[實用新型]檢測裝置有效
| 申請號: | 202022545912.0 | 申請日: | 2020-11-06 |
| 公開(公告)號: | CN214375196U | 公開(公告)日: | 2021-10-08 |
| 發明(設計)人: | 李昊承;郭世東;趙成剛;陳濤 | 申請(專利權)人: | 富智康精密電子(廊坊)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/54 | 分類號: | G01R31/54;G01R1/04 |
| 代理公司: | 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334 | 代理人: | 常云敏;陳敬華 |
| 地址: | 065000 河北省*** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 裝置 | ||
本申請公開了一種檢測裝置,包括第一檢測機構和第二檢測機構,第一檢測機構包括第一驅動件和檢測治具,檢測治具包括底板、浮動件及承載板,底板滑動連接第一驅動件,承載板通過浮動件安裝于底板上;底板上設有第一檢測組件,包括第一導向塊及第一檢測件,第一導向塊凸設于底板的上表面,第一檢測件滑動設于第一導向塊;第二檢測機構包括相連接的第二驅動件和下壓板,下壓板上設有第二檢測組件,包括第二導向塊及第二檢測件,第二導向塊安裝于下壓板,第二檢測件滑動設于第二導向塊。第一檢測機構和第二檢測機構上下布置,可對待測產品的雙面導通性檢進行測,第一檢測件配合設置的浮動件,可對非平面的待測產品導通性進行檢測。
技術領域
本申請涉及導通性檢測技術領域,具體涉及一種檢測裝置。
背景技術
傳統電阻測試多為鐳雕區域或者焊接銅片檢測,測試區域為平面,測試點位小且密集,測試方式多采用測試探針進行接觸導通,探針為銅材質,具有良好導通性。但由于探針帶有彈縮性,受設備空間及樣式限制,雙面測試有極大的斷針風險,無法很好的在一個臺機上完成雙面檢測。因此,無法滿足當前對于彈片、導電泡沫以及線卡等導通性的檢測需求。
實用新型內容
鑒于以上內容,有必要提出一種檢測裝置,以解決上述問題。
本申請的一實施例提供一種檢測裝置,用于檢測待測產品的導通性,包括第一檢測機構和第二檢測機構。
具體地,所述第一檢測機構包括第一驅動件和檢測治具,所述檢測治具包括底板、浮動件及承載板,所述底板滑動連接所述第一驅動件,所述承載板通過所述浮動件安裝于所述底板上,用于承載待測產品;所述底板上設有第一檢測組件,所述承載板上設有能夠使待測產品露出的承載板凹槽,所述第一檢測組件包括第一導向塊及第一檢測件,所述第一導向塊安裝于所述底板,所述第一檢測件滑動設于所述第一導向塊上且凸出于所述底板的上表面。
所述第二檢測機構位于所述第一檢測機構的上方,所述第二檢測機構包括第二驅動件及連接所述第二驅動件的下壓板,所述下壓板上設有第二檢測組件,所述第二檢測組件包括第二導向塊及第二檢測件,所述第二導向塊安裝于所述下壓板,所述第二檢測件滑動設于所述第二導向塊上且凸出于所述下壓板的下表面。
所述第一驅動件用于帶動所述檢測治具沿第一方向移動至所述下壓板的下方,所述第二驅動件用于驅動所述下壓板沿垂直于所述第一方向的第二方向靠近所述檢測治具移動,以使所述第二檢測件與所述承載板上的待測產品一表面接觸,并按壓所述承載板沿第二方向靠近所述底板移動,使所述第一檢測件與待測產品另一表面接觸。
進一步地,所述第一檢測件和所述第二檢測件分別包括檢測本體和具有段差結構的檢測頭部,所述檢測本體的一端滑動設于導向塊內,另一端凸設有所述檢測頭部。
進一步地,所述第一檢測組件還包括第一限位件及第一彈性件,所述第一限位件的一端滑動穿設在所述第一導向塊內且連接所述第一檢測件;所述第一彈性件套設在所述第一限位件上,且所述第一彈性件的兩端分別抵接所述第一導向塊和所述第一檢測件。
進一步地,所述第二檢測組件還包括第二限位件及第二彈性件,所述第二限位件的一端滑動穿設在所述第二導向塊內且連接所述第二檢測件;所述第二彈性件套設在所述第二限位件上,且所述第二彈性件的兩端分別抵接所述第二導向塊和所述第二檢測件。
進一步地,所述浮動件包括導向軸、浮動彈性件和承接件,所述導向軸的一端連接所述底板,另一端穿過所述承載板且套設有所述承接件,所述浮動彈性件套設在所述導向軸上,且兩端分別抵接所述底板和所述承載板。
進一步地,所述第一檢測機構還包括定位塊和若干定位件,所述定位塊設置在所述承載板上,且所述定位塊上設有能夠使待測產品露出的定位塊凹槽;所述定位塊還設有仿形部,所述仿形部凸出所述定位塊設置,以與待測產品配合,若干所述定位件設置在所述定位塊上,以進一步定位待測產品。
進一步地,所述第二檢測機構還包括安裝在所述下壓板上的若干個檢測探針。
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