[實(shí)用新型]用于示波器探頭測(cè)試的輔助工具及示波器探頭測(cè)試系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202022547232.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN213423293U | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-06-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何霖;游業(yè)斌 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 上海儒競(jìng)智控技術(shù)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R13/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01R13/00;G01R1/04 |
| 代理公司: | 上海光華專(zhuān)利事務(wù)所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 徐秋平 |
| 地址: | 200433 上海市楊*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 示波器 探頭 測(cè)試 輔助工具 系統(tǒng) | ||
1.一種用于示波器探頭測(cè)試的輔助工具,其特征在于,包括:絕緣板、接地環(huán)、測(cè)試點(diǎn)及可調(diào)夾緊機(jī)構(gòu);
所述可調(diào)夾緊機(jī)構(gòu)安裝于所述絕緣板上,用于相對(duì)所述絕緣板進(jìn)行位置調(diào)節(jié),所述可調(diào)夾緊機(jī)構(gòu)上設(shè)置有夾緊固定機(jī)構(gòu);
所述夾緊固定機(jī)構(gòu)用于夾持被測(cè)板;
所述接地環(huán)設(shè)于所述絕緣板上,且所述接地環(huán)連接有第一頂針;
所述第一頂針遠(yuǎn)離所述接地環(huán)的一端與所述被測(cè)板上的接地點(diǎn)接觸;
所述測(cè)試點(diǎn)設(shè)于所述絕緣板上,且所述測(cè)試點(diǎn)連接有第二頂針;
所述第二頂針遠(yuǎn)離所述測(cè)試點(diǎn)的一端與所述被測(cè)板上的被測(cè)點(diǎn)接觸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于示波器探頭測(cè)試的輔助工具,其特征在于,所述可調(diào)夾緊機(jī)構(gòu)包括:兩個(gè)卡槽;
兩個(gè)所述卡槽均與所述夾緊固定機(jī)構(gòu)連接,且兩個(gè)所述卡槽分別卡接在所述絕緣板的兩側(cè),在兩個(gè)所述卡槽中,至少有一所述卡槽上設(shè)置有緊固螺栓,所述卡槽用于相對(duì)所述絕緣板進(jìn)行位置調(diào)節(jié)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于示波器探頭測(cè)試的輔助工具,其特征在于,所述夾緊固定機(jī)構(gòu)采用絕緣夾子,且在所述絕緣夾子與所述被測(cè)板的接觸面上設(shè)置有絕緣橡膠墊。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于示波器探頭測(cè)試的輔助工具,其特征在于,所述絕緣板上設(shè)置有第一安裝孔和第二安裝孔,所述第一頂針設(shè)于所述第一安裝孔內(nèi),所述第二頂針設(shè)于所述第二安裝孔內(nèi)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于示波器探頭測(cè)試的輔助工具,其特征在于,所述接地環(huán)與所述第一頂針一體成型;所述測(cè)試點(diǎn)與所述第二頂針一體成型。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于示波器探頭測(cè)試的輔助工具,其特征在于,所述絕緣板采用PCB板;所述接地環(huán)和所述測(cè)試點(diǎn)均焊接在所述絕緣板的一側(cè)面上;所述第一頂針和所述第二頂針均焊接在所述絕緣板的另一側(cè)面上,且所述第一頂針在所述絕緣板上的焊接位置與所述接地環(huán)在所述絕緣板上的焊接位置對(duì)應(yīng);所述第二頂針在所述絕緣板上的焊接位置與所述測(cè)試點(diǎn)在所述絕緣板上的焊接位置對(duì)應(yīng)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于示波器探頭測(cè)試的輔助工具,其特征在于,所述第一頂針和所述第二頂針均具有彎曲形變能力。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于示波器探頭測(cè)試的輔助工具,其特征在于,所述測(cè)試點(diǎn)為環(huán)狀結(jié)構(gòu)。
9.一種示波器探頭測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的用于示波器探頭測(cè)試的輔助工具和被測(cè)板。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的示波器探頭測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,還包括:示波器探頭;所述示波器探頭穿過(guò)接地環(huán),與測(cè)試點(diǎn)連接。
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