[實用新型]旋轉(zhuǎn)升降機構(gòu)及環(huán)行器、隔離器旋轉(zhuǎn)式測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202022117657.X
• 申請日: 2020-09-24
• 公開（公告）號: CN212320792U
• 公開（公告）日: 2021-01-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 屈紅軍;李明;萬正洋;曹首科;柳其碩;代楊帆;楊濤;劉寬
• 申請（專利權(quán)）人: 武漢心浩智能科技有限公司
• 主分類號: G01D21/02
• 分類號: G01D21/02;G01D11/00
• 代理公司: 湖北天領(lǐng)艾匹律師事務所 42252
• 代理人: 楊建軍

本實用新型涉及一種環(huán)行器、隔離器旋轉(zhuǎn)式測試裝置，包括旋轉(zhuǎn)升降機構(gòu)，旋轉(zhuǎn)升降機構(gòu)包括升降機構(gòu)和旋轉(zhuǎn)機構(gòu)；所述升降機構(gòu)包括頂升氣缸和連接軸，所述連接軸的下端與頂升氣缸通過連接件連接，所述頂升氣缸用于驅(qū)動連接軸軸向移動，并且所述連接軸可自由旋轉(zhuǎn)；所述旋轉(zhuǎn)機構(gòu)包括驅(qū)動電機和空心軸，所述空心軸套在連接軸上構(gòu)成一軸向滑動周向傳遞力矩的結(jié)構(gòu)，所述驅(qū)動電機與空心軸通過旋轉(zhuǎn)傳動組件連接。所述連接軸的上端設(shè)有轉(zhuǎn)盤，所述轉(zhuǎn)盤上設(shè)有一個以上的測試吸盤，所述轉(zhuǎn)盤的下方設(shè)有一個以上的測試工位，所述測試工位分布在測試吸盤的旋轉(zhuǎn)軌跡上。本實用新型用于解決現(xiàn)有技術(shù)中環(huán)形器、隔離器測試自動化程度低、測試的效率低等問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型屬于環(huán)形器、隔離器的生產(chǎn)測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種旋轉(zhuǎn)升降機構(gòu)及環(huán)行器、隔離器旋轉(zhuǎn)式測試裝置。

背景技術(shù)

整個移動通信系統(tǒng)一般由移動通信基礎(chǔ)設(shè)備、移動通信覆蓋系統(tǒng)、移動通信終端產(chǎn)品三大部分組成。基站屬于移動通信基礎(chǔ)設(shè)備，一個標準的基站通常由鐵塔、基站天線及饋線和基站系統(tǒng)等器件組成。而基站系統(tǒng)又包括濾波器、雙工器、環(huán)形器、隔離器、功分器、合路器、耦合器、駐波比報警器、低噪聲放大器等部件。隨著5G技術(shù)的迅速發(fā)展，環(huán)形器和隔離器作為5G基站的核心器件，也越來越受到重視。

環(huán)形器和隔離器（以下也會簡稱為產(chǎn)品）在組裝完成時，通常需要對產(chǎn)品進行多項測試，如FQC測試、平面度檢測、耐電壓測試、反向損耗、正向損耗、電壓駐波比等等。目前對環(huán)形器和隔離器的測試需要很多工位，每個工位由一個工作人員及一臺測試設(shè)備組成，大大降低的測試的效率，自動化程度低。

參考專利：

一種環(huán)形器/隔離器測試輔助裝置，CN207894958U；

微波隔離器/環(huán)形器的測試夾具，CN204228756U；

環(huán)形器及隔離器測試裝置，CN203929905U；

一種表貼式環(huán)行器/隔離器測試工裝，CN210604878U；

全自動隔離器、環(huán)形器復測機，CN210022874U。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的在于提供一種環(huán)行器、隔離器旋轉(zhuǎn)式測試裝置，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中環(huán)形器、隔離器測試自動化程度低、測試的效率低等問題。

為實現(xiàn)上述目的，本實用新型所采取的技術(shù)方案是：

一種旋轉(zhuǎn)升降機構(gòu)，其特征在于：包括升降機構(gòu)和旋轉(zhuǎn)機構(gòu)；

所述升降機構(gòu)包括頂升氣缸507和連接軸508，所述連接軸508的下端與頂升氣缸507通過連接件509連接，所述頂升氣缸507用于驅(qū)動連接軸508軸向移動，并且所述連接軸508可自由旋轉(zhuǎn)；

所述旋轉(zhuǎn)機構(gòu)包括驅(qū)動電機505和空心軸512，所述空心軸512套在連接軸508上構(gòu)成一軸向滑動周向傳遞力矩的結(jié)構(gòu)，所述驅(qū)動電機505與空心軸512通過旋轉(zhuǎn)傳動組件506連接。

一種環(huán)行器、隔離器旋轉(zhuǎn)式測試裝置，其特征在于：包括上述的旋轉(zhuǎn)升降機構(gòu)，所述連接軸508的上端設(shè)有轉(zhuǎn)盤503，所述轉(zhuǎn)盤503上設(shè)有一個以上的測試吸盤504，所述轉(zhuǎn)盤503的下方設(shè)有一個以上的測試工位502，所述測試工位502分布在測試吸盤504的旋轉(zhuǎn)軌跡上。

進一步地，所述轉(zhuǎn)盤503上設(shè)有一個測試吸盤504，所述轉(zhuǎn)盤503的下方設(shè)有一個以上的測試工位502。

進一步地，所述測試工位502的數(shù)量為N時，所述測試吸盤504的數(shù)量則為N+1；N+1個測試吸盤504以轉(zhuǎn)盤503的旋轉(zhuǎn)中心為圓心周向均勻分布；其中N+1個測試吸盤504的正下方正對N個測試工位502和一個空位。

進一步地，所述轉(zhuǎn)盤503為十字形，其中每個端部設(shè)有一個測試吸盤504。