[實用新型]一種基于FPGA的速率可調快速掃描測試硬件電路

有效

• 申請號: 202022504865.5
• 申請日: 2020-11-03
• 公開（公告）號: CN214011435U
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發明（設計）人: 黃浩;李全任
• 申請（專利權）人: 南京宏泰半導體科技有限公司
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185;G01R31/3183
• 代理公司: 北京眾合誠成知識產權代理有限公司 11246
• 代理人: 劉珊珊

1.一種基于FPGA的速率可調快速掃描測試硬件電路，其特征在于，包括：FPGA芯片、高速低精度采樣回路、低速高精度采樣回路及觸發控制模塊；其中，

FPGA芯片根據上位機指令啟動高速低精度采樣回路或低速高精度采樣回路對采樣點輸出的電壓信號進行AD采樣；觸發控制模塊檢測采樣點輸出的電壓信號，當檢測到采樣點的輸出信號發生反轉時，觸發FPGA芯片選通高速低精度采樣回路對采樣點輸出的電壓信號進行AD采樣。

2.根據權利要求1所述的一種基于FPGA的速率可調快速掃描測試硬件電路，其特征在于，所述低速高精度采樣回路包括依次級聯的低通濾波器和第一AD采樣芯片，低通濾波器輸入端連接采樣點，第一AD采樣芯片輸出端連接FPGA芯片。

3.根據權利要求2所述的一種基于FPGA的速率可調快速掃描測試硬件電路，其特征在于，所述高速低精度采樣回路包括依次級聯的電壓衰減器、運放濾波電路、差分放大器和第二AD采樣芯片，衰減器的輸入端連接采樣點，第二AD采樣芯片的輸出端連接FPGA芯片。

4.根據權利要求1所述的一種基于FPGA的速率可調快速掃描測試硬件電路，其特征在于，所述高速低精度采樣回路的采樣速率為1KHz～250KHz。

5.根據權利要求1所述的一種基于FPGA的速率可調快速掃描測試硬件電路，其特征在于，所述低速高精度采樣回路的采樣速率為500KHz～60MHz。

6.根據權利要求1所述的一種基于FPGA的速率可調快速掃描測試硬件電路，其特征在于，所述觸發控制模塊為一個三極管型光電耦合器，包括原邊發光二極管和副邊光敏三極管，原邊發光二極管的陰極接采樣點，陽極接供電電壓，當采樣點輸出電壓發生翻轉，原邊發光二極管導通并發光，副邊光敏三極管受光后導通并向FPGA芯片輸出一個觸發電平。