[實(shí)用新型]濾波器雙面測(cè)試治具

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202022196691.0
• 申請(qǐng)日: 2020-09-28
• 公開（公告）號(hào): CN213457015U
• 公開（公告）日: 2021-06-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郁軍;楊艷召
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 昆山哈勃電波電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/04
• 分類號(hào): G01R1/04
• 代理公司: 深圳市科進(jìn)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44316
• 代理人: 魏毅宏

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N濾波器雙面測(cè)試治具，包括：固定座和支架，固定座包括基座、第一固定件及第二固定件，基座上設(shè)置有第一測(cè)試孔和第二測(cè)試孔，第一測(cè)試孔與設(shè)置于工件的第一端面上的第一對(duì)接頭相對(duì)應(yīng)，第二測(cè)試孔與設(shè)置于工件的第二端面上的第二對(duì)接頭相對(duì)應(yīng)，第一測(cè)試孔和第二測(cè)試孔均用于供測(cè)試接頭的穿設(shè)，第一測(cè)試孔以及第二測(cè)試孔的尺寸與測(cè)試接頭的尺寸相匹配；第一固定件可拆卸地設(shè)置于基座上，第一固定件用于將工件固定于基座上，第一固定件上設(shè)置有第一測(cè)試孔；第二固定件可拆卸地設(shè)置于基座上，第二固定件用于將工件固定于基座上，第二固定件上設(shè)置有第二測(cè)試孔；支架設(shè)置于所述基座的底部以向上支撐固定座。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及濾波器測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤指一種濾波器雙面測(cè)試治具。

背景技術(shù)

需要進(jìn)行雙面測(cè)試的工件，需要利用兩個(gè)測(cè)試接頭分別與設(shè)置在工件相背對(duì)的兩個(gè)端面上的對(duì)接頭進(jìn)行對(duì)接，由于在將兩個(gè)測(cè)試接頭分別與設(shè)置在工件相背對(duì)的兩個(gè)端面上的兩個(gè)對(duì)接頭對(duì)接的過程中，難以保證測(cè)試接頭與工件的對(duì)接頭之間的對(duì)接垂直度，致使工件的兩個(gè)端面的測(cè)試數(shù)據(jù)不穩(wěn)定。

實(shí)用新型內(nèi)容

鑒于此，有必要提供一種能夠?qū)崿F(xiàn)兩個(gè)測(cè)試接頭分別與工件的第一對(duì)接頭和第二對(duì)接頭穩(wěn)定對(duì)接的濾波器雙面測(cè)試治具。

為解決上述技術(shù)問題，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N濾波器雙面測(cè)試治具，包括：

固定座，包括基座、第一固定件及第二固定件，所述基座用于承載待測(cè)試的工件，所述基座上設(shè)置有第一測(cè)試孔和第二測(cè)試孔，所述第一測(cè)試孔與設(shè)置于所述工件的第一端面上的第一對(duì)接頭相對(duì)應(yīng)，所述第二測(cè)試孔與設(shè)置于所述工件的第二端面上的第二對(duì)接頭相對(duì)應(yīng)，所述工件的第二端面與所述工件的第一端面相互背對(duì)設(shè)置，所述第一測(cè)試孔和所述第二測(cè)試孔均用于供測(cè)試接頭的穿設(shè)，所述第一測(cè)試孔以及所述第二測(cè)試孔的尺寸與所述測(cè)試接頭的尺寸相匹配；所述第一固定件可拆卸地設(shè)置于所述基座上，所述第一固定件用于將所述工件固定于所述基座上，所述第一固定件上設(shè)置有與所述第一對(duì)接頭相對(duì)應(yīng)的所述第一測(cè)試孔；所述第二固定件可拆卸地設(shè)置于所述基座上，所述第二固定件用于將所述工件固定于所述基座上，所述第二固定件上設(shè)置有與所述第二對(duì)接頭相對(duì)應(yīng)的所述第二測(cè)試孔；及

支架，設(shè)置于所述基座的底部以向上支撐固定座，

當(dāng)進(jìn)行所述工件的第一端面的測(cè)試時(shí)，將所述工件放置于所述基座上并使所述工件的第一端面相對(duì)所述基座朝上布置，然后將所述第一固定件安裝于所述基座上，并將所述第二固定件從所述基座上拆離，以通過所述第一固定件將所述工件固定于所述基座上；使其中一個(gè)所述測(cè)試接頭穿過設(shè)置于所述第一固定件上的所述第一測(cè)試孔并與所述第一對(duì)接頭相對(duì)接，并使另一個(gè)所述測(cè)試接頭穿過設(shè)置于所述基座上的所述第二測(cè)試孔并與所述第二對(duì)接頭相對(duì)接，以形成所述工件的第一端面的測(cè)試回路；

當(dāng)進(jìn)行所述工件的第二端面的測(cè)試時(shí)，將所述工件放置于所述基座上并使所述工件的第二端面相對(duì)所述基座朝上布置，然后將所述第二固定件安裝于所述基座上，并將所述第一固定件從所述基座上拆離，以通過所述第二固定件將所述工件固定于所述基座上；使其中一個(gè)所述測(cè)試接頭穿過設(shè)置于所述第二固定件上的所述第二測(cè)試孔并與所述第二對(duì)接頭相對(duì)接，并使另一個(gè)所述測(cè)試接頭穿過設(shè)置于所述基座上的所述第一測(cè)試孔并與所述第一對(duì)接頭相對(duì)接，以形成所述工件的第二端面的測(cè)試回路。

優(yōu)選地，所述基座上間隔設(shè)置有多個(gè)所述第一測(cè)試孔和/或多個(gè)所述第二測(cè)試孔，且/或所述第一固定件上間隔設(shè)置有多個(gè)所述第一測(cè)試孔，且/或所述第二固定件上間隔設(shè)置有多個(gè)所述第二測(cè)試孔。

優(yōu)選地，所述基座上設(shè)置有第一定位部，所述第一固定件上設(shè)置有第二定位部，所述第二定位部能夠與所述第一定位部相配合，以將所述第一固定件定位于所述基座上；所述第二固定件上設(shè)置有第三定位部，所述第三定位部能夠與所述第一定位部相配合，以將所述第二固定件定位于所述基座上。