[實用新型]一種薄板型電化學腐蝕試樣無損密封裝置

有效

• 申請號: 202022095576.4
• 申請日: 2020-09-22
• 公開（公告）號: CN213209869U
• 公開（公告）日: 2021-05-14
• 發明（設計）人: 蒲家飛;汪洪峰;劉勝榮;宋娓娓;葛小樂;董旗
• 申請（專利權）人: 黃山學院
• 主分類號: G01N17/02
• 分類號: G01N17/02;G01N27/30
• 代理公司: 深圳卓正專利代理事務所(普通合伙) 44388
• 代理人: 萬正平

本實用新型公開一種薄板型電化學腐蝕試樣無損密封裝置。所述薄板型電化學腐蝕試樣無損密封裝置包括中空且兩端開口的開口空腔器(100)、與所述開口空腔器(100)的后側螺紋密封連接的密封后蓋(112)、位于所述開口空腔器(100)的前側內部的薄板試樣(102)、抵壓在所述薄板試樣(102)的后表面上的導電壓塊(104)以及穿過所述開口空腔器(100)的側壁與所述導電壓塊(104)電連接的通電導線部(108)，所述導電壓塊(104)與所述薄板試樣(102)的后表面之間為面接觸。根據本實用新型的薄板型電化學腐蝕試樣無損密封裝置，導電壓塊與薄板試樣的后表面之間為面接觸，薄板試樣不容易被損壞。

技術領域

本實用新型屬于電化學測試的工作電極技術領域，尤其涉及一種薄板型電化學腐蝕試樣無損密封裝置。

背景技術

電化學測試中最常用的是由對電極(又稱輔助電極)、參比電極及工作電極組成的三電極體系。在中國專利申請公開說明書，CN107167501A公開了其中的工作電極為金屬試樣連接導線，然后用環氧樹脂封裝。采用這種工作電極的缺點是：每當做完腐蝕試驗后往往要用掃描電子顯微鏡(SEM)觀察樣品的腐蝕形貌，或用能譜分析(EDS)研究腐蝕產物成分，這就需要把電極拆解，現有技術的電極拆解操作十分繁瑣，導致測試效率低下，而且在拆解的過程中極容易改變反應過后金屬表面的狀態，均會影響后續的測試結果。

在中國專利申請公開說明書CN110082408A公開了一種工作電極裝置，緊壓試樣臺面具有傾角，導電部分為彈簧接觸，接觸點接觸，待測試樣整體形式呈三點受力，會使薄板試樣發生彎曲，薄板四周邊緣發生翹曲后會降低密封性，中間凸起變形又會影響檢測結果，甚至會破壞薄板型。

實用新型內容

本實用新型的目的在于，提供一種薄板型電化學腐蝕試樣無損密封裝置，旨在解決上述待測薄板型試樣整體形式呈三點受力容易受損的技術問題。

本實用新型通過如下技術方案實現：一種薄板型電化學腐蝕試樣無損密封裝置，包括中空且兩端開口的開口空腔器、與所述開口空腔器的后側螺紋密封連接的密封后蓋、位于所述開口空腔器的前側內部的薄板試樣、抵壓在所述薄板試樣的后表面上的導電壓塊以及穿過所述開口空腔器的側壁與所述導電壓塊電連接的通電導線部，所述導電壓塊與所述薄板試樣的后表面之間為面接觸。

進一步地，所述薄板試樣的厚度小于0.2毫米。

進一步地，所述導電壓塊與所述開口空腔器為螺紋配合。

進一步地，所述導電壓塊的后端面設置有一字型凹槽，所述密封后蓋的前端面設置有一字型凸起，所述一字型凹槽與所述一字型凸起匹配。

進一步地，所述開口空腔器的后側與所述密封后蓋之間設置有第一密封墊圈。

進一步地，所述開口空腔器的前端設置有徑向向內延伸的壓邊，所述壓邊的內壁與所述薄板試樣之間設置有第二密封墊圈。

進一步地，所述第二密封墊圈為具有多個環形葉片的多環葉密封圈。

進一步地，所述通電導線部具有導線部和包圍所述導線部的萬向竹節部。

本實用新型的有益效果是：本實用新型的薄板型電化學腐蝕試樣無損密封裝置中，導電壓塊與薄板試樣的后表面之間為面接觸，薄板試樣不容易被損壞。

附圖說明

圖1是根據本實用新型的一個實施方式的薄板型電化學腐蝕試樣無損密封裝置的剖切示意圖；

圖2是圖1的薄板型電化學腐蝕試樣無損密封裝置的分解示意圖；

圖3是圖1的薄板型電化學腐蝕試樣無損密封裝置的A處放大示意圖；

圖4是圖1的薄板型電化學腐蝕試樣無損密封裝置的B處放大示意圖；

圖5是圖1的薄板型電化學腐蝕試樣無損密封裝置的多環葉密封圈的截面圖。