[實用新型]一種芯片檢測治具

有效

• 申請號: 202022138152.1
• 申請日: 2020-09-25
• 公開（公告）號: CN213423393U
• 公開（公告）日: 2021-06-11
• 發明（設計）人: 葛肖峰
• 申請（專利權）人: 寧波市新澤五金塑膠制品有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種芯片檢測治具，包括檢測底座，檢測底座頂端的中部開設有檢測槽，檢測槽的內部嵌設有芯片檢測塊，芯片檢測塊與檢測槽之間通過緊固螺栓固定連接，芯片檢測塊的頂部固定設有芯片通電針，芯片通電針通過外接PLC控制器與配套的指示燈電性連接，檢測底座的頂端蓋設有蓋板；本實用新型通過芯片檢測塊頂端設有的芯片通電針與外接指示燈連接，通過顯示不同的顏色辨別芯片的合格度，取代人工檢測，不僅提高了檢測效率，而且提高芯片的產品質量。

技術領域

本實用新型涉及一種治具，特別涉及一種芯片檢測治具，屬于芯片生產技術領域。

背景技術

將電路制造在半導體芯片表面上的集成電路又稱薄膜集成電路。另有一種厚膜集成電路是由獨立半導體設備和被動組件，集成到襯底或線路板所構成的小型化電路。

目前芯片在生產的過程中，為了保證芯片的產品質量需要對芯片進行檢測，目前的芯片檢測一般通過人工檢測，檢測效率低下，不僅增加了勞動成本，而且影響芯片的生產效率，因此需要設計一種芯片檢測治具。

發明內容

本實用新型的目的在于提供一種芯片檢測治具，以解決上述背景技術中提出的目前的芯片檢測一般通過人工檢測，檢測效率低下，不僅增加了勞動成本，而且影響芯片的生產效率的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：包括檢測底座，所述檢測底座頂端的中部開設有檢測槽，所述檢測槽的內部嵌設有芯片檢測塊，所述芯片檢測塊與檢測槽之間通過緊固螺栓固定連接，所述芯片檢測塊的頂部固定設有芯片通電針，所述芯片通電針通過外接PLC控制器與配套的指示燈電性連接，所述檢測底座的頂端蓋設有蓋板，所述蓋板的兩側均開設有兩個安裝孔，所述蓋板頂端的兩側均螺紋連接有鎖緊螺栓，所述檢測底座頂端的兩側均開設有固定孔，兩個所述鎖緊螺栓與對應的固定孔螺紋連接。

作為本實用新型的一種優選技術方案，所述檢測底座的兩側均固定安裝有穩定機構，所述穩定機構由兩個連接塊和拉桿組成，兩個所述連接塊之間固定安裝有拉桿，兩個所述連接塊的一側與檢測底座內壁的兩側固定連接。

作為本實用新型的一種優選技術方案，所述蓋板頂端的兩邊側均固定安裝有連接柱，兩個所述連接柱的頂端與外接電動推桿的伸縮端固定連接。

作為本實用新型的一種優選技術方案，所述檢測底座的底端固定設有多根連為一體的固定柱，多根所述固定柱外接工作臺的頂端固定連接。

作為本實用新型的一種優選技術方案，所述檢測底座頂端的四個邊角處均開設有限位孔，四個所述限位孔與外接的限位柱穿插連接。

作為本實用新型的一種優選技術方案，所述檢測底座和蓋板均由金屬鋁材質制成。

作為本實用新型的一種優選技術方案，所述檢測底座的長度為50mm±0.01mm，所述檢測底座的寬度為38mm±0.01mm。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：

1.本實用新型一種芯片檢測治具，通過芯片檢測塊頂端設有的芯片通電針與外接指示燈連接，通過顯示不同的顏色辨別芯片的合格度，取代人工檢測，不僅提高了檢測效率，而且提高芯片的產品質量；

2.本實用新型一種芯片檢測治具，通過檢測底座兩側設有的穩定機構，穩定機構通過拉桿連接，從而保證了檢測底座的穩定，從而保證芯片與芯片通電針穩定接觸，避免檢測底座晃動影響檢測。

附圖說明

圖1為本實用新型結構示意圖；

圖2為本實用新型正面結構示意圖；

圖3為本實用新型俯視結構示意圖。