[實用新型]一種具有芯片保護功能且便于取放的料盤

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202021497999.2
• 申請日: 2020-07-24
• 公開（公告）號: CN213200584U
• 公開（公告）日: 2021-05-14
• 發(fā)明（設計）人: 施小磊;彭琪;郭慶銳
• 申請（專利權）人: 武漢銳科光纖激光技術股份有限公司
• 主分類號: B65D25/10
• 分類號: B65D25/10;F26B5/14
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 呂偉盼

本實用新型涉及芯片測試技術領域，公開了一種具有芯片保護功能且便于取放的料盤，包括基板，所述基板具有用以承載料盒的承載面，所述承載面上設置有限位槽，用以將所述料盒的至少部分容置限位于所述限位槽內。本實用新型實施例提供的具有芯片保護功能且便于取放的料盤的基板上設置有限位槽，在將料盒放置于限位槽時，料盒的至少部分會被容置限位于限位槽內，這樣料盒在具有芯片保護功能且便于取放的料盤上不易出現(xiàn)晃動的情況。

技術領域

本實用新型涉及芯片測試技術領域，特別是涉及一種具有芯片保護功能且便于取放的料盤。

背景技術

芯片廣泛應用于移動終端、計算機設備、人臉識別、智能家居、航空航天等各個領域當中。在芯片的研發(fā)和使用過程中，一般需要對芯片的多項參數(shù)(如光束發(fā)散角、光功率、電流、電壓等)進行測試，以確定芯片的性能和工作狀態(tài)是否滿足要求。但是，現(xiàn)有的芯片測試裝置的自動化程度較低，大部分測試操作過程需要人工操作來完成。

鑒于此，本申請的發(fā)明人設計了一種芯片自動測試臺，該芯片自動測試臺為全自動操作的專業(yè)測試平臺，可實現(xiàn)對單顆芯片的光束發(fā)散角、光功率、電流、電壓等參數(shù)的自動測試。芯片自動測試臺設置有料盤，料盤上的料盒內放置有芯片，在芯片的自動測試的過程中，芯片自動測試臺會通過取料機構自料盒處取放芯片。在芯片自動測試臺的設計過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)若料盒在料盤上出現(xiàn)晃動的情況，不但會造成料盒內的芯片的磕碰，還會影響到取料機構自料盒取放芯片的精確性，造成芯片或表面串聯(lián)金絲的損壞。

實用新型內容

本實用新型實施例提供一種具有芯片保護功能且便于取放的料盤，用于解決或部分解決料盒在料盤上出現(xiàn)晃動的問題。

本實用新型實施例提供一種具有芯片保護功能且便于取放的料盤，包括基板，所述基板具有用以承載料盒的承載面，所述承載面上設置有限位槽，用以將所述料盒的至少部分容置限位于所述限位槽內。

其中，所述基板內部設置有用以與外部真空吸附裝置連通的氣道，所述限位槽的底壁開設有氣孔，所述氣孔與所述氣道連通，用以吸附位于所述限位槽處的料盒。

其中，所述限位槽的底壁凸設有凸臺，所述氣孔設置于所述凸臺上。

其中，所述承載面包括第一功能區(qū)和第二功能區(qū)，所述限位槽包括設置于所述第一功能區(qū)內的第一限位槽以及設置于所述第二功能區(qū)內的第二限位槽，所述第一限位槽用以放置第一料盒，所述第二限位槽用以放置第二料盒且設置有多個。

其中，所述具有芯片保護功能且便于取放的料盤還包括第一料盒和多個第二料盒，所述第一料盒用以放置待測芯片，多個所述第二料盒分別用以放置多個不同等級的已測芯片，所述第一料盒設置于所述第一限位槽處，多個所述第二料盒分別設置于多個所述第二限位槽處。

其中，所述承載面還包括擦水區(qū)，所述擦水區(qū)內設置有吸水件，用以在已測芯片移動至所述擦水區(qū)時，擦除所述已測芯片底部的水漬。

其中，所述吸水件為無塵紙。

其中，所述擦水區(qū)內設置有安裝槽，所述吸水件設置于所述安裝槽處。

其中，所述擦水區(qū)位于所述第一功能區(qū)和所述第二功能區(qū)之間。

其中，所述承載面包括依次相連的兩個第一邊界和兩個第二邊界，所述第一功能區(qū)和所述第二功能區(qū)分別靠近兩個所述第一邊界，所述第一功能區(qū)內沿所述第一邊界的延伸方向間隔設置有多個所述第一限位槽，多個所述第二限位槽沿所述第一邊界的延伸方向和所述第二邊界的延伸方向呈陣列布置。

本實用新型實施例提供的具有芯片保護功能且便于取放的料盤的基板上設置有限位槽，在將料盒放置于限位槽時，料盒的至少部分會被容置限位于限位槽內，這樣料盒在具有芯片保護功能且便于取放的料盤上不易出現(xiàn)晃動的情況。

附圖說明