[實用新型]一種光纖衰減長度測量裝置及系統

有效

• 申請號: 202021504504.4
• 申請日: 2020-07-27
• 公開（公告）號: CN213516279U
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發明（設計）人: 張笑鵬;侯超;劉佳;趙靜;呂洪奎;盛祥東
• 申請（專利權）人: 中國科學院高能物理研究所
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;G01M11/02
• 代理公司: 北京志霖恒遠知識產權代理事務所(普通合伙) 11435
• 代理人: 郭棟梁

本申請公開了一種光纖衰減長度測量裝置及系統，該測量裝置包括：直線導軌，所述直線導軌上滑動設置不透光的滑臺，所述滑臺上設置有至少一個通孔，所述通孔的軸線與所述直線導軌的導向方向平行；沿所述直線導軌的導向方向間隔設置有至少兩個光纖支撐件，所述滑臺位于兩個所述光纖支撐件之間；所述滑臺上設置有與所述通孔一一對應連通的透光孔；光線出射部件，用于通過各所述透光孔向所述通孔出射光線；和光電探測元件，用于對光照強度進行采集。本申請實現了對光纖衰減長度的自動化測量與分析，具有測量結果準確、可靠、可重復性好的優勢；并實現了多根光纖的批量檢測。

技術領域

本申請一般涉及光纖特征參數測量技術領域，具體涉及一種光纖衰減長度測量裝置及系統。

背景技術

波長位移光纖，即波移光纖廣泛應用于粒子探測器中，滿足全反射條件的發射光子沿著光纖傳播，最終從光纖端面射出。由于光纖對光子有一定的吸收，發射光的強度會隨著傳播距離的增加而按照e指數規律下降，稱為光纖衰減。波移光纖的衰減長度是反映其衰減特性的重要指標，現有的測量波移光纖衰減長度的方法一般是用藍紫光從光纖側面的多個位點依次照射光纖，通過依次檢測輸出端的光輸出功率進行計算。測完一個位點后，需要手動改變照射光在光纖上的入射位置以進行下一位點的測量，且每次只能測量一根光纖，存在費時、費力、測量速度慢、測量精度差的缺陷。

發明內容

鑒于現有技術中的上述缺陷或不足，本申請期望提供一種光纖衰減長度測量裝置及系統，以期解決現有技術中無法批量、快速、準確測量光纖衰減長度的缺陷。

作為本申請的第一方面，本申請提供一種光纖衰減長度測量裝置。

作為優選，所述光纖衰減長度測量裝置包括：

直線導軌，所述直線導軌上滑動設置不透光的滑臺，所述滑臺上設置有至少一個通孔，所述通孔的軸線與所述直線導軌的導向方向平行；

沿所述直線導軌的導向方向間隔設置有至少兩個光纖支撐件，所述滑臺位于兩個所述光纖支撐件之間；

所述滑臺上設置有與所述通孔一一對應連通的透光孔；

光線出射部件，用于通過各所述透光孔向所述通孔出射光線；和

光電探測元件，用于對光照強度進行采集。

作為優選，所述光線出射部件包括光源和分束器，所述分束器用于分解所述光源出射的光線，以生成多路光照強度相同的子光束。

作為優選，所述光源出射部件還包括用于對所述分束器輸出的子光束進行擴束的擴束鏡，所述擴束鏡設置于所述透光孔的孔口處，來自所述光源的光線依次經過所述分束器、所述擴束鏡和所述透光孔后出射至所述通孔。

作為優選，所述光纖支撐件具有至少一個用于支撐光纖的支撐區，所述支撐區與所述通孔一一對應同軸設置。

作為優選，所述光纖衰減長度測量裝置還包括用于驅動所述滑臺沿所述直線導軌作往復運動的驅動裝置。

作為優選，所述直線導軌、所述光線出射部件、所述光電探測元件和所述驅動裝置均設置于暗箱中。

作為本申請的第二方面，本申請提供一種光纖衰減長度測量系統。

作為優選，所述光纖衰減長度測量系統包括第一方面所述的光纖衰減長度測量裝置和分析處理單元，所述分析處理單元用于根據所述光線出射部件位于不同位置時，所述光電探測元件采集的光照強度，確定光纖的衰減長度。

本申請的有益效果：