[實用新型]一種小型化的太陽能電池板EL測試儀有效
| 申請號: | 202022539610.2 | 申請日: | 2020-11-05 |
| 公開(公告)號: | CN213150729U | 公開(公告)日: | 2021-05-07 |
| 發明(設計)人: | 谷海波;邵衛平 | 申請(專利權)人: | 深圳市寧擇信光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66 |
| 代理公司: | 北京維正專利代理有限公司 11508 | 代理人: | 任志龍 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市龍崗*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 小型化 太陽能 電池板 el 測試儀 | ||
本申請涉及一種小型化的太陽能電池板EL測試儀,其包括機臺、設置于機臺上的透光板、設置于機臺內部的反射鏡、設置于機臺內部的相機、以及與相機相連的計算機,所述機臺內具有相對應的入射光路和反射光路,所述透光板位于反射鏡上方且位于入射光路,所述相機的接收端朝向反射鏡且位于反射光路,所述透光板的兩側分別設置有正極供電件和負極供電件。本申請具有加速檢測時對太陽能電池板的引線與電源的對接速度的效果。
技術領域
本申請涉及光伏發電的領域,尤其是涉及一種小型化的太陽能電池板EL測試儀。
背景技術
太陽能電池在生產過程中,會將各個太陽能電池片串焊為陣列,且串焊后的太陽能電池板的相對兩側分別向外延伸有引線。對太陽能電池需要對層壓后的太陽能電池組件進行檢測,用來判斷太陽能電池板內部的電池片是否存在質量問題,以提高產品的質量。EL(太陽能電池組件缺陷檢測)測試儀是通過給太陽能電池板通電,使太陽能電池板內部電池片發光,并用照相機給發光的太陽能電池板拍出照片,然后通過照片來判斷太陽能電池板內部電池片是否存在質量問題的儀器。
目前的EL測試儀通常由機架、位于機架頂部的大玻璃透鏡、位于機架內部的反射鏡和位于機架內部的紅外攝像機組成,穿過大玻璃透鏡的光經過反射鏡后背紅外攝像機接收。太陽能電池片陣列放置于大玻璃透鏡上,其中硅片朝向反射鏡設置,當太陽能電池片陣列通電時,發出的光將會被紅外攝像機接收成像,從而進行質量判斷。
每次檢測時都需要人手持電源的正極筆和負極筆觸碰太陽能電池板的正極接線和負極接線以使得太陽能電池板通電,對準所花費的時間較長,不利于工作效率的提高。
發明內容
為了加速檢測時對太陽能電池板的引線與電源的對接速度,本申請提供一種小型化的太陽能電池板EL測試儀。
本申請提供的一種小型化的太陽能電池板EL測試儀,采用如下的技術方案:
一種小型化的太陽能電池板EL測試儀,包括機臺、設置于機臺上的透光板、設置于機臺內部的反射鏡、設置于機臺內部的相機、以及與相機相連的計算機,所述機臺內具有相對應的入射光路和反射光路,所述透光板位于反射鏡上方且位于入射光路,所述相機的接收端朝向反射鏡且位于反射光路,所述透光板的兩側分別設置有正極供電件和負極供電件。
通過采用上述技術方案,將太陽能電池板防止在透光板上,太陽能電池板兩側的引線將會搭接在正極供電件和負極供電件,從而使得太陽能電池板通電。太陽能電池板在通電時,將會發出相應的電磁波。透光板對太陽能電池板起到支撐作用,在太陽能電池板發光時,光線將會透過透光板,并經由入射光路到達反射鏡,光線被反射鏡反射并經由反射光路反射到相機,相機接收并成像。當某一處焊線發生斷裂時,或電池板碎裂時,在圖像上該處將會呈現陰暗狀態,從而讓人辨認出損壞。
在使用時,只需要將太陽能電池板兩側的引線搭接在正極供電件和負極供電件上即可,而無需使用正極筆和負極筆進行對準抵接,十分方便。
優選的,所述機臺內設置有電源,所述正極供電件為連于電源正極的導電條,所述負極供電件為連于電源負極的導電條,所述透光板為方板,所述正極供電件和負極供電件安裝于機臺上且分別位于透光板的相對兩側。
通過采用上述技術方案,電源對導電條進行供電,以使得正極供電件和負極供電件可以充當太陽能電池板的電機。
優選的,所述透光板的側面分為與正極供電件相對的正極供電側、與負極供電件相對的負極供電側、以及位于正極供電側和負極供電側之間的第一滑動側和第二滑動側,所述機臺在第一滑動側處設置有第一滑槽,所述機臺在第二滑動側處設置有第二滑槽,所述第一滑槽沿第一滑動側的延伸方向開設,所述第二滑槽沿第二滑動側的延伸方向開設,所述正極供電件的兩端和負極供電件的兩端均分別設置有嵌入第一滑槽和第二滑槽的滑塊,所述正極供電件和負極供電件通過滑塊與機臺滑動連接。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
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H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





