[實(shí)用新型]一種用于測試搪塑表皮原位光澤度的定位裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202021535340.1
• 申請日: 2020-07-29
• 公開（公告）號: CN212674755U
• 公開（公告）日: 2021-03-09
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 萬小歡
• 申請（專利權(quán)）人: 華美工程塑料（常熟）有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/57
• 代理公司: 蘇州根號專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32276
• 代理人: 項麗

1.一種用于測試搪塑表皮原位光澤度的定位裝置，其特征在于，包括鐵質(zhì)樣品槽，所述樣品槽的四周設(shè)置有帶有刻度的邊框，沿著所述樣品槽的寬度方向豎直設(shè)置有帶有刻度的定位桿，所述定位桿沿著樣品槽的長度方向滑動連接，定位裝置還包括磁性物質(zhì)制成的壓條。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測試搪塑表皮原位光澤度的定位裝置，其特征在于，所述樣品槽兩側(cè)的邊框上設(shè)置有導(dǎo)軌，所述定位桿的兩端均設(shè)置有與導(dǎo)軌配合的滑動塊。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于測試搪塑表皮原位光澤度的定位裝置，其特征在于，所述導(dǎo)軌設(shè)置成燕尾形導(dǎo)軌，所述滑動塊設(shè)置成與燕尾形導(dǎo)軌配合的燕尾形滑動塊。