[實(shí)用新型]一種IC測試設(shè)備用的測試座有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202022133496.3 | 申請日: | 2020-09-25 |
| 公開(公告)號: | CN213843305U | 公開(公告)日: | 2021-07-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 盧朝;盧小品;栗帥 | 申請(專利權(quán))人: | 昆山捷譽(yù)興精密機(jī)械有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 ic 測試 備用 | ||
本實(shí)用新型公開了一種IC測試設(shè)備用的測試座,包括測試座主體,所述測試座主體的上端外表面設(shè)置有插板,所述插板的上端外表面設(shè)置有固定板,所述固定板的上端外表面設(shè)置有防水密封結(jié)構(gòu),所述防水密封結(jié)構(gòu)包括一號防水殼、密封板、防水框與二號防水殼,所述測試座主體的一側(cè)設(shè)置有進(jìn)料管,所述測試座主體的另一側(cè)設(shè)置有出料管,所述測試座主體的上端外表面設(shè)置有防塵活動蓋板。本實(shí)用新型所述的一種IC測試設(shè)備用的測試座,通過設(shè)計(jì)的防水密封結(jié)構(gòu),能提升裝置在使用過程中的安全性,使裝置的防水效果更好,通過設(shè)計(jì)的防塵活動蓋板,能使裝置的防塵性更好,延長裝置的使用壽命,帶來更好的使用前景。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及IC測試設(shè)備領(lǐng)域,特別涉及一種IC測試設(shè)備用的測試座。
背景技術(shù)
IC測試座是對IC器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備,隨著科技的不斷發(fā)展,人們對于IC測試座的制造工藝要求也越來越高。
現(xiàn)有的IC測試座IC測試座在使用時(shí)存在一定的弊端,首先,連接口的密封性不強(qiáng),防水性低,不利于人們的使用,還有,防塵效果不好,給人們的使用過程帶來了一定的不利影響,為此,我們提出一種IC測試設(shè)備用的測試座。
實(shí)用新型內(nèi)容
(一)解決的技術(shù)問題
針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,本實(shí)用新型提供了一種IC測試設(shè)備用的測試座,具備連接口的密封性強(qiáng),防水性高,還有,防塵效果好等優(yōu)點(diǎn),可以有效解決背景技術(shù)中的問題。
(二)技術(shù)方案
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采取的技術(shù)方案為:一種IC測試設(shè)備用的測試座,包括測試座主體,所述測試座主體的上端外表面設(shè)置有插板,所述插板的上端外表面設(shè)置有固定板,所述固定板的上端外表面設(shè)置有防水密封結(jié)構(gòu),所述防水密封結(jié)構(gòu)包括一號防水殼、密封板、防水框與二號防水殼,所述測試座主體的一側(cè)設(shè)置有進(jìn)料管,所述測試座主體的另一側(cè)設(shè)置有出料管,所述測試座主體的上端外表面設(shè)置有防塵活動蓋板,所述防塵活動蓋板包括一號側(cè)護(hù)板、活動塊、頂板、卡扣與二號側(cè)護(hù)板。
優(yōu)選的,所述一號防水殼位于密封板的一側(cè)外表面,所述密封板位于防水框的一側(cè)外表面,所述防水框位于二號防水殼的一側(cè)外表面。
優(yōu)選的,所述一號側(cè)護(hù)板位于活動塊的下端外表面,所述活動塊位于頂板的一側(cè)外表面,所述卡扣位于頂板的前端外表面,所述二號側(cè)護(hù)板位于頂板的另一側(cè)外表面。
優(yōu)選的,所述一號防水殼與密封板之間設(shè)置有固定膠,所述一號防水殼的一側(cè)外表面通過固定膠與密封板的一側(cè)外表面固定連接,所述密封板與防水框之間設(shè)置有粘合劑,所述密封板的一側(cè)外表面通過粘合劑與防水框的一側(cè)外表面固定連接。
優(yōu)選的,所述一號側(cè)護(hù)板與活動塊之間設(shè)置有活動連接柱,所述一號側(cè)護(hù)板的上端外表面通過活動連接柱與活動塊的下端外表面活動連接,所述頂板與卡扣之間設(shè)置有連接槽,所述頂板的一側(cè)外表面通過連接槽與卡扣的一側(cè)外表面可拆卸連接。
優(yōu)選的,所述防水密封結(jié)構(gòu)與固定板之間設(shè)置有設(shè)置有卡槽,所述固定板的上端外表面通過卡槽與防水密封結(jié)構(gòu)的下端外表面可拆卸連接。
優(yōu)選的,所述防塵活動蓋板的下端外表面通過卡扣與測試座主體的上端外表面可拆卸連接。
(三)有益效果
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型提供了一種IC測試設(shè)備用的測試座,具備以下有益效果:
1、該IC測試設(shè)備用的測試座,通過設(shè)計(jì)的防水密封結(jié)構(gòu),能提升裝置在使用過程中的安全性,使裝置的防水效果更好,延長了裝置的使用壽命,提升了裝置在連接過程中的密封性,給裝置帶來更好的使用效果,通過設(shè)計(jì)的一號防水殼與二號防水殼,能使裝置的防水性更好,通過設(shè)計(jì)的密封板,能提升裝置在連接的過程中緊密性,從而使裝置的密封性更好,便于裝置的使用。
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