性好，國際上制定了相應的標準，并描述了場均勻性校準的方法。

場均勻性校準的一般方法是依據IEC 61000-4-3(對應國標GB/T 17626.3)在規定頻段內對1.5m*1.5m的一個垂直面進行場均勻性測試。將此垂直面按照一定的間距劃分為多個測試點位，場強探頭依次放置在每個點位上進行場強測量；測量期間通過計算機控制調整信號源輸出幅度以獲得一定的前向功率或者場強值；最后通過比較各點位數據的差異來評估場均勻性。

授權公告號：CN205608094U公開了一種半電波暗室場均勻性測試裝置，包括半電波暗室和控制室，控制室位于半電波暗室外，且半電波暗室和控制室互為獨立空間，半電波暗室內設置有發射天線和全向場探頭，且發射天線和全向場探頭之間的地上鋪設有吸波材料；控制室內設置有信號發生器，信號發生器依次連接有功率放大器和定向耦合器，定向耦合器通過射頻電纜連接位于半電波暗室內的發射天線。能夠對不同尺寸的半電波暗室進行場均勻性的測試。

目前，場均勻性校準使用獨立的多臺儀器產生信號，通常包含射頻信號源、多臺不同頻率段的功率放大器、射頻開關、不同頻率段的定向耦合器以及連接這些儀器端口之間的射頻線纜。設備數量多，成本高，不方便運輸攜帶。

實用新型內容

本實用新型的目的在于克服現有技術缺點，提供一種一體化的便于運輸攜帶的場均勻性校準信號發生裝置。

為實現上述目的，本實用新型采用下述技術方案：

一種一體化場均勻性校準信號發生裝置，包含電源模塊、主控模塊、順次連接的射頻信號發生模塊、功率放大模塊和定向耦合器，其特征在于：所述主控模塊用于控制射頻信號發生模塊輸出射頻信號，功率放大模塊接收不同頻段的射頻信號放大后輸出至定向耦合器；

所述功率放大模塊包括多個不同頻段的放大電路；每個放大電路均包含有電壓增益級和功率放大級，電壓增益級用于放大信號幅度后輸出到功率放大級；每個放大電路信號輸入端和輸出端分別連接有射頻通道切換單元，兩個射頻通道切換單元接收主控模塊指令來控制其中一個放大電路通道與定向耦合器連接。

如上所述的一體化場均勻性校準信號發生裝置，其特征在于：所述定向耦合器的前向和反向耦合端與主控模塊之間分別設置有功率計，兩個功率計分別用于對輸出信號的前向功率與反向功率進行測量。