[實(shí)用新型]一種農(nóng)業(yè)耕作機(jī)械性能測(cè)試系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202022359136.5
• 申請(qǐng)日: 2020-10-16
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN213274887U
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-05-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 付曉云
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 沈陽(yáng)理工大學(xué)
• 主分類號(hào): G01M99/00
• 分類號(hào): G01M99/00;G01D21/02
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種農(nóng)業(yè)耕作機(jī)械性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：其構(gòu)成如下：驅(qū)動(dòng)輪(1)、傳感器(2)、支撐輪(3)、懸掛支架(4)、耕作機(jī)械工作部(5)、輔助支撐輪(6)、連接部(7)、動(dòng)力與傳動(dòng)裝置；其中：驅(qū)動(dòng)輪(1)和支撐輪(3)各有一對(duì)且以左右對(duì)稱的結(jié)構(gòu)同時(shí)布置在懸掛支架(4)上，動(dòng)力與傳動(dòng)裝置連接著驅(qū)動(dòng)輪(1)；耕作機(jī)械工作部(5)通過(guò)連接部(7)連接著懸掛支架(4)，輔助支撐輪(6)也布置在連接部(7)上；傳感器(2)直接或者間接布置在懸掛支架(4)上；

傳感器(2)中至少包含有力傳感器(2.1)；

支撐輪(3)上還附設(shè)有與其周向固定的編碼盤(8)，編碼盤(8)上設(shè)置有光電識(shí)別標(biāo)記；光電傳感器(2.2)靠近編碼盤(8)布置；力傳感器(2.1)布置在連接著耕作機(jī)械工作部(5)的連接部(7)和懸掛支架(4)之間。

2.按照權(quán)利要求1所述農(nóng)業(yè)耕作機(jī)械性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：所述農(nóng)業(yè)耕作機(jī)械性能測(cè)試系統(tǒng)中還設(shè)置有動(dòng)態(tài)電阻應(yīng)變測(cè)試裝置(20)、A/D單元(9)、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(10)、位移測(cè)量裝置、光電耦合器(12)、擴(kuò)展芯片(13)；其中：計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(10)由主機(jī)(14)、顯示器(15)、鍵盤(16)、打印機(jī)(17)構(gòu)成；其中：顯示器、鍵盤、打印機(jī)都連接著主機(jī)；

力傳感器(2.1)依次串聯(lián)連接著動(dòng)態(tài)電阻應(yīng)變測(cè)試裝置(20)、A/D單元(9)、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(10)的主機(jī)；

位移測(cè)量裝置依次串聯(lián)連接著光電耦合器(12)、擴(kuò)展芯片(13)、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(10)的主機(jī)；

力傳感器是北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司出產(chǎn)的TD-CLF-L3拉力傳感器；動(dòng)態(tài)電阻應(yīng)變是濟(jì)南西格馬科技有限公司的ASMC2-4/2電阻應(yīng)變儀；

擴(kuò)展芯片(13)是單片機(jī)芯片8255A；

A/D單元(9)是下述兩種之一：型號(hào)為ADC0809的A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換器、蚌埠市蚌山區(qū)利圓電腦經(jīng)營(yíng)部銷售的型號(hào)為AD_TCP-01的A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換板卡。

3.按照權(quán)利要求2所述農(nóng)業(yè)耕作機(jī)械性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：

位移測(cè)量裝置是美國(guó)光動(dòng)公司的LICS-100型或者M(jìn)CV-5000型激光多普勒測(cè)量系統(tǒng)。

4.按照權(quán)利要求2所述農(nóng)業(yè)耕作機(jī)械性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：

位移測(cè)量裝置是相互連接在一起的光電傳感器(2.2)和數(shù)字測(cè)試儀(11)的組合；數(shù)字測(cè)試儀(11)還依次串聯(lián)連接著光電耦合器(12)、擴(kuò)展芯片(13)、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(10)的主機(jī)。

5.按照權(quán)利要求4所述農(nóng)業(yè)耕作機(jī)械性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：

動(dòng)態(tài)電阻應(yīng)變測(cè)試裝置(20)和A/D單元(9)之間，數(shù)字測(cè)試儀(11)和光電耦合器(12)之間都通過(guò)接口單元(18)連接。