[實(shí)用新型]一種絕緣電阻測(cè)試儀

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202022243627.3
• 申請(qǐng)日: 2020-10-10
• 公開（公告）號(hào): CN213633609U
• 公開（公告）日: 2021-07-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孔靜;繆水梁;韓瑞霞;卓建良;胡安;朱王琦;黃興
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 杭州松泰電力科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R27/02
• 分類號(hào): G01R27/02;G01R1/04;G01R19/145
• 代理公司: 杭州杭誠(chéng)專利事務(wù)所有限公司 33109
• 代理人: 尉偉敏

本實(shí)用新型提供一種絕緣電阻測(cè)試儀，包括底座、外殼、CPU、存儲(chǔ)器、鍵盤模塊、顯示屏、電源模塊、輸出電壓驅(qū)動(dòng)模塊、電流檢測(cè)模塊、自檢模塊、電壓輸出接口、屏蔽端口、數(shù)據(jù)I/O接口、測(cè)試線以及驗(yàn)電器，所述外殼安裝在底座上，所述CUP、存儲(chǔ)器、電源模塊、輸出電壓驅(qū)動(dòng)模塊、電流檢測(cè)模塊以及自檢模塊均置于所述外殼內(nèi)。本實(shí)用新型的實(shí)質(zhì)性效果是：通過增設(shè)屏蔽端口，去除了表面泄露電流對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響；增設(shè)驗(yàn)電器，解決了現(xiàn)有絕緣電阻測(cè)試儀無(wú)法判斷試品是否帶電的技術(shù)問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及絕緣檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其是指一種絕緣電阻測(cè)試儀。

背景技術(shù)

絕緣電阻測(cè)試是電氣設(shè)備安全要求測(cè)試中的一項(xiàng)重要指標(biāo),也是有效判斷絕緣體是否完整以及絕緣體表面是否被污染的主要參數(shù)之一,通過測(cè)量電氣設(shè)備的絕緣電阻值可以及時(shí)檢測(cè)出設(shè)備普遍受潮,局部嚴(yán)重受潮和貫穿性等存在的缺陷. 絕緣電阻測(cè)試則是我國(guó)計(jì)量法規(guī)定的電氣設(shè)備安全檢測(cè)項(xiàng)目中的強(qiáng)檢項(xiàng)目.絕緣電阻測(cè)試就是通過儀表測(cè)量電氣設(shè)備在高壓作用時(shí)其中所存在的泄漏電流值,通常儀表將這一電流值經(jīng)過計(jì)算顯示為絕緣電阻值。

現(xiàn)有一般的絕緣電阻測(cè)試儀，體積較大，不便于搬運(yùn)；當(dāng)試品存在表面泄露電流時(shí)不能準(zhǔn)確的判斷試品的絕緣情況；由于判斷絕緣是否合格需要在試品絕緣層與導(dǎo)體之間加上千伏的電壓，因此在絕緣測(cè)試結(jié)束后需要先將試品接地放電，在放電結(jié)束后才能拆除接線，一旦放電不完全就拆線，容易產(chǎn)生觸電事故，現(xiàn)有的絕緣電阻測(cè)試儀存在無(wú)法判斷試品是否帶電的技術(shù)問題。

為了解決上述技術(shù)問題，公開號(hào)CN211402544U公開了一種絕緣電阻測(cè)試儀，包括頂蓋、卡塊、箱體、儲(chǔ)能結(jié)構(gòu)和測(cè)試儀器，所述箱體正面的底部固定安裝有儲(chǔ)能結(jié)構(gòu)，所述箱體的頂部通過鉸鏈安裝有頂蓋，所述箱體的內(nèi)部設(shè)置有線路儲(chǔ)存箱，所述線路儲(chǔ)存箱的頂部設(shè)置有測(cè)試儀器，所述測(cè)試儀器正面的頂部設(shè)置有的控制按鈕，所述控制按鈕的底部設(shè)置有網(wǎng)絡(luò)接口，所述網(wǎng)絡(luò)接口的一側(cè)設(shè)置有擴(kuò)展接口，所述調(diào)節(jié)旋鈕的底部固定安裝有數(shù)據(jù)接口，所述測(cè)試儀器的一側(cè)設(shè)置有零件儲(chǔ)存箱。該測(cè)試儀器體積較小使其可便于用戶攜帶，但仍無(wú)法解決絕緣電阻測(cè)試儀無(wú)法判斷試品是否帶電的技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決現(xiàn)有一般的絕緣電阻測(cè)試儀無(wú)法判斷試品是否帶電的技術(shù)問題以及減少表面泄露電流對(duì)測(cè)試結(jié)果造成的影響。本實(shí)用新型提供一種絕緣電阻測(cè)試儀，包括底座、外殼、CPU、存儲(chǔ)器、鍵盤模塊、顯示屏、電源模塊、輸出電壓驅(qū)動(dòng)模塊、電流檢測(cè)模塊、自檢模塊、電壓輸出接口、數(shù)據(jù)I/O接口、測(cè)試線以及驗(yàn)電器，所述外殼安裝在底座上，所述CUP、存儲(chǔ)器、電源模塊、輸出電壓驅(qū)動(dòng)模塊、電流檢測(cè)模塊以及自檢模塊均置于所述外殼內(nèi)，所述鍵盤模塊、顯示屏、電壓輸出接口以及數(shù)據(jù)I/O接口均安裝在所述外殼上，所述測(cè)試線與所述電壓輸出接口連接，所述測(cè)試線一端設(shè)有線夾，所述驗(yàn)電器安裝在所述線夾上，所述線夾與所述試品連接，所述存儲(chǔ)器、鍵盤模塊、顯示屏、輸出電壓驅(qū)動(dòng)模塊、電流檢測(cè)模塊、自檢模塊以及數(shù)據(jù)I/O接口均與所述CPU連接，所述電壓輸出接口與所述輸出電壓驅(qū)動(dòng)模塊連接，所述電源模塊為其余部分供電。所述電流檢測(cè)模塊檢測(cè)測(cè)所述電壓輸出端口、測(cè)試線以及試品構(gòu)成的回路中的電流大小，當(dāng)所述電流值超過閾值Z1時(shí)，說(shuō)明試品絕緣電阻過小，絕緣不合格。所述CPU將測(cè)試結(jié)果存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并輸出到所述顯示屏上，所述驗(yàn)電器在試驗(yàn)結(jié)束后檢測(cè)試品上是否帶電。使用者通過所述數(shù)據(jù)I/O接口可將實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)導(dǎo)出到外部存儲(chǔ)設(shè)備中。所述自檢模塊在絕緣試驗(yàn)進(jìn)行前對(duì)儀器進(jìn)行自檢，當(dāng)儀器存在問題時(shí)發(fā)出警報(bào)并中止試驗(yàn)。

作為優(yōu)選，本絕緣電阻測(cè)試儀還包括4個(gè)支腳，4個(gè)所述支腳分別安裝在所述底座下底面的四個(gè)角上。支腳能夠避免底座的臟污并且有助于儀器的搬運(yùn)。