[實(shí)用新型]一種用于輻射制冷薄膜性能測(cè)試的裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202021804250.8
• 申請(qǐng)日: 2020-08-26
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN212483433U
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-02-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 詹耀輝;馬鴻晨;戴明光
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州融睿納米復(fù)材科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N25/20
• 分類號(hào): G01N25/20
• 代理公司: 南京縱橫知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32224
• 代理人: 董建林

1.一種用于輻射制冷薄膜性能測(cè)試的裝置，其特征在于：包括上端開(kāi)口的隔熱箱體（4），該開(kāi)口端采用透明隔絕罩（2）密封，沿著箱體的縱向方向所述隔熱箱體（4）的內(nèi)部被分隔為位于上方的傳導(dǎo)區(qū)（9）和位于下方的對(duì)流區(qū)（10）；還包括設(shè)置在箱體內(nèi)部的承載板（8）和安裝在承載板（8）下方的高度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)（7），所述高度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)（7）用于調(diào)節(jié)所述承載板（8）在箱體中的位置高度；在所述承載板（8）的上表面按矩形陣列分布的形式開(kāi)設(shè)若干個(gè)薄膜槽（801），每個(gè)薄膜槽（801）的底部安裝有熱電偶探頭（1），所述的熱電偶探頭（1）的信號(hào)輸出端與數(shù)據(jù)記錄儀（6）相連。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于輻射制冷薄膜性能測(cè)試的裝置，其特征在于：所述承載板（8）的厚度小于所述傳導(dǎo)區(qū)（9）的厚度，測(cè)試時(shí)，所述承載板（8）通過(guò)高度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)（7）的調(diào)節(jié)在傳導(dǎo)區(qū)（9）和對(duì)流區(qū)（10）之間上下移動(dòng)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于輻射制冷薄膜性能測(cè)試的裝置，其特征在于：所述承載板（8）的厚度為所述傳導(dǎo)區(qū)（9）的厚度的1/3-1/2。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于輻射制冷薄膜性能測(cè)試的裝置，其特征在于：所述承載板（8）的尺寸與所述隔熱箱體（4）內(nèi)部的水平橫截面的尺寸相同。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于輻射制冷薄膜性能測(cè)試的裝置，其特征在于：所述承載板（8）采用隔熱材料制作。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于輻射制冷薄膜性能測(cè)試的裝置，其特征在于：所述隔熱箱體（4）的側(cè)板在對(duì)應(yīng)對(duì)流區(qū)（10）的位置開(kāi)設(shè)有通風(fēng)孔（11），所述通風(fēng)孔（11）設(shè)置在任一組相對(duì)的側(cè)板上。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于輻射制冷薄膜性能測(cè)試的裝置，其特征在于：所述的高度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)（7）采用的若干個(gè)對(duì)稱的布置在所述隔熱箱體（4）底板上的伸縮桿，所述的伸縮桿同步移動(dòng)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于輻射制冷薄膜性能測(cè)試的裝置，其特征在于：所述熱電偶探頭（1）通過(guò)串行線（5）與數(shù)據(jù)記錄儀（6）相連。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于輻射制冷薄膜性能測(cè)試的裝置，其特征在于：所述薄膜槽（801）的形狀與所放置的待測(cè)試的薄膜的形狀相匹配。