[實用新型]一種引信安全與引爆系統自動測試裝置

有效

• 申請號: 202021859226.4
• 申請日: 2020-08-31
• 公開（公告）號: CN212902909U
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 任宇
• 申請（專利權）人: 貴州航天電子科技有限公司
• 主分類號: F42C21/00
• 分類號: F42C21/00
• 代理公司: 貴州派騰知識產權代理有限公司 52114
• 代理人: 劉宇宸

一種引信安全與引爆系統自動測試裝置，包括中央控制單元MCU、狀態檢查單元、延時測試單元、電阻測試單元、數據處理AD單元、數據存儲顯示單元以及串行數據通訊單元，本實用新型將中央控制單元MCU、狀態檢查單元、延時測試單元、電阻測試單元、數據處理AD單元、數據存儲顯示單元以及串行數據通訊單元進行連接，并使用LCD屏進行顯示，在中央控制板、信號轉換板以及測量裝置板上合理的安裝多個單元，對引信安全與引爆系統的自動測試提供了良好的硬件基礎，為引信安全與引爆系統檢測的安全性提供了保障，可大大提高測試效率，同時，測試模塊較為完善，也為優化測試方式，簡化測試方法提供了更為優良的硬件環境。

技術領域

本實用新型涉及一種引信安全與引爆系統自動測試裝置。

背景技術

引信安全與引爆系統測試裝置是由測試電路、開關、數碼管和指示燈組成。開關的使用，導致產品的測試沒有辦法做到時序控制，容易發生輸出錯誤的測試信號，誤操作等問題；數碼管和指示燈顯示具有局限性，無法明確顯示所有測試項目，導致測試覆蓋性不夠全面。目前引信安全與引爆系統測試裝置是測試人員通過撥動開關進行產品的功能性能測試，造成了測試安全性差、效率低、測試方法繁瑣等問題，另外，測試人員誤操作的行為，給被測產品帶來損傷；不斷的撥動開關，降低了測試裝置的使用壽命，增加了更換測試裝置的幾率。隨著科學技術和市場經濟的發展，電子裝備對測試保障的要求都有所提高，傳統的測試設備和技術已經不能滿足新時代下電子裝備的發展需要。

實用新型內容

為解決上述技術問題，本實用新型提供了一種引信安全與引爆系統自動測試裝置，可運用自動控制程序，進行系統科學的邏輯處理和數學運算，自動化程度高、測試時間短、具有防誤操作設計，能夠有效提升測試效率、可靠性和安全性。

本實用新型通過以下技術方案得以實現。

本實用新型提供的一種引信安全與引爆系統自動測試裝置，包括中央控制單元MCU、狀態檢查單元、延時測試單元、電阻測試單元、數據處理AD單元、數據存儲顯示單元以及串行數據通訊單元；

其中，所述中央控制單元MCU與狀態檢查單元、延時測試單元、電阻測試單元、數據處理AD單元、數據存儲顯示單元以及串行數據通訊單元連接，串行數據通訊單元還與數據存儲顯示單元連接；

所述數據存儲顯示單元包括LCD屏，LCD屏通過串行數據通信單元與中央控制單元MCU連接。

進一步的，還包括一個電源變換單元與數據處理單元以及中央控制單元MCU連接。

進一步的，還包括中央控制板、信號轉換板以及測量裝置板，所述狀態檢查單元、延時測試單元以及電阻測試單元安裝于測量裝置板上；串行數據通訊單元安裝于信號轉換板上；中央控制單元MCU與數據處理AD單元安裝于中央控制板上。

進一步的，所述數據存儲顯示單元除LCD屏外均安裝于中央控制板上。

進一步的，所述中央控制板通過兩個80芯的連接器與信號轉換板相互連接。

進一步的，所述測量裝置板通過一個20芯的連接器以及一個10芯的連接器與信號轉換板相連。

進一步的，所述LCD屏為觸摸顯示屏，中央控制單元MCU接收來自LCD觸摸顯示屏發送的控制指令。

進一步的，所述LCD屏與信號轉換板之間采用RS-232串口進行連接。

進行測試時，延時測試單元、狀態檢查單元以及電阻測試單元可接收經過中央控制單元MCU處理的控制信號進行引信安全與引爆系統的測試，并將相關數據信息反饋至中央控制單元MCU，中央控制單元MCU將數據發送至數據處理AD單元進行數據處理，并將相關數據經過串行數據通訊單元傳輸至存儲顯示單元進行存儲，同時，中央控制單元MCU對經過數據處理AD單元處理的數據進行分析，將分析結果通過LCD屏進行顯示。