[實用新型]一種用于光學膜片輔助測量裝置

有效

• 申請號: 202021857009.1
• 申請日: 2020-08-31
• 公開（公告）號: CN212646372U
• 公開（公告）日: 2021-03-02
• 發明（設計）人: 趙小強;楊旭
• 申請（專利權）人: 綿陽虹瑞科技有限公司
• 主分類號: G01N3/56
• 分類號: G01N3/56;G01N3/02
• 代理公司: 成都元信知識產權代理有限公司 51234
• 代理人: 馮冰

本實用新型涉及光學膜片技術領域，尤其涉及一種用于光學膜片輔助測量裝置，包括箱體，所述箱體的內側設置有多組測磨機構，所述測磨機構包括水平設置在箱體內部的支撐板，所述支撐板的上方設置有連接板，所述連接板的內側活動插裝有連接柱，所述連接柱的底端連接有耐磨板，所述連接柱的外側套設有彈簧，所述彈簧的上端和下端分別與連接板和耐磨板相抵，所述連接柱的頂端設置有限位盤，所述連接板的一側共同連接有滑動機構，本實用新型結構簡單，使用較為便利，且可以多層實驗測量，大大的提升了生產光學膜片的成品質量。

技術領域

本實用新型涉及光學膜片技術領域，尤其涉及一種用于光學膜片輔助測量裝置。

背景技術

液晶顯示器已經廣泛的應用于生活中，它的組件包括導光板、上下擴散片等多種光學膜片，以致于光學膜片的生產需要大大的提高，在使用時，光學膜片由于震動等原因，需要對光學膜片進行抽檢耐磨測試，測量光學膜片層面的耐磨程度，所以光學膜片的必須具備合格的耐磨性能才能保證成品質量，現有裝置結構復雜，且測量效率不高，不便于使用，為此，我們提出一種用于光學膜片輔助測量裝置。

實用新型內容

本實用新型的目的是為了解決現有技術中存在結構復雜，且測量效率不高，不便于使用的問題，而提出的一種用于光學膜片輔助測量裝置。

為達到以上目的，本實用新型采用的技術方案為：一種用于光學膜片輔助測量裝置，包括箱體，所述箱體的內側設置有多組測磨機構，所述測磨機構包括水平設置在箱體內部的支撐板，所述支撐板的上方設置有連接板，所述連接板的內側活動插裝有連接柱，所述連接柱的底端連接有耐磨板，所述連接柱的外側套設有彈簧，所述彈簧的上端和下端分別與連接板和耐磨板相抵，所述連接柱的頂端設置有限位盤，多塊所述連接板的一側共同連接有滑動機構。

優選的，所述滑動機構包括電機，所述電機的底端設置有支撐座，所述支撐座與箱體固定連接，所述電機的輸出端連接有螺紋桿，所述螺紋桿的遠離電機的一端螺紋連接有滑塊，所述滑塊的底端設置有限位機構，所述滑塊的內側套裝有E型管，所述E型管的端部均與連接板固定連接，所述箱體的前端面開設有適配E型管的滑槽。

優選的，所述限位機構包括橫板，所述橫板的一側與箱體的前端面固定連接，所述滑塊滑動連接在橫板的頂端，所述橫板的端部設置有限位板。

優選的，所述支撐板的兩端均延伸有擋板，所述擋板均與箱體內壁固定連接。

優選的，所述耐磨板的底端均包裹有鋼絲絨摩擦層。

優選的，所述耐磨板的材質為塑料硬板或者鋼化玻璃材料。

與現有技術相比，本實用新型具有以下有益效果：通過設置多組測磨機構不僅能便于檢測光學膜片的耐磨性，而且提升了檢測光學膜片耐磨的效率，從而保證了光學膜片的成品質量，且根據不同光學膜片的厚度進行調節耐磨板，將光學膜片放置在隔板上，連接外部電源驅動電機，即可使得滑塊和E型管在光學膜片的表面進行耐磨檢測，結構簡單，便于使用。

附圖說明

圖1為本實用新型一種用于光學膜片輔助測量裝置結構示意圖；

圖2為本實用新型一種用于光學膜片輔助測量裝置的局部結構剖視圖；

圖3為本實用新型一種用于光學膜片輔助測量裝置的圖2中A處放大示意圖。

圖中：1、箱體；2、支撐板；3、電機；4、E型管；5、滑塊；6、連接板；7、螺紋桿；8、耐磨板；9、橫板；10、彈簧；11、連接柱；12、限位盤；13、支撐座；14、滑槽；15、限位板；16、擋板。

具體實施方式

以下描述用于揭露本實用新型以使本領域技術人員能夠實現本實用新型。以下描述中的優選實施例只作為舉例，本領域技術人員可以想到其他顯而易見的變型。