[實用新型]一種半導(dǎo)體制冷片綜合測試設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202021503433.6
• 申請日: 2020-07-27
• 公開（公告）號: CN212723197U
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳文斌
• 申請（專利權(quán)）人: 江西北冰洋實業(yè)有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R1/04
• 代理公司: 南昌賢達專利代理事務(wù)所(普通合伙) 36136
• 代理人: 金一嫻

1.一種半導(dǎo)體制冷片綜合測試設(shè)備，其特征在于：包括綜合測試設(shè)備本體(1)，所述綜合測試設(shè)備本體(1)的底部固定連接有若干支撐柱(2)，所述支撐柱(2)的底部固定連接有第一支撐板(3)，所述綜合測試設(shè)備本體(1)的下方設(shè)有矩形環(huán)(4)，所述矩形環(huán)(4)的頂部開設(shè)有若干通孔(5)，所述通孔(5)內(nèi)設(shè)有第一活動柱(6)，所述第一活動柱(6)的底部固定連接有滾輪(8)，所述第一活動柱(6)的外部套設(shè)有位于矩形環(huán)(4)底部的限位環(huán)(7)，所述限位環(huán)(7)與第一活動柱(6)固定連接，所述第一活動柱(6)與綜合測試設(shè)備本體(1)通過彈性組件連接，所述矩形環(huán)(4)與綜合測試設(shè)備本體(1)通過驅(qū)動組件連接；

所述驅(qū)動組件包括設(shè)置于矩形環(huán)(4)內(nèi)的氣缸(11)，所述氣缸(11)的底部固定連接有推板(12)，所述推板(12)的底部設(shè)有第一活動板(13)，所述第一活動板(13)與矩形環(huán)(4)通過若干連接柱(10)連接，所述氣缸(11)的頂端與綜合測試設(shè)備本體(1)通過固定組件連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體制冷片綜合測試設(shè)備，其特征在于：所述固定組件包括對稱設(shè)置于氣缸(11)兩側(cè)的連接塊(14)，所述連接塊(14)與氣缸(11)固定連接，所述綜合測試設(shè)備本體(1)的底部開設(shè)有第一卡槽(15)，所述第一卡槽(15)內(nèi)設(shè)有第一卡板(16)，所述第一卡板(16)的底部與氣缸(11)的頂部固定連接，所述連接塊(14)遠離氣缸(11)的一側(cè)開設(shè)有第二卡槽(18)，所述連接塊(14)遠離氣缸(11)的一側(cè)設(shè)有第二支撐板(17)，所述第二支撐板(17)與綜合測試設(shè)備本體(1)固定連接，所述第二支撐板(17)的一側(cè)開設(shè)有與第二卡槽(18)相配合的矩形孔(19)，所述第二卡槽(18)內(nèi)設(shè)有第二卡板(20)，所述第二卡板(20)的一端延伸至矩形孔(19)內(nèi)，且所述第二卡板(20)遠離氣缸(11)的一側(cè)設(shè)有活動組件。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種半導(dǎo)體制冷片綜合測試設(shè)備，其特征在于：所述活動組件包括設(shè)置于第二卡板(20)遠離氣缸(11)一側(cè)的第二活動柱(23)，所述第二活動柱(23)與第二卡板(20)固定連接，所述第二支撐板(17)遠離連接塊(14)的一側(cè)設(shè)有固定板(21)，所述固定板(21)與綜合測試設(shè)備本體(1)固定連接，所述固定板(21)遠離第二支撐板(17)的一側(cè)設(shè)有第二活動板(22)，所述第二活動柱(23)的一端貫穿固定板(21)，且所述第二活動柱(23)的一端與第二活動板(22)固定連接，所述第二活動柱(23)的外部套設(shè)有位于第二活動板(22)與固定板(21)之間的第一彈簧(9)，所述第一彈簧(9)的兩端分別與固定板(21)和第二活動板(22)固定連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種半導(dǎo)體制冷片綜合測試設(shè)備，其特征在于：所述第二活動板(22)的下方設(shè)有連接板(25)，所述連接板(25)的一側(cè)與固定板(21)固定連接，所述連接板(25)的頂部固定連接有限位板(26)，所述第二活動板(22)遠離固定板(21)的一側(cè)固定連接有握把(27)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種半導(dǎo)體制冷片綜合測試設(shè)備，其特征在于：所述限位板(26)位于第二活動板(22)遠離固定板(21)的一側(cè)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體制冷片綜合測試設(shè)備，其特征在于：所述彈性組件包括開設(shè)于第一活動柱(6)頂部的凹槽(28)，所述凹槽(28)內(nèi)設(shè)有第三活動柱(29)，所述第三活動柱(29)的頂部與綜合測試設(shè)備本體(1)固定連接，所述第三活動柱(29)的底部與凹槽(28)的底部內(nèi)壁通過第二彈簧(24)連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體制冷片綜合測試設(shè)備，其特征在于：所述第一支撐板(3)的底部水平位置低于滾輪(8)的底部水平位置。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體制冷片綜合測試設(shè)備，其特征在于：所述第一支撐板(3)的底部固定連接有防滑墊。