[實(shí)用新型]激光器測(cè)試系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202022265205.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN212988755U | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-04-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃寓洋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州蘇納光電有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01M11/02 | 分類號(hào): | G01M11/02;G01R31/00;G01J3/28 |
| 代理公司: | 南京利豐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 32256 | 代理人: | 趙世發(fā) |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州市工業(yè)園*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 激光器 測(cè)試 系統(tǒng) | ||
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種激光器測(cè)試系統(tǒng),其包括:PIV測(cè)試單元、光譜測(cè)試單元和激光器安裝單元,其中,所述激光器安裝單元至少用于固定被測(cè)激光器;所述PIV測(cè)試單元與被測(cè)激光器電連接,并能夠向所述被測(cè)激光器提供電流而使被測(cè)激光器發(fā)光;以及,所述PIV測(cè)試單元還能夠接收所述激光器發(fā)出的光并獲得所述光的發(fā)光功率和電壓;所述光譜測(cè)試單元與被測(cè)激光器連接,并能夠接收被測(cè)激光器發(fā)出的光并獲得所述光的發(fā)光光譜。本實(shí)用新型提供的激光器測(cè)試系統(tǒng),可以同時(shí)測(cè)試并獲得DFB激光器的光譜和PIV光學(xué)參數(shù),而不需要繁瑣復(fù)雜的切換,大大節(jié)約了測(cè)試成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試系統(tǒng),特別涉及一種激光器測(cè)試系統(tǒng),屬于半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體激光器具有體積小、重量輕、電光轉(zhuǎn)換效率高、性能穩(wěn)定、可靠性高和壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn),已經(jīng)成為光電行業(yè)中最有發(fā)展前途的領(lǐng)域,可廣泛應(yīng)用于通信、計(jì)算機(jī)(主要是數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和輸入輸出設(shè)備)、影視、制造業(yè)、航天、航空、材料處理、醫(yī)療、娛樂(lè)、科研、安全防護(hù)、軍事、反恐、工藝品、顯示和印刷等行業(yè)。
光纖通信的問(wèn)世,使高速率、大容量的通信成為可能,目前已經(jīng)成為最主要的信息傳輸技術(shù)。分布反饋式半導(dǎo)體激光器(Distributed Feedback Semiconductor Laser,DFB)具有體積小、效率高、重量輕等優(yōu)點(diǎn),是光纖通信的主要光源,對(duì)半導(dǎo)體激光器的性能參數(shù)進(jìn)行測(cè)試和表征是深刻理解激光器特性的關(guān)鍵,同時(shí)也是判斷激光器好壞的重要依據(jù);只有這樣才能正確的使用激光器并延長(zhǎng)其壽命。因此,研究并開(kāi)發(fā)測(cè)試功能齊全的半導(dǎo)體激光器特性測(cè)試系統(tǒng)具有非常重要的現(xiàn)實(shí)意義。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的主要目的在于提供一種激光器測(cè)試系統(tǒng),以克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足。
為實(shí)現(xiàn)前述實(shí)用新型目的,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案包括:
本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種激光器測(cè)試系統(tǒng),其包括:PIV測(cè)試單元、光譜測(cè)試單元和激光器安裝單元,其中,
所述激光器安裝單元至少用于固定被測(cè)激光器;所述PIV測(cè)試單元與被測(cè)激光器電連接,并能夠向所述被測(cè)激光器提供電流而使被測(cè)激光器發(fā)光;以及,所述PIV測(cè)試單元還能夠接收所述激光器發(fā)出的光并獲得所述光的發(fā)光功率和電壓;
所述光譜測(cè)試單元與被測(cè)激光器連接,并能夠接收被測(cè)激光器發(fā)出的光并獲得所述光的發(fā)光光譜。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)包括:
本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種激光器測(cè)試系統(tǒng),結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單實(shí)用、制作成本低且靈活度高,能夠快速獲取激光器的性能參數(shù);
本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種激光器測(cè)試系統(tǒng),可以同時(shí)測(cè)試并獲得DFB激光器的光譜和PIV光學(xué)參數(shù),而不需要繁瑣復(fù)雜的切換,大大節(jié)約了測(cè)試成本。
附圖說(shuō)明
為了更清楚地說(shuō)明本申請(qǐng)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見(jiàn)地,下面描述中的附圖僅僅是本申請(qǐng)中記載的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是本實(shí)用新型一典型實(shí)施案例中提供的一種激光器測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本實(shí)用新型一典型實(shí)施案例中提供的一種激光器測(cè)試系統(tǒng)局部結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
鑒于現(xiàn)有技術(shù)中的不足,本案發(fā)明人經(jīng)長(zhǎng)期研究和大量實(shí)踐,得以提出本實(shí)用新型的技術(shù)方案。如下將對(duì)該技術(shù)方案、其實(shí)施過(guò)程及原理等作進(jìn)一步的解釋說(shuō)明。
本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種激光器測(cè)試系統(tǒng),其包括:PIV測(cè)試單元、光譜測(cè)試單元和激光器安裝單元,其中,
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于蘇州蘇納光電有限公司,未經(jīng)蘇州蘇納光電有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202022265205.6/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種美甲包裝盒
- 下一篇:一種安防監(jiān)控用防塵交換機(jī)
- 同類專利
- 專利分類
G01M 機(jī)器或結(jié)構(gòu)部件的靜或動(dòng)平衡的測(cè)試;其他類目中不包括的結(jié)構(gòu)部件或設(shè)備的測(cè)試
G01M11-00 光學(xué)設(shè)備的測(cè)試;其他類目未包括的用光學(xué)方法測(cè)試結(jié)構(gòu)部件
G01M11-02 .光學(xué)性質(zhì)的測(cè)試
G01M11-08 .機(jī)械性能的測(cè)試
G01M11-04 ..光學(xué)實(shí)驗(yàn)臺(tái)
G01M11-06 ..車(chē)輛前燈裝置的對(duì)光測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





