[實(shí)用新型]一種氙燈老化試驗(yàn)箱有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202022150102.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN212379538U | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-01-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬琴 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 無(wú)錫騰川儀器設(shè)備有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/44 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/44;G01R31/00 |
| 代理公司: | 無(wú)錫市朗高知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32262 | 代理人: | 賈傳美;邱曉琳 |
| 地址: | 214000 江蘇省無(wú)錫市*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 氙燈 老化試驗(yàn) | ||
1.一種氙燈老化試驗(yàn)箱,包括試驗(yàn)箱框體(1)、鼓風(fēng)機(jī)(13)、加熱器(17),其特征在于:所述試驗(yàn)箱框體(1)的下端四角處均固定安裝設(shè)置有底輪(2),所述試驗(yàn)箱框體(1)的右側(cè)固定連接設(shè)置有控制面板(3)和顯示面板(4),所述加熱器(17)固定安裝設(shè)置在試驗(yàn)箱框體(1)的左側(cè)上端內(nèi)部,所述鼓風(fēng)機(jī)(13)固定安裝設(shè)置在試驗(yàn)箱框體(1)左側(cè)下端內(nèi)部,所述鼓風(fēng)機(jī)(13)的左右兩側(cè)均固定連接設(shè)置有風(fēng)道管(14),所述試驗(yàn)箱框體(1)的左側(cè)內(nèi)部固定連接設(shè)置有放置架(15),所述放置架(15)的上端固定連接設(shè)置有氙燈本體(16),所述試驗(yàn)箱框體(1)的內(nèi)部左右兩端固定連接設(shè)置有減速電機(jī)(9),所述減速電機(jī)(9)的輸出端固定連接設(shè)置有旋轉(zhuǎn)盤(pán)(10),所述旋轉(zhuǎn)盤(pán)(10)上固定連接設(shè)置有若干個(gè)溫度傳感器(11),所述試驗(yàn)箱框體(1)的內(nèi)部后側(cè)固定連接設(shè)置有兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)(18),所述步進(jìn)電機(jī)(18)的輸出端固定連接設(shè)置有風(fēng)向折流板(12),所述試驗(yàn)箱框體(1)的左側(cè)內(nèi)部上端固定連接設(shè)置有支撐桿(6),所述支撐桿(6)的下端固定連接設(shè)置有遮光罩(7),所述遮光罩(7)的中間位置處固定連接設(shè)置有光感應(yīng)探頭(8),所述光感應(yīng)探頭(8)處于氙燈本體(16)的正上方,所述試驗(yàn)箱框體(1)的左側(cè)上端固定連接設(shè)置有兩個(gè)出氣管(5),所述溫度傳感器(11)和光感應(yīng)探頭(8)的輸出端與顯示面板(4)電性連接,所述步進(jìn)電機(jī)(18)、減速電機(jī)(9)和鼓風(fēng)機(jī)(13)的輸入端與控制面板(3)電性連接,所述試驗(yàn)箱框體(1)的左側(cè)外端通過(guò)合頁(yè)轉(zhuǎn)動(dòng)連接設(shè)置有前密封門(mén)(19),所述前密封門(mén)(19)上固定連接設(shè)置有觀察窗(20)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種氙燈老化試驗(yàn)箱,其特征在于:所述出氣管(5)的上端固定連接設(shè)置有防塵罩。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種氙燈老化試驗(yàn)箱,其特征在于:所述旋轉(zhuǎn)盤(pán)(10)至少設(shè)置有兩個(gè)溫度傳感器(11),且其中一個(gè)所述溫度傳感器(11)設(shè)置在旋轉(zhuǎn)盤(pán)(10)的中間位置處。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種氙燈老化試驗(yàn)箱,其特征在于:所述前密封門(mén)(19)上固定連接設(shè)置有門(mén)把手。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種氙燈老化試驗(yàn)箱,其特征在于:風(fēng)向折流板(12)的中間位置與風(fēng)道管(14)的出風(fēng)側(cè)位置相對(duì)應(yīng)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種氙燈老化試驗(yàn)箱,其特征在于:所述控制面板(3)設(shè)置為ARM單片機(jī)或PIC單片機(jī)。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





