[實用新型]一種半導體性能測試用雙頭探針

有效

• 申請號: 202022105796.0
• 申請日: 2020-09-23
• 公開（公告）號: CN214011318U
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發明（設計）人: 王睿
• 申請（專利權）人: 哈爾濱卡倫納科技有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R31/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種半導體性能測試用雙頭探針，包括連接套，所述連接套的一側外壁上焊接有斜套，且連接套的一側內壁上開設有螺紋槽，所述連接套的一側內壁上靠近螺紋槽的一側位置處焊接有固定盤，所述連接套的內部設置有探針套，所述探針套的一端焊接有螺紋頭，且探針套的內部滑動連接有第一滑座，所述第一滑座的一側外壁上焊接有探針桿。該半導體性能測試用雙頭探針，通過連接套和探針套的相互配合，并在螺紋頭與螺紋槽的螺紋旋合連接，可以便捷的將探針套內的探針桿拆卸取出，一方面便于對磨損的探針桿進行更換，提高探針桿更換的便捷，另一方面便于對拆卸后的探針充分清洗，保證探針內部清洗的效果。

技術領域

本實用新型涉及探針技術領域，具體為一種半導體性能測試用雙頭探針。

背景技術

探針是用于測試PCBA的一種測試針，表面鍍金，內部有平均壽命3萬-10萬次的高性能彈簧。

但是，現有的半導體性能測試用雙頭探針大多不便于拆卸，這樣在受到磨損或者清洗時，不便于將雙頭探針進行更換和清洗，拆卸不夠便捷，現有的半導體性能測試用雙頭探針內部彈簧彈性回彈力是固定的，難以根據需求進行調節。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種半導體性能測試用雙頭探針，以解決上述背景技術中提出現有的半導體性能測試用雙頭探針大多不便于拆卸，這樣在受到磨損或者清洗時，不便于將雙頭探針進行更換和清洗，拆卸不夠便捷，現有的半導體性能測試用雙頭探針內部彈簧彈性回彈力是固定的，難以根據需求進行調節的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種半導體性能測試用雙頭探針，包括連接套，所述連接套的一側外壁上焊接有斜套，且連接套的一側內壁上開設有螺紋槽，所述連接套的一側內壁上靠近螺紋槽的一側位置處焊接有固定盤，所述連接套的內部設置有探針套，所述探針套的一端焊接有螺紋頭，且探針套的內部滑動連接有第一滑座，所述第一滑座的一側外壁上焊接有探針桿，所述探針桿上遠離第一滑座的一端焊接有探針頭，且探針桿相鄰于第一滑座的一側外壁上焊接有滑軌，所述探針套的內部靠近第一滑座的一側位置處設置有彈簧，且探針套的內部靠近彈簧的一側位置處滑動連接有第二滑座，所述第二滑座上遠離彈簧的一側外壁上焊接有內桿，所述內桿的外部套設有外桿，所述外桿的一側外壁上通過螺紋旋合連接有緊固螺母，所述探針套的一側內壁上靠近滑軌的一側位置處開設有滑槽。

優選的，所述斜套共設置有兩個，且兩個斜套對稱設置在連接套的外壁上。

優選的，所述滑軌嵌入在滑槽的內部，且滑軌與滑槽滑動連接。

優選的，所述螺紋槽與螺紋頭通過螺紋旋合連接。

優選的，所述滑軌和探針套均共設置有四個，且四個滑軌和四個探針套分別對稱設置在探針桿的一側外壁上和探針套的一側內壁上。

優選的，所述斜套為空心錐臺體結構。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：該半導體性能測試用雙頭探針，通過連接套和探針套的相互配合，并在螺紋頭與螺紋槽的螺紋旋合連接，可以便捷的將探針套內的探針桿拆卸取出，一方面便于對磨損的探針桿進行更換，提高探針桿更換的便捷，另一方面便于對拆卸后的探針充分清洗，保證探針內部清洗的效果，通過調節外桿和內桿的長度，可以改變彈簧的彈性回彈力，保證雙頭探針的彈性適應需求。

附圖說明

圖1為本實用新型正視圖；

圖2為本實用新型探針套內部結構示意圖；

圖3為本實用新型探針套剖視圖；

圖4為本實用新型探針套側視圖；

圖5為本實用新型連接套內部結構示意圖。