[實用新型]預(yù)燒測試高電流提升裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202021747136.6 | 申請日: | 2020-08-20 |
| 公開(公告)號: | CN212364490U | 公開(公告)日: | 2021-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 游政乾 | 申請(專利權(quán))人: | 華烽科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26;G01R1/04;H02M1/00;H02M3/00 |
| 代理公司: | 北京匯智英財專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11301 | 代理人: | 牟長林 |
| 地址: | 中國臺灣新竹*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試 電流 提升 裝置 | ||
一種預(yù)燒測試高電流提升裝置,其包括:一預(yù)燒板及一配電板,彼此相互活動疊接組成,其中預(yù)燒板電連接至一第一電源而配電板電連接至一第二電源,該第二電源用以提供一大電流的直流電。預(yù)燒板上間隔分布設(shè)置多個測試單元,每一測試單元至少設(shè)置一測試插座,用以測試一半導(dǎo)體元件。該第一電源用以提供該預(yù)燒板上的該多個測試單元正常工作電壓及一般標(biāo)準(zhǔn)訊號。配電板上間隔分布設(shè)置多個降壓轉(zhuǎn)換器,該多個降壓轉(zhuǎn)換器可任意分組成多個降壓轉(zhuǎn)換器組,每個降壓轉(zhuǎn)換器組對應(yīng)于一個測試單元,用以降低該第二電源的電壓并提升該第二電源的電流來轉(zhuǎn)換該第二電源所供應(yīng)的直流電,并且將轉(zhuǎn)換的直流電供給該預(yù)燒板上對應(yīng)的測試單元。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型有關(guān)預(yù)燒裝置的技術(shù)領(lǐng)域,尤指一種預(yù)燒測試高電流提升裝置。
背景技術(shù)
隨著科技進(jìn)步,新一代的高性能晶片設(shè)計及制造上更為復(fù)雜。因為運(yùn)算速度快功能超強(qiáng),必須在大電流下工作相對消耗功率也大,使得這些晶片出廠前需要在高溫下進(jìn)行老化測試,所以半導(dǎo)體廠生產(chǎn)制造時都會進(jìn)行可靠度測試。
由于高性能晶片必須消耗很大的功率,若以每一晶片IC 600A的電流為例,一塊預(yù)燒測試板(Burn-in Board;BIB) 若同時對4顆晶片進(jìn)行測試,則其電源供應(yīng)器(PowerSupply)就必須供應(yīng)2400A的電流,然而如此的大電流若通過電路板( PCB )來傳遞,會產(chǎn)生極大的電壓降影響測試進(jìn)行,或需要增加PCB導(dǎo)電層數(shù)而增加成本。
為此,美國專利第6140829提供一種以直流對直流轉(zhuǎn)換器( DCtoDC Converter)將高電壓低電流轉(zhuǎn)換成低電壓高電流送至位于烤箱內(nèi)的預(yù)燒板。雖然有效解決上述問題,但其架構(gòu)中間還得經(jīng)過多個特制高規(guī)格的連接器插槽(connector)相連,使得測試設(shè)備非常復(fù)雜又昂貴,而且架構(gòu)中經(jīng)過多塊板子及連接器插槽后,會造成電壓降低,以致高速的晶片無法正確進(jìn)行測試。
因此,中國臺灣發(fā)明專利 I406346 進(jìn)一步改良,將直流對直流轉(zhuǎn)換器( DCtoDCConverter)直接整合設(shè)在預(yù)燒測試板上,但這種預(yù)燒測試板除了要有正常供電及一般模擬的控制訊號之外,另外還必須設(shè)置直流對直流轉(zhuǎn)換器供給的低電壓高電流,故其整合后的預(yù)燒測試板仍必須采用特殊規(guī)格厚銅板材及特制高規(guī)格的連接器插槽,無法有效降低設(shè)置成本簡化供電模組、而且這樣的預(yù)燒板只能專用,當(dāng)面對不同元件時整個預(yù)燒板都必須重新再制,彼此間不能相互共享套用,造成重復(fù)制板的浪費(fèi)及測試拆裝更換上的不便,為其主要缺點。
另外,中國臺灣發(fā)明專利I689240提出了進(jìn)一步的改良,其使用一般普通電源來供給正常的直流電壓和電流給預(yù)燒板進(jìn)行信號模擬和測試,以及一個特殊大電流供電層,其與該一般普通電源獨立分開而設(shè)置,用以提供低電壓大電流給預(yù)燒板上的測試單元,借此有效降低預(yù)燒板與大電流供電層制造規(guī)格的條件限制,不必另外采用太多特殊高價的零件材料,而達(dá)到簡化供電模組、降低設(shè)置成本、使測試作業(yè)更為方便易于進(jìn)行,并可提供多樣不同元件的預(yù)燒板更換相互套用,讓其皆能共享分開供電的實用效益。然而,這種預(yù)燒板結(jié)構(gòu)中的大電流供電層所輸出的直流電流,若超過1000A將會變得不容易處理且非常昂貴。若是要將這種預(yù)燒板結(jié)構(gòu)運(yùn)用到測試多個處理大電流的半導(dǎo)體元件 (例如電源管理IC)的應(yīng)用中,這種預(yù)燒板結(jié)構(gòu)將無法達(dá)成這個需求。
舉例來說,隨著科技的進(jìn)步,晶片所消耗的功率也越來越大,且晶片需要處理的電流安培數(shù)也急遽增加。例如,用于基地臺或交換機(jī)房的晶片,所需要處理的電流值通常都會高達(dá)600A。若同時對4個用于基地臺或交換機(jī)房的晶片做測試,則提供給預(yù)燒板的測試單元的直流電源,必須要能夠提供2400A的電流。如此一來,若要測試多個處理大電流的半導(dǎo)體元件,例如用于基地臺或交換機(jī)房的晶片,則需要增加PCB的導(dǎo)電層數(shù)來提供超過1000A的大電流,因而會增加成本。
基于克服現(xiàn)有技術(shù)中所存在的缺點,發(fā)明人經(jīng)過悉心試驗與研究,終研發(fā)出本實用新型的預(yù)燒測試高電流提升裝置,除能夠克服上述先前技術(shù)的缺點,還增加許多不同的優(yōu)點,以下為本實用新型的簡要說明。
實用新型內(nèi)容
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